国家自然科学基金(61275019)
- 作品数：4 被引量：4H指数：1
- 相关作者：吕且妮吕通陈益亮靳文华张宇佳更多>>
- 相关机构：天津大学珠海真理光学仪器有限公司教育部更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家重点实验室开放基金更多>>
- 相关领域：电子电信理学机械工程更多>>
- 基于散射光偏振分布差的颗粒尺寸及折射率测量被引量：4
- 2021年
- 提出一种基于颗粒散射光强正交分布差的颗粒尺寸和折射率同时测量方法。该方法利用颗粒散射光的垂直/平行分量和预设折射率,通过改进的Chahine算法反演得到粒径分布。根据所得粒径分布,计算得到平行/垂直分量,并与测量的平行/垂直分量比对,计算其拟合残差。遍历可能的折射率,使拟合残差趋于无穷小时,所对应的折射率即为颗粒的折射率,对应的粒度分布即为样品粒度分布。对聚丙乙烯标准颗粒、碳化硅及石墨样品进行测量,测量结果显示:对无吸收颗粒,折射率测量准确,吸收性颗粒虚部测量准确,使用所得到折射率测量值可得到准确的粒度分布。
- 张晨雨吕且妮张福根
- 关键词：散射MIE理论
- 干涉粒子成像技术可测粒径上限分析
- 2023年
- 从实验上研究了干涉粒子成像技术(IPI)的最大可测粒子尺寸.分析了同一视场中不同物面导致的物距变化对IPI最大可测粒径的影响.搭建了单光束照射的IPI实验系统,对粒子直径为51μm和110 μm的聚苯乙烯混合粒子场进行测量,分析了同一视场内不同采集区域的最大可测粒径.实验结果表明,IPI技术最大可测粒径受实验系统物距影响,对于一固定参数的实验系统,同一视场内不同采集区域的最大可测粒径不同.
- 付春帅吕且妮刘浩刘浩
- 关键词：散射
- 干涉粒子成像测量系统可测粒径范围及精度分析被引量：1
- 2013年
- 基于干涉粒子成像(IPI)测量公式,分析了影响IPI系统中最大和最小可测粒子尺寸以及粒径测量精度的因素。对一给定的CCD、成像透镜、入射光波波长、光束宽度,分析了物距和离焦距离对粒子干涉条纹图大小的影响,进而分析了对粒径测量精度和可测范围的影响。得出了在满足测量范围要求的条件下,尽量采用相对较大的收集角,干涉条纹图尺寸越大,粒径测量误差越小,但必须考虑条纹图重叠,且对条纹间距进行插值得到亚像素精度,给出了对标准粒子测量实验光路系统设计实例和测量结果。
- 吕且妮吕通靳文华陈益亮
- 双光束照明的干涉粒子成像粒子尺寸测量
- 2015年
- 设计一种两光束相向照射,在散射角θ=90°方向记录的干涉粒子成像测量实验系统,利用模版匹配相关方法提取粒子两点像的位置坐标,根据粒子像位置坐标,粒子掩模图的形状和大小提取出单个粒子两点像。再对每个粒子两点像进行自相关、Gaussian插值提取两点像之间距离,进而计算得到粒子尺寸大小,其测量精度可达到亚像素精度。对标称值为45 mm的标准粒子进行了测量,粒径测量值为(46.54±0.50)mm,相对误差3.42%。实验结果表明了该方法的可行性。
- 吕且妮陈婷婷吕通王祥张宇佳
