国家高技术研究发展计划(2006AA804312)
- 作品数：2 被引量：10H指数：2
- 相关作者：王瑞荣陈伟民董佳钦傅思祖熊俊更多>>
- 相关机构：中国工程物理研究院重庆大学更多>>
- 发文基金：国家高技术研究发展计划更多>>
- 相关领域：机械工程理学电子电信更多>>
- 高分辨X射线晶体谱仪及其在激光等离子体中的应用被引量：7
- 2008年
- 对椭圆型聚焦晶体谱仪配X射线CCD相机的X射线谱测量系统进行了优化设计。优化设计后的椭圆型聚焦晶体谱仪系统的工作距离981.56mm和摄谱范围0.133～0.756nm,并具有很好的谱分辨本领(λ/Δλ≥1000)和信噪比。新设计的椭圆型聚焦晶体谱仪首次在"神光Ⅱ"X光激光靶室上成功地获得了激光等离子体谱线信息并辨认和归类了一些离子的谱线,同时还给出了实验测定的谱仪能量分辨率。其中一些离子谱线诸如类离子共振线、伴线、互组合线和Ly-α线谱可为下一步诊断激光等离子体的电子温度和离子密度的空间分布轮廓打下了坚实基础。
- 王瑞荣陈伟民董佳钦熊俊傅思祖
- 关键词：X射线光学激光等离子体
- 椭圆型晶体谱仪谱测量的解谱被引量：4
- 2009年
- 描述了椭圆型晶体谱仪配X射线CCD相机的X射线谱测量系统(EBCS-XCCD),研究了CCD相机记录信号的解谱处理方法,推出了对实测原始谱曲线辨认或标识值的计算公式及激光等离子体辐射X射线在某一波长光谱强度的公式,使之应用在激光打靶产生的等离子体源辐射X射线谱的回推,辨认出了激光等离子体X射线源能谱,并与文献[1]的结果进行了比较,结果基本一致。测试结果证实了解谱方法的可行性,表明X射线CCD相机适用于椭圆型晶体谱仪的光谱测量记录。在已知晶体的积分反射率、滤片透射率和CCD探测效率的条件下,可以获得X射线源光谱强度,为下一步诊断激光等离子体的电子温度和离子密度的空间分布轮廓和进一步细化X射线激光研究奠定了基础。
- 王瑞荣陈伟民
- 关键词：X射线源晶体谱仪
