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中国工程物理研究院科学技术发展基金(2009B0301026)

作品数：1 被引量：2H指数：1
相关作者：张伟光胡广春更多>>
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题名
作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇机械工程
  • 1篇理学

主题

  • 1篇数值模拟
  • 1篇轫致辐射
  • 1篇值模拟

机构

  • 1篇中国工程物理...

作者

  • 1篇胡广春
  • 1篇张伟光

传媒

  • 1篇光谱学与光谱...

年份

  • 1篇2011
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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基于X射线光谱测定法分析氚深度的模拟研究被引量：2
2011年
氚是一种重要的聚变材料,在军事和民用方面都有广泛的用途,氚在薄膜靶中的浓度和深度研究是一项重要的课题。文章建立了氚β射线诱发X射线光谱的模拟方法,分析了氚β射线诱发X射线光谱与氚的浓度和深度分布的关系,研究表明氚在薄膜靶中浓度和深度分布与测定光谱存在对应关系,这为利用X光谱反解氚含量和深度分布奠定了基础。
胡广春张伟光
关键词：轫致辐射数值模拟
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