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国家自然科学基金(50372007)

作品数:12 被引量:39H指数:3
相关作者:朱宏喜毛卫民冯惠平吕反修陈冷更多>>
相关机构:北京科技大学河南科技大学河南省有色金属材料科学与加工技术重点实验室更多>>
发文基金:国家自然科学基金博士科研启动基金更多>>
相关领域:一般工业技术理学化学工程更多>>

文献类型

  • 12篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 7篇一般工业技术
  • 5篇理学
  • 1篇化学工程

主题

  • 11篇金刚石薄膜
  • 9篇织构
  • 7篇孪晶
  • 5篇金刚石
  • 5篇刚石
  • 5篇CVD
  • 5篇CVD金刚石
  • 5篇CVD金刚石...
  • 4篇电子背散射衍...
  • 2篇气相沉积
  • 2篇取向差
  • 2篇晶体
  • 2篇晶体生长
  • 2篇化学气相
  • 2篇化学气相沉积
  • 2篇EBSD
  • 2篇残余应力
  • 1篇弹性模量
  • 1篇形貌
  • 1篇原子

机构

  • 10篇北京科技大学
  • 5篇河南科技大学
  • 3篇河南省有色金...
  • 2篇大庆职业学院

作者

  • 11篇朱宏喜
  • 10篇毛卫民
  • 6篇冯惠平
  • 5篇吕反修
  • 2篇赵清坡
  • 2篇刘玉亮
  • 2篇陈冷
  • 1篇任凤章
  • 1篇张建升
  • 1篇谢秋风
  • 1篇田保红
  • 1篇李全安
  • 1篇顾超
  • 1篇王强松

传媒

  • 3篇科学技术与工...
  • 2篇无机材料学报
  • 2篇物理测试
  • 1篇物理学报
  • 1篇材料保护
  • 1篇人工晶体学报
  • 1篇中国体视学与...
  • 1篇Journa...

