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国家自然科学基金(51302215)

作品数:17 被引量:17H指数:2
相关作者:苗瑞霞赵健谢端更多>>
相关机构:西安邮电大学西北大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金陕西省教育厅科研计划项目陕西省自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信理学一般工业技术化学工程更多>>

文献类型

  • 17篇中文期刊文章

领域

  • 8篇电子电信
  • 6篇理学
  • 3篇一般工业技术
  • 2篇化学工程
  • 1篇机械工程
  • 1篇电气工程
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 5篇掺杂
  • 3篇电子输运
  • 3篇散射
  • 3篇石墨烯纳米带
  • 3篇输运
  • 3篇位错
  • 3篇纳米
  • 3篇纳米带
  • 2篇英文
  • 2篇整流
  • 2篇灵敏度
  • 2篇敏度
  • 2篇拉曼
  • 2篇拉曼散射
  • 2篇分子束
  • 2篇分子束外延
  • 2篇高灵敏
  • 2篇高灵敏度
  • 2篇Δ掺杂
  • 2篇SIC

机构

  • 14篇西安邮电大学
  • 1篇西北大学

作者

  • 5篇苗瑞霞
  • 1篇谢端
  • 1篇赵健

传媒

  • 3篇Chines...
  • 3篇科技创新导报
  • 2篇发光学报
  • 2篇电子元件与材...
  • 1篇西北工业大学...
  • 1篇物理学报
  • 1篇原子与分子物...
  • 1篇计算机工程与...
  • 1篇半导体光电
  • 1篇集成电路应用
  • 1篇传感器与微系...

