国家自然科学基金(60831160526)
- 作品数：2 被引量：18H指数：2
- 相关作者：李晓维韩银和靳松李华伟刘军更多>>
- 相关机构：中国科学院中国科学院研究生院合肥工业大学更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划国家高技术研究发展计划更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术更多>>
- 考虑工作负载影响的电路老化预测方法被引量：16
- 2010年
- 晶体管老化效应已成为影响集成电路可靠性的重要因素.文中基于晶体管老化效应的物理模型,提出一种电路老化分析框架来预测集成电路在其服务生命期内的最大老化.首先计算出在最坏操作情况下电路老化的上限值;随后通过考虑工作负载和电路的逻辑拓扑对老化效应的影响,采用非线性规划求得会导致最大电路老化的最差占空比组合.实验结果表明,与同类方法相比,该老化分析框架对电路老化的预测具有更高的精度,更接近于电路在实际工作条件下的老化情况.
- 靳松韩银和李华伟李晓维
- 关键词：占空比
- 面向高可靠片上网络通信的低成本可重构路由算法
- 为了满足系统对通信带宽的要求,片上网络逐渐取代总线成为当前多核及众核系统的主流互连方案.然而,由于芯片特征尺寸的不断减小,芯片内发生故障的概率显著增加.为了提供可靠的片上通信,本文提出了一种低成本的可重构路由算法.通过对...
- 付斌章韩银和李华伟李晓维
- 关键词：容错路由
- 文献传递
- 一种基于数据通路挽救的高可靠片上互联网络设计
- NoC成为未来大规模集成电路中最有前景的片上互联架构,然而随着工艺尺寸迈入纳米尺度,永久性错误如生产缺陷、器件老化等使得NoC越来越容易出错,并导致整个系统崩溃,NoC容错设计面临着巨大的挑战.目前的片上互联结构主要通过...
- 刘成张磊韩银和李晓维
- 关键词：片上网络容错
- 文献传递
- 动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法被引量：2
- 2010年
- 为减少测试数据存储容量,提出一种动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法.使用3个扫描切片作为参考切片,若扫描切片与参考切片相容时,仅需2位或4位就可编码这个扫描切片,否则这个扫描切片将替换一个参考切片;当扫描切片与多个参考切片相容时,提出了有选择的相容合并策略,以进一步提高压缩率.实验结果表明,与同类方法相比,文中方法具有更高的测试压缩率.
- 刘军韩银和李晓维
- 关键词：测试数据压缩压缩率
- 三维芯片的测试技术研究进展
- 三维芯片设计通过垂直集成大大提升了芯片的集成度,成为当前半导体产业发展最快的技术之一,被认为是一种延续摩尔定律增长趋势的新方法.然而,对于新兴的三维芯片,如何测试是个重要问题,本文介绍了三维芯片测试的最新进展.文章首先介...
- 韩银和张磊李晓维
- 关键词：晶圆扫描链测试访问机制
- 文献传递
