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西安市科技计划项目(CXY08009)

作品数:1 被引量:2H指数:1
相关作者:苏俊宏葛锦蔓更多>>
相关机构:西安工业大学更多>>
发文基金:西安市科技计划项目更多>>
相关领域:理学电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇会议论文
  • 1篇期刊文章

领域

  • 2篇机械工程
  • 2篇理学
  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇干涉图
  • 1篇预处理
  • 1篇数学形态
  • 1篇数学形态学
  • 1篇最小二乘
  • 1篇最小二乘法
  • 1篇膜厚
  • 1篇干涉仪
  • 1篇薄膜厚度
  • 1篇处理技术

机构

  • 3篇西安工业大学

作者

  • 3篇苏俊宏
  • 2篇葛锦蔓
  • 1篇杨利红

传媒

  • 1篇应用光学
  • 1篇2009年先...

年份

  • 3篇2009
1 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
干涉图的预处理技术研究被引量:2
2009年
提出了一种干涉图预处理的新方法。该方法利用数学形态学的方法对干涉图进行有效区域的边缘提取,利用二维快速傅里叶变换迭代法对干涉图进行区域延拓,并采用非加权离散余弦变换最小二乘算法对干涉图进行波面统一,最终恢复出被测物体的表面面形,为后续结果分析奠定了基础。对一个实际SiO2薄膜样片进行了干涉图的预处理。结果表明,通过该算法得到的干涉图预处理结果,与Zygo干涉仪的分析测试结果基本一致。
葛锦蔓苏俊宏
关键词:数学形态学最小二乘法
干涉图处理技术在膜厚测量中的应用
随着科技的进步,现代干涉测量技术具有量程大、分辨率高、精度高以及操作方便等优点,在精密计量、机械加工控制、电子精密机械设备的精确定位等领域得到了广泛的应用。干涉测量技术的基础和关键是干涉图的处理。通过对干涉图处理技术的研...
葛锦蔓苏俊宏
文献传递
基于双波长激光干涉薄膜厚度的全场测试研究
薄膜厚度的全场测试是薄膜制备工艺技术的重要基础,利用双波长激光干涉法可实现薄膜全场厚度的精确测试。介绍了一种双波长激光干涉法全场测试薄膜厚度的系统,建立了膜厚测量的数学模型,提出了小波变换算法进行图像预处理和四步移相等算...
杨利红苏俊宏葛锦曼
关键词:薄膜厚度
文献传递
共1页<1>
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