国家自然科学基金(10775107)
- 作品数：4 被引量：1H指数：1
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- 用正电子研究原生ZnO单晶中的缺陷
- 2008年
- 利用正电子寿命谱和多普勒展宽谱技术研究了原生ZnO的缺陷结构及其退火效应.经900℃退火之后,正电子寿命实验显示样品中的空位型缺陷基本被消除,其体寿命为180 ps.通过比较原生和退火样品的符合多普勒展宽谱的商谱曲线,两者有相似的峰型,结合寿命谱的相关数据表明原生ZnO中不存在H原子填充Zn空位.
- 王柱柯君玉李辉庞锦标戴益群赵有文
- 关键词：正电子氧化锌
- 一种基于Windows界面的正电子湮没谱分析软件包
- 2011年
- 在保留正电子寿命谱分析程序PATFIT和连续谱分析程序MELT主要优点的基础上研究开发了一个新的正电子湮没谱分析软件PASA。主要的改进包括:将PATFIT、MELT和多普勒展宽谱3种正电子湮没分析方法集成在Windows界面程序中,MELT程序脱离MATLAB环境独立运行;编写了完整的多普勒展宽谱分析程序,谱文件的读取、输入参数的调节和拟合结果的输出更加方便快捷,重点加强了正电子湮没实验谱和拟合结果的图形显示。介绍PASA软件的使用经验。
- 李辉周凯王柱陈志权王少阶
- 关键词：数据拟合
- 高时间分辨闪烁体探测器组装设计与性能分析
- 2010年
- 为了提高正电子湮没寿命测量中能量分辨率、探测效率,本文对高时间分辨探测器进行组装及性能分析,如晶体的封装、输出脉冲幅度及上升时间等要素与外加电压的变化关系、能量分辨率、探测效率等进行测试.实验结果表明,在相同电压情况下,使用聚四氟乙烯作为反射层材料能有效地提高闪烁体探测器的探测效率;在外加电压为2580V情况下,聚四氟乙烯反射层探测器湮没峰的能量分辨率为7.8%,而反射层为Al箔时则为10.4%.结果说明了在相同外加电压的情况下,聚四氟乙烯反射层探测器湮没峰的能量分辨率比Al箔反射层探测器的要好.
- 秦伟李辉戴益群庞锦标王柱何春清
- 关键词：BAF2晶体能量分辨率时间分辨率
- 重掺Te的GaSb中缺陷的正电子寿命研究被引量：1
- 2007年
- 用正电子寿命谱技术研究了重掺Te的GaSb原生样品、电子辐照样品和质子辐照样品.室温正电子寿命测量揭示出原生重掺Te的GaSb样品中存在VGa相关缺陷,其寿命大小约为298 ps.电子辐照会使该缺陷发生变化,导致平均寿命值减小,VGa相关缺陷从-3价变为-2价.质子辐照后,产生了寿命值较大的缺陷.在10-300K变温实验中,观测到3种样品都存在浅捕获缺陷,该浅捕获缺陷是GaSb反位缺陷.
- 李辉柯君玉庞锦标汪兵戴益群王柱
- 关键词：正电子寿命电子辐照质子辐照
