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国家自然科学基金(11234007)

作品数:3 被引量:1H指数:1
相关作者:于奕杨军杰王嘉维章晓中赵永刚更多>>
相关机构:清华大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划更多>>
相关领域:理学电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 2篇理学
  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电子显微术
  • 1篇多铁性
  • 1篇氧化物
  • 1篇氧化物半导体
  • 1篇态密度
  • 1篇透射电子显微...
  • 1篇微结构
  • 1篇微结构研究
  • 1篇锰氧化物
  • 1篇界面态
  • 1篇界面态密度
  • 1篇介质
  • 1篇介质界面
  • 1篇金属氧化物半...
  • 1篇各向异性
  • 1篇各向异性参数
  • 1篇费米能级
  • 1篇半导体
  • 1篇SQUARE
  • 1篇ANISOT...

机构

  • 1篇清华大学

作者

  • 1篇赵永刚
  • 1篇章晓中
  • 1篇王嘉维
  • 1篇杨军杰
  • 1篇于奕

传媒

  • 2篇Chines...
  • 1篇电子显微学报

年份

  • 2篇2015
  • 1篇2013
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
多铁性HoMnO3外延薄膜的微结构研究
2013年
多铁性六方锰氧化物RMnO3(R=Y,Ho-Lu)具有丰富的结构与物理内涵,是近年来凝聚态物理与材料科学领域的研究热点。本文利用透射电子显微术对钇稳定氧化锆(yttria-stabilized zirconia,YSZ)基底上外延生长的HoMnO3薄膜的微结构进行表征。研究结果表明,c轴取向的HoMnO3薄膜可以在YSZ(111)基底上实现良好的外延。薄膜中的主要缺陷为异相边界(out-of-phase boundary,OPB)。OPB的产生归因于表面台阶机制和形核层机制。OPB缺陷处会出现化学计量比失衡,实验上观察到富Ho和富Mn两种类型的OPB,这些化学计量比失衡的缺陷会对薄膜的电学性能产生影响。本文研究结果有助于深入理解六方锰氧化物薄膜结构与物理性能之间的关系。
于奕章晓中杨军杰王嘉维赵永刚
关键词:多铁性透射电子显微术
Effect of interaction and temperature on quantum phase transition in anisotropic square-octagon lattice被引量:1
2015年
We investigate the effect of interaction, temperature, and anisotropic parameter on the quantum phase transitions in an anisotropic square-octagon lattice with fermions under the framework of the single band Hubbard model through using the combination of cellular dynamical mean field theory and a continuous time Monte Carlo algorithm. The competition between interaction and temperature shows that with the increase of the anisotropic parameter, the critical on-site repulsive interaction for the metal–insulator transition increases for fixed temperature. The interaction–anisotropic parameter phase diagram reveals that with the decrease of temperature, the critical anisotropic parameter for the Mott transition will increase for fixed interaction cases.
保安张雪峰章晓中
关键词:各向异性参数
Fermi level pinning effects at gate–dielectric interfaces influenced by interface state densities
2015年
The dependences of Fermi-level pinning on interface state densities for the metal–dielectric, ploycrystalline silicon–dielectric, and metal silicide–dielectric interfaces are investigated by calculating their effective work functions and their pinning factors. The Fermi-level pinning factors and effective work functions of the metal–dielectric interface are observed to be more susceptible to the increasing interface state densities, differing significantly from that of the ploycrystalline silicon–dielectric interface and the metal silicide–dielectric interface. The calculation results indicate that metal silicide gates with high-temperature resistance and low resistivity are a more promising choice for the design of gate materials in metal-oxide semiconductor(MOS) technology.
洪文婷韩伟华吕奇峰王昊杨富华
关键词:界面态密度费米能级金属氧化物半导体介质界面
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