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广东省科技攻关计划(2006B13301006)

作品数:2 被引量:9H指数:1
相关作者:唐振方张正法卫红赵健彭舒更多>>
相关机构:暨南大学广州市光机电工程研究开发中心更多>>
发文基金:广东省科技攻关计划更多>>
相关领域:理学更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇理学

主题

  • 2篇退火
  • 2篇VO2薄膜
  • 1篇氧化钒薄膜
  • 1篇射频磁控
  • 1篇射频磁控溅射
  • 1篇退火温度
  • 1篇相变
  • 1篇溅射
  • 1篇二氧化钒
  • 1篇二氧化钒薄膜
  • 1篇VO
  • 1篇掺杂
  • 1篇磁控
  • 1篇磁控溅射

机构

  • 2篇暨南大学
  • 1篇广州市光机电...

作者

  • 2篇唐振方
  • 1篇周序乐
  • 1篇赵健
  • 1篇卫红
  • 1篇张正法
  • 1篇彭舒

传媒

  • 1篇人工晶体学报
  • 1篇陕西科技大学...

年份

  • 2篇2008
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
射频磁控溅射工艺制备二氧化钒薄膜被引量:9
2008年
以V2O5陶瓷烧结靶材及射频磁控溅射工艺制备V2O5薄膜,再经氩气气氛退火处理得到VO2薄膜。采用扫描电子显微镜观察不同制备条件下薄膜表面微观形貌特征,拉曼光谱和X射线光电子能谱用来分析确定退火前后薄膜的物相结构及化合价态。结果表明,溅射4h、450℃退火2h制备的薄膜结晶形态良好,VO2纯度高于94%原子分数。
唐振方赵健卫红张正法
关键词:VO2薄膜射频磁控溅射退火
掺杂与退火温度对VO_2薄膜性能的影响
2008年
采用真空蒸发法在普通玻璃表面制备了VO2薄膜,研究了退火温度和掺杂对薄膜表面形貌、晶体结构、电学性能和光学性能的影响.结果表明:经400℃、420℃、450℃、500℃退火得到的VO2薄膜其表面形貌和晶体结构存在明显的差异,其中420℃退火后的薄膜结晶形态良好,主要成分是VO2,在65℃左右表现出明显的电阻突变,常温下在波长1700nm附近薄膜的光透过率达59.9%;在VO2薄膜中掺入W6+,相变温度有所降低,但掺杂使薄膜光透过率降低.
周序乐唐振方彭舒
关键词:VO2薄膜掺杂相变
共1页<1>
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