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浙江省科技计划项目(2007C21018)

作品数：1 被引量：1H指数：1
相关作者：顾伟驷苏英俩杭亮更多>>
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相关领域：电气工程更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电气工程

主题

  • 1篇单片
  • 1篇铁损
  • 1篇硅钢片
  • 1篇ARM7
  • 1篇磁通
  • 1篇磁通密度

机构

  • 1篇浙江工业大学

作者

  • 1篇杭亮
  • 1篇苏英俩
  • 1篇顾伟驷

传媒

  • 1篇机电工程

年份

  • 1篇2009
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
基于ARM7的硅钢片铁损测试仪被引量：1
2009年
铁损是评价硅钢片质量好坏的一个重要指标,介绍了一种运用ARM7智能芯片对单片硅钢片铁损进行自动测量的系统,从理论与实际运用两方面探讨了如何在不同磁通密度下对不同厚度和密度的单片硅钢片的铁损测量,并对系统的主要部分进行了介绍,包括励磁机构、电源以及软件设计。实验结果表明,该铁损测试仪器具有成本低、可靠性高、扩充和维护方便等优点,具有一定的推广应用价值。
杭亮顾伟驷苏英俩
关键词：硅钢片单片铁损磁通密度
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共1页<1>
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