年份

  • 1篇2023
  • 2篇2022
  • 3篇2021
  • 1篇2020
  • 1篇2019
  • 2篇2018
  • 1篇2017
  • 1篇2016
  • 3篇2015
  • 2篇2013
17 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
Atomic-layer-deposited Al_2O_3 and HfO_2 on InAlAs: A comparative study of interfacial and electrical characteristics被引量:3
2016年
Al2O3and HfO2thin films are separately deposited on n-type InAlAs epitaxial layers by using atomic layer deposition(ALD).The interfacial properties are revealed by angle-resolved x-ray photoelectron spectroscopy(AR-XPS).It is demonstrated that the Al2O3layer can reduce interfacial oxidation and trap charge formation.The gate leakage current densities are 1.37×106A/cm2and 3.22×106A/cm2at+1V for the Al2O3/InAlAs and HfO2/InAlAs MOS capacitors respectively.Compared with the HfO2/InAlAs metal-oxide-semiconductor(MOS) capacitor,the Al2O3/InAlAS MOS capacitor exhibits good electrical properties in reducing gate leakage current,narrowing down the hysteresis loop,shrinking stretch-out of the C-V characteristics,and significantly reducing the oxide trapped charge(Qot) value and the interface state density(Dit).
武利翻张玉明吕红亮张义门
石墨烯纳米带整流器件电子输运性质研究被引量:6
2021年
运用密度泛函理论和非平衡格林函数结合的方法,研究中心散射区长度对右电极中心N掺杂的扶手椅型石墨烯纳米带电子输运特性的影响。研究表明:在正向偏压下,不同中心散射区长度的扶手椅型石墨烯纳米带电流随着电压的增加而增大;而在负向偏压下,随着中心散射区长度的增加,偏压窗内的透射系数逐渐减小,电流不随电压的变化而变化,电流值接近为零,器件呈现出明显的整流特性。所以,在一定长度范围内,随着中心散射区长度的增加,器件的整流特性逐渐增强。出现该现象的原因可能是负向偏压下偏压窗内没有透射峰引起的,该研究结果对未来石墨烯整流器件的设计具有重要的意义。
叶海安苗瑞霞郭三栋王少青卜习习邵奇
关键词:石墨烯纳米带
n型4H-SiC材料中位错的电学特性研究
2015年
研究位错的电学特性对于研究器件可靠性具有重要意义。文章利用拉曼散射技术在室温条件下研究了n型4H-SiC材料中位错电学特性。结果表明:螺型位错(TSD)、刃型位错(TED)的电子浓度均高于无位错区,且TSD电子浓度高于TED。结合位错结构分析认为:TED中心的半原子面存在不饱和Si键,该键通过吸附电子使其饱和并达到稳定状态,因此TED中心俘获了比无位错区更多的电子;TSD结构中,位错区域原子间的拉应力导致该区域Si原子电负性增高,因而俘获电子形成比无位错区高的电子分布。
苗瑞霞
关键词:电学特性拉曼散射
微波辅助烧结Al掺杂ZnO陶瓷的缺陷和光学性能研究被引量:1
2022年
采用微波辅助烧结法在空气气氛中以1100℃烧结20 min制备出不同Al_(2)O_(3)掺杂量(摩尔分数0%~6%)的ZnO陶瓷。通过XRD、SEM、霍尔实验、UV-Vis光谱、Raman光谱、PL光谱的表征,研究了Al_(2)O_(3)掺杂量的变化对微波辅助烧结ZnO陶瓷的物相结构、微观组织、电学性能、光学性能的影响。实验结果表明,Al_(2)O_(3)掺杂并没有改变ZnO陶瓷的六方纤锌矿结构,随着Al_(2)O_(3)掺杂量的增加,在ZnO晶界处逐渐形成ZnAl_(2) O_(4)尖晶石相,ZnO晶粒尺寸逐渐减小;微波辅助烧结所制备ZnO陶瓷的室温电阻率和光学带隙随Al_(2)O_(3)掺杂量的增加呈先减小后增加的趋势;当Al_(2)O_(3)掺杂量为摩尔分数4%时,所制备ZnO陶瓷的综合性能最好,样品的室温电阻率为1783Ω·cm,光学带隙为3.04 eV;随着Al_(2)O_(3)掺杂量的增加,Al_(Zn)施主缺陷和深能级缺陷浓度增加,所制备ZnO陶瓷的Raman特征峰强度减弱,PL发光峰强度则呈现增强的趋势。Al_(Zn)缺陷的产生有助于载流子浓度的增加和杂质带的形成,从而改善微波辅助烧结所制备ZnO陶瓷的电学性能和光学性能。
王晨瑞苗瑞霞张德栋李永锋
关键词:光学性能
基于RISC-V的神经网络卷积算法的研究与优化
2022年
为加速嵌入式平台ARM CMSIS-NN上的神经网络卷积算法,提出一种面向开源RISC-V(精简指令级架构第五代)的卷积算法。采用RISC-V的P拓展指令集中特有的8位数据操作指令,优化ARM CMSIS-NN(微处理器软件接口标准)库中因为缺少DSP指令8位数据操作指令而带来的内存使用效率不高的不足。经实验仿真和下板验证,在蜂鸟E203 FPGA开发板上以16 MHz的时钟频率完成功能验证,与同等实验室实验情况下的arm-cortex-m3等设备相比,性能提升约12倍。
苗瑞霞张雪兰谭星浩方华启
裁剪层数对石墨烯纳米带电学输运性能的研究被引量:1
2019年
