您的位置: 专家智库 > >

陕西省教育厅科研计划项目(06JK278)

作品数:3 被引量:9H指数:2
相关作者:刘卫国秦文罡田玉祥张伟高爱华更多>>
相关机构:西安工业大学西北工业大学西安电子科技大学更多>>
发文基金:陕西省教育厅科研计划项目西安工业大学校长基金更多>>
相关领域:一般工业技术电子电信理学更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 2篇一般工业技术
  • 1篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 1篇等离子体化学...
  • 1篇电压
  • 1篇电压响应
  • 1篇电子束蒸发
  • 1篇折射率
  • 1篇探测器
  • 1篇特性参数
  • 1篇透过率
  • 1篇热释电
  • 1篇热释电探测器
  • 1篇椭偏仪
  • 1篇化学气相
  • 1篇化学气相沉积
  • 1篇硅薄膜
  • 1篇非晶硅
  • 1篇非晶硅薄膜
  • 1篇C-V特性
  • 1篇HFO2薄膜
  • 1篇LABVIE...
  • 1篇沉积速率

机构

  • 3篇西安工业大学
  • 1篇西北工业大学
  • 1篇西安电子科技...

作者

  • 2篇秦文罡
  • 2篇刘卫国
  • 1篇徐均琪
  • 1篇惠迎雪
  • 1篇周顺
  • 1篇杨陈
  • 1篇高爱华
  • 1篇张伟
  • 1篇叶林
  • 1篇田玉祥

传媒

  • 2篇西安工业大学...
  • 1篇真空

年份

  • 1篇2009
  • 1篇2008
  • 1篇2007
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
氧气气氛对氧化铪薄膜性能的影响被引量:4
2009年
在有氧和无氧气氛条件下,采用真空电子束热蒸发技术在P-Si(100)硅衬底上制备了HfO2薄膜.利用X射线光电子能谱,对薄膜的化学组分进行表征,利用椭偏法对薄膜的膜厚和折射率进行测定,利用紫外可见光谱测量了薄膜的在200 nm^1 200 nm范围内的光透过率,并计算出其光学能隙,利用C-V测试系统对退火后薄膜的介电性能进行测试.结果表明,有氧和无氧条件下制备的薄膜中组分含量存在明显差异,相比于无氧条件下制备的薄膜,有氧条件下制备的薄膜中含有较少的铪单质,因而在可见光范围内具有较高透光率和光学能隙,较低的折射率和更优异的介电性能.
惠迎雪杨陈田玉祥徐均琪
关键词:电子束蒸发HFO2薄膜透过率椭偏仪C-V特性
非晶硅薄膜的沉积速率研究被引量:1
2008年
利用PECVD方法在硅片上制备了非晶硅薄膜,通过正交实验得出影响薄膜沉积速率和折射率的主要参数为气体流量和射频功率,分别研究了这两个参数对沉积速率和折射率的影响。结果表明:当气体流量低于240 sccm时,薄膜沉积速率随气体流量增加而增加,而折射率则随之减小;当流量大于240 sccm时,沉积速率出现饱和,折射率的变化并不明显。当射频功率低于120 W时,薄膜沉积速率随着功率的提高而增大,而折射率则随之减小;当功率大于120 W并进一步提高时,沉积速率成下降趋势,折射率则随之增大。
周顺秦文罡叶林刘卫国
关键词:非晶硅等离子体化学气相沉积沉积速率折射率
热释电探测器特性参数动态响应测量被引量:4
2007年
分析了热释电探测器对单脉冲辐射的响应,并组建了热释电探测器特性参数动态响应测试系统,利用相关检测原理检测热释电探测器的电压响应信号,提高了信噪比.设计了基于LabVIEW的测试软件,用此系统测试了热释电探测器对脉冲辐射的电压响应率Rv和归一化探测率D*,为热释电探测器参数测试提供了一种实用的全自动测试手段.
高爱华刘卫国张伟秦文罡
关键词:热释电探测器特性参数LABVIEW
共1页<1>
聚类工具0