夏泓
作品数: 17被引量:78H指数:5
  • 所属机构:中国空间技术研究院
  • 所在地区:北京市
  • 研究方向:电子电信

相关作者

张延伟
作品数:78被引量:131H指数:7
供职机构:中国空间技术研究院
研究主题:宇航 可靠性 航天 元器件 芯片
朱恒静
作品数:47被引量:72H指数:5
供职机构:中国空间技术研究院
研究主题:航天 宇航 存储器 加固方法 性能评测
江理东
作品数:18被引量:89H指数:6
供职机构:中国航天
研究主题:插座 元器件 可靠性 同步开关噪声 航天
张磊
作品数:145被引量:85H指数:5
供职机构:中国空间技术研究院
研究主题:卫星 单粒子 航天 天基 宇航
龚欣
作品数:26被引量:39H指数:3
供职机构:中国空间技术研究院
研究主题:芯片 宇航 测试装置 集成电路 空间站
集成电路可靠性升级试验被引量:3
2001年
介绍了进口单片集成电路的质量等级、批次可靠性升级试验及其工程应用事例。提出了升级试验设计主要项目是 :升级筛选试验、B组检验和DPA ;可靠性升级试验是解决高可靠型号工程用电路质量、进度、经费问题的一种有效办法。并且较深入地研究了可靠性升级试验的工作程序和方法 。
江理东夏泓
关键词:可靠性集成电路
一种元器件生产过程控制方法
本发明涉及一种元器件生产过程控制方法,用于元器件生产厂全过程识别及控制,形成过程识别文件的方法。该方法基于生产厂PID建设、PID试运行、用户方PID审查、PID固化、PID维护及PID变更要求的总体流程,将元器件生产过...
王建国夏泓朱恒静张红旗唐民张延伟李海燕蒲瑞民
文献传递
宇航元器件极限评估技术研究被引量:20
2011年
极限评估技术是一种元器件可靠性的新型评估方法,目的在于探求元器件的能力是否能够满足宇航特定的应用环境要求,极限评估对应用于高可靠领域内的元器件质量保证尤为重要。提出了极限评估技术相关概念和理论,总结了极限评估的一般方法,这对元器件的研制和应用具有实用价值并可有效指导元器件质量保证工作。
张洪伟夏泓江理东董宇亮付琬月
关键词:可靠性
宇航用元器件通用规范的设计思路被引量:5
2012年
在分析国内外通用规范现状的基础上,针对国内元器件生产现状以及宇航用户的需求,分析并提出了我国宇航用元器件通用规范的设计思路:包括与现有国军标的关系、质量等级设定、设计与应用说明、认证以及用户方控制要求等顶层考虑,以及鉴定与维持、生产过程控制等具体的要求;并以单片半导体集成电路为例,对通用规范的设计思路进行了详细的阐述。
朱恒静夏泓余振醒宁永成李海燕
航天元器件自主与可控概念及量化研究被引量:12
2013年
提出了航天元器件自主与可控的概念及量化方法,指出在讨论航天元器件时,一般所说的"自主可控",应理解为"自主"与"可控"两个词,二者内涵有一定的交集,但是概念不同。自主注重元器件产品及形成该产品全过程的全部要素不受制于外国或他人,可控注重评估受制于外国或他人的风险可接受或者有规避风险的措施。基于此,提出了采用"要素赋值法"以解决自主程度难以量化的问题。
夏泓李京苑李应选姚全斌李念滨
关键词:航天元器件
欧洲元器件保证标准分析被引量:3
2014年
对欧洲空间产品用元器件保证标准体系进行了分析,介绍了ECSS-Q-ST-60的主要内容,围绕ECSS-Q-ST-60针对元器件保证的7个方面和34个要素,重点分析了其最新版的变化情况,提出了我国宇航元器件保证的建议。
朱恒静夏泓
分系统热循环试验中水汽结露导致元器件失效的典型案例分析
本文通过分系统在热循环试验中失效元器件的典型失效案例的分析,发现在热循环试验中导致元器件失效的原因是试验中没有防结露措施或措施不当造成的;文章分析了热循环试验中水汽结露导致元器件失效的发生机理和对分系统产生的危害,强调了...
张延伟夏泓于庆奎
关键词:元器件可靠性
文献传递
半导体器件铝腐蚀的判别方法研究
1993年
半导体器件内部铝腐蚀是卫星用半导体器件主要的失效模式之一,快速准确地判断铝腐蚀具有重要意义。文章给出了判别方法和程序,并对方法中的关键技术进行研讨。
夏泓江理东姚建廷叶新全
关键词:半导体器件失效模式
宇航元器件结构分析技术研究被引量:21
2012年
宇航元器件的结构分析是对应用于宇航领域的元器件进行可靠性评价的重要技术之一,其目的是获得元器件的设计、工艺和材料等满足评价要求和相关项目运行要求的能力的信息,避免不适当结构的元器件用于宇航。对基于结构单元分解和要素识别的宇航元器件结构分析技术进行了探讨,提出了结构分析的技术流程和工作流程。
张磊夏泓龚欣
片式元件剪切强度试验的测试方向研究
片式元件的剪切力试验是验证和评价电容器粘接强度的一个有效手段,但是对于长方体片式无伯采用不同的测试方向(即在长边上和短边眩施力进行剪切)得到的测试结果可能相差40℅左右,该文从理论和试验的角度研究了两种不同方向对片式元件...
张延伟夏泓于庆奎冯洁何成山
关键词:片式电子元件
文献传递