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国家重点实验室开放基金(SKL2012-17)

作品数:1 被引量:0H指数:0
相关作者:徐进张光超更多>>
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相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇单晶
  • 1篇单晶硅
  • 1篇直拉单晶硅
  • 1篇

机构

  • 1篇浙江大学
  • 1篇厦门大学

作者

  • 1篇张光超
  • 1篇徐进

传媒

  • 1篇物理学报

年份

  • 1篇2013
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
直拉单晶硅中洁净区形成后铜沉淀行为的研究
2013年
本文研究了直拉单晶硅中形成洁净区后过渡族金属杂质铜的沉淀行为.样品经过高低高三步常规热处理形成洁净区后,在不同温度下引入杂质铜,然后对样品分别进行普通热处理和快速热处理,通过腐蚀和光学显微镜研究发现,在700℃引入铜杂质后经过普通热处理和快速热处理都不会破坏洁净区,在900℃和1100℃引入铜杂质后经过普通热处理不会破坏洁净区,而经过快速热处理会破坏洁净区.研究表明,快速热处理可以使硅片体内产生大量的空位,空位的外扩散是破坏洁净区的主要原因.
张光超徐进
关键词:直拉单晶硅
共1页<1>
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