基于密度泛函理论和非平衡格林函数结合的方法,研究了裁剪层数对扶手椅型石墨烯纳米带电子输运性质的影响。研究结果表明,裁剪不同层数对扶手椅型石墨烯纳米带的整流特性会产生不同的影响。当裁剪层数为1,2,3,5层时,器件的电流-电压曲线呈现为准对称结构,器件产生较弱的整流现象;当裁剪层数为4层时,正负偏压下电流的对称性消失。在正向偏压下,电流随电压的增加而增大;而负向偏压下,电流几乎不随电压的变化而变化,可以看出器件产生了明显的整流现象。也就是说,可以通过裁剪的方式对分子器件的整流特性进行调整和改进。该研究结果对未来石墨烯整流器件的设计具有指导意义。
卜习习苗瑞霞叶海安郭三栋王少青
关键词:密度泛函理论石墨烯纳米带裁剪电子输运分子器件
低位错密度的XRD无损表征研究被引量:2
2015年
当半导体材料中位错密度大于107cm-2,难以用传统的腐蚀法进行测量时,可以利用高分辨X射线衍射(XRD)峰的半高宽估算材料中位错密度。该文利用该方法研究了位错密度小于107cm-2时是否适用的问题。结果表明,材料中位错密度较低(5.3×105cm-2)时,利用XRD测得的位错密度值与实际值存在3个数量级的偏差。分析认为,当晶体中位错密度较低时,参与衍射的晶面就越多,衍射峰就越窄,当位错加宽值与仪器精度接近时,就会产生较大偏差。因此在低密度位错时,利用XRD方法测量材料中位错密度时容易产生较大偏差。
苗瑞霞
关键词:XRD4H-SIC位错密度
Electronic structure and optical properties of Ge-and F-doped α-Ga2O3:First-principles investigations被引量:1
2020年
The prospect ofα-Ga2O3 in optical and electrical devices application is fascinating.In order to obtain better performance,Ge and F elements with similar electronegativity and atomic size are selected as dopants.Based on density functional theory(DFT),we systematically research the electronic structure and optical properties of dopedα-Ga2O3 by GGA+U calculation method.The results show that Ge atoms and F atoms are effective n-type dopants.For Ge-dopedα-Ga2O3,it is probably obtained under O-poor conditions.However,for F-dopedα-Ga2O3,it is probably obtained under O-rich conditions.The doping system of F element is more stable due to the lower formation energy.In this investigation,it is found that two kinds of doping can reduce theα-Ga2O3 band gap and improve the conductivity.What is more,it is observed that the absorption edge after doping has a blue shift and causes certain absorption effect on the visible region.Through the whole scale of comparison,Ge doping is more suitable for the application of transmittance materials,yet F doping is more appropriate for the application of deep ultraviolet devices.We expect that our research can provide guidance and reference for preparation ofα-Ga2O3 thin films and photoelectric devices.
束体康苗瑞霞郭三栋王少青赵晨鹤张雪兰
关键词:DOPING
高灵敏度InAs/AlSb量子阱的霍尔器件(英文)
2017年
用分子束外延在Ga As(001)衬底上生长了两个量子阱结构的霍尔器件,一个是没有掺杂的量子阱结构,一个是Si-δ掺杂的量子阱结构。研究了霍尔器件的面电子浓度和电子迁移率与温度的关系。结果表明,在300 K下,Si-δ掺杂的量子阱结构的电子迁移率高达25 000 cm^2·V^(-1)·s^(-1),并且该器件输入电阻和输出电阻较低。同时,Si-δ掺杂的量子阱结构霍尔器件的敏感度好于没有掺杂的量子阱结构霍尔器件。
武利翻苗瑞霞李永峰杨小峰
关键词:Δ掺杂分子束外延
温度对4H-SiC拉曼散射模的影响
2013年
在极端环境中应用的SiC器件,稳定性会受到温度的严重影响,其主要原因与材料晶格动力学因素随温度的变化有关。为了研究SiC单晶材料晶格动力学对温度的依赖关系,该文利用拉曼散射技术对材料4H-SiC材料进行了从30-300K温度范围的光谱测量。结果表明,拉曼光谱的声学模和光学模峰位均出现红移现象,但前者红移量较大。分析认为:声学模峰位红移的原因主要是由于晶格振动恢复力随温度升高而减小,使振动频率降低所致;而光学模峰位红移则是由于原子相对运动随着温度升高而加剧,减弱了原子和晶胞之间的相互作用,因而引起振动频率的降低。声学模较光学模峰位红移量小的主要原因是由于声学模对应的原子质量相对较大,由于温度对质量较大的影响程度要比质量较轻的低,因此声学模的红移量较光学模的小。
苗瑞霞
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