年份

  • 1篇2011
  • 3篇2009
  • 2篇2008
  • 3篇2007
  • 1篇2006
  • 3篇2005
12 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
金刚石薄膜残余应力的X射线透射测量法被引量:13
2005年
用X射线衍射透射法测量了不同沉积工艺CVD自支撑金刚石薄膜的残余应力,并对应力测试结果进行初步分析。与常规法相比,透射法直接测量薄膜表面不同方向的正应变,计算出正应力值,不需要复杂的转换计算,测量过程简捷、准确,克服了常规法的不足,有利于推动薄膜残余应力的研究。
朱宏喜毛卫民冯惠平
关键词:金刚石薄膜残余应力
Relationship between texture and residual macro-strain in CVD diamond films based on phenomenological analysis被引量:1
2008年
The relationship between texture and elastic properties of chemical vapor deposition (CVD) diamond films was analyzed based on the phenomenological theory, which reveals the influence of crystalline orientation and texture on the residual macro-strain and macro-stress. The phenomenological calculations indicated that the difference in Young's modulus could be 15% in single dia-mond crystals and 5% in diamond films with homogeneously distributed strong fiber texture. The experimentally measured residual strains of free-standing CVD diamond films were in good agreement with the correspondingly calculated Young's modulus in con-nection with the multi-fiber textures in the films, though the difference in Young's modulus induced by texture was only around 1%. It is believed that texture should be one of the important factors influencing the residual stress and strain of CVD diamond films.
Weimin MaoHongxi ZhuLeng ChenHuiping Feng
关键词:化学沉淀
CVD金刚石薄膜的织构与显微组织研究
2007年
对直流电弧等离子喷射化学气相沉积法(CVD)制备的自支撑金刚石薄膜,用X射线衍射测量了薄膜织构,并用扫描电镜观察了薄膜显微组织。发现金刚石薄膜的织构为{110}、{111}、{112}和{221}等纤维织构。实验结果表明,金刚石薄膜比较致密并且晶形比较完整,不同生长因子对应不同立方体-八面体几何形状。分析和讨论了金刚石薄膜的制备工艺参数如衬底温度和甲烷浓度对其织构和显微组织产生的影响。
陈冷张建升毛卫民
关键词:金刚石薄膜织构显微组织
CVD自支撑金刚石薄膜中的宏观织构与微观孪晶被引量:10
2006年
采用背散射电子取向成像、扫描电镜、X射线衍射等手段研究了CVD自支撑金刚石膜的宏观织构、微观组织及晶粒取向的演化过程.薄膜制备时的气氛纯度较低,这是引起本文金刚石膜中发现大量孪晶的一个重要原因.杂质原子会降低金刚石的层错能,从而降低孪晶界的形成障碍,促进孪晶生成.频繁的孪晶导致{100}织构转向{122}织构,并弱化薄膜织构, 使性能趋向各向同性.{110}取向的晶粒孪晶后仍具有{110}取向,因而在多重孪晶出现时仍可保持一定的稳定性.
毛卫民朱宏喜陈冷冯惠平吕反修
关键词:金刚石膜织构微观结构孪晶
孪晶对CVD自支撑金刚石薄膜微区织构的影响分析
2005年
利用电子背散射衍射技术检测分析了CVD自支撑金刚石薄膜侧面微区织构和孪晶,计算了{100}、{110}、{111}、{122}、{447}、{148}晶面平行薄膜表面的织构在薄膜生长过程中各阶段所占的比例。研究结果表明,不稳定的沉积温度不利于{100}、{110}、{111}织构的形成,孪晶造成了{122}、{447}、{148}织构。
朱宏喜毛卫民冯惠平
关键词:金刚石薄膜织构电子背散射衍射孪晶
CVD金刚石薄膜孪晶形成的原子机理分析被引量:1
2007年
采用X射线衍射技术、电子背散射衍射技术和扫描电镜分别观察了不同甲烷浓度条件下沉积的CVD自支撑金刚石薄膜的宏观织构、晶界分布和表面形貌.研究了一阶孪晶在金刚石晶体{111}面生长的原子堆垛过程.结果表明,由于一阶孪晶〈111〉60°的取向差关系以及{111}面的原子堆垛结构,使{111}面上容易借助碳原子的偏转沉积产生一阶孪晶.低甲烷浓度时,碳原子倾向于在表面能较低的{111}面沉积,为孪晶的形成提供了便利,且高频率孪晶使薄膜织构强度减弱.甲烷浓度升高使生长激活能较小的{001}面成为主要前沿生长面,因而只有〈001〉晶向平行薄膜法向的晶粒能够不断长大,因此孪晶形核概率明显减小.另外,在薄膜中发现二阶孪晶,并对二阶孪晶的形成进行了分析.
朱宏喜毛卫民冯惠平吕反修I.I.VlasovV.G.RalchenkoA.V.Khomich
关键词:金刚石薄膜孪晶取向差
甲烷浓度对CVD金刚石薄膜晶体学生长过程的影响被引量:11
2007年
采用X射线衍射技术、电子背散射衍射技术和扫描电镜分别观察了不同甲烷浓度条件下沉积的CVD自支撑金刚石薄膜的宏观织构、微区晶界分布和表面形貌.研究了金刚石晶体{100}面和{111}面生长的晶体学过程.研究表明,{100}面通过吸附活性基团CH2 2-,而{111}面通过交替吸附活性基团CH3 -和CH3-后脱氢堆积碳原子.低甲烷浓度时,{111}面表面能低于{100}面,使{111}面生长略快于{100}面.甲烷浓度升高,动力学作用增强使{100}面生长明显快于{111}面,使金刚石薄膜产生{100}纤维织构;同时显露的{100}面平行于薄膜表面,竞争生长使位于晶体侧面的{111}面由于相互覆盖而减小,形成了不同于单晶体自由生长的薄膜表面形貌组织.
朱宏喜毛卫民冯惠平吕反修Vlasov I IRalchenko V GKhomich A V
关键词:金刚石薄膜织构晶体生长
CVD金刚石薄膜微区孪晶的研究被引量:1
2009年
采用扫描电镜观察了金刚石薄膜的表面组织形貌,使用电子背散射衍射(EBSD)技术检测了金刚石薄膜中的微区孪晶界分布。从晶体取向的角度研究了孪晶对金刚石薄膜微观织构影响的机理。结果表明,金刚石薄膜中存在大量孪晶,在薄膜生长过程中孪晶界比例逐渐增加。存在高阶孪晶转变现象,高频率孪晶会影响到薄膜的织构。
朱宏喜鱼敏英刘玉亮王强松
关键词:金刚石薄膜孪晶电子背散射衍射织构
CVD自支撑金刚石薄膜微观孪晶的EBSD研究被引量:1
2008年
利用电子背散射衍射、扫描电镜和X射线衍射技术研究了CVD自支撑金刚石薄膜的孪晶组织形貌、孪晶界和晶体取向差分布。研究表明,金刚石薄膜中存在一阶和二阶孪晶,不同的孪晶取向转变过程能形成不同的孪晶组织形貌,高频率的孪晶能对薄膜织构产生明显影响。
朱宏喜毛卫民吕反修李全安郭辉
关键词:金刚石薄膜孪晶电子背散射衍射取向差
CVD自支撑金刚石薄膜微区织构的EBSD检测分析
利用电子背散射衍射技术检测分析了CVD自支撑金刚石薄膜侧面微区织构和孪晶,计算了{100}、{110}、{111}、{122}、{447}、{148}晶面平行薄膜表面的织构在薄膜生长过程中各阶段所占的比例。研究结果表明,...
朱宏喜毛卫民冯惠平
关键词:金刚石薄膜织构电子背散射衍射孪晶
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