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国家重点实验室开放基金(K2011-10)

作品数:2 被引量:1H指数:1
相关作者:吕通吕且妮陈益亮靳文华张宇佳更多>>
相关机构:天津大学更多>>
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相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇照明
  • 1篇双光束
  • 1篇光束
  • 1篇测量系统

机构

  • 2篇天津大学

作者

  • 2篇吕且妮
  • 2篇吕通
  • 1篇靳文华
  • 1篇陈益亮
  • 1篇王祥
  • 1篇陈婷婷
  • 1篇张宇佳

传媒

  • 2篇中国激光

年份

  • 1篇2015
  • 1篇2013
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
双光束照明的干涉粒子成像粒子尺寸测量
2015年
设计一种两光束相向照射,在散射角θ=90°方向记录的干涉粒子成像测量实验系统,利用模版匹配相关方法提取粒子两点像的位置坐标,根据粒子像位置坐标,粒子掩模图的形状和大小提取出单个粒子两点像。再对每个粒子两点像进行自相关、Gaussian插值提取两点像之间距离,进而计算得到粒子尺寸大小,其测量精度可达到亚像素精度。对标称值为45 mm的标准粒子进行了测量,粒径测量值为(46.54±0.50)mm,相对误差3.42%。实验结果表明了该方法的可行性。
吕且妮陈婷婷吕通王祥张宇佳
干涉粒子成像测量系统可测粒径范围及精度分析被引量:1
2013年
基于干涉粒子成像(IPI)测量公式,分析了影响IPI系统中最大和最小可测粒子尺寸以及粒径测量精度的因素。对一给定的CCD、成像透镜、入射光波波长、光束宽度,分析了物距和离焦距离对粒子干涉条纹图大小的影响,进而分析了对粒径测量精度和可测范围的影响。得出了在满足测量范围要求的条件下,尽量采用相对较大的收集角,干涉条纹图尺寸越大,粒径测量误差越小,但必须考虑条纹图重叠,且对条纹间距进行插值得到亚像素精度,给出了对标准粒子测量实验光路系统设计实例和测量结果。
吕且妮吕通靳文华陈益亮
共1页<1>
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