国家自然科学基金(20205003)
- 作品数：1 被引量：30H指数：1
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- X射线荧光光谱法同时测定电子电气产品中限制使用物质铅、汞、铬、镉和溴被引量：30
- 2006年
- 提出了用X射线荧光光谱法同时测定电子电气设备中限制使用物质铅、汞、铬、镉和溴的一种新的测试方法。研究了金属材料基体、聚合物基体和不同电子产品等基体对待测元素的影响,研究了元素间谱线重叠所产生的光谱干扰,考察了样品大小不同和样品厚度不同对待测元素测试结果的影响,并选用Rh线的康普顿散射线作内标来校正这些非光谱干扰的影响。选用自制的参考物质制作工作曲线,各待测元素的浓度范围从最低测定下限100到1 500 mg.kg-1,均获得非常好的线性关系。选用有证标准物质BCR-681,并设置100 s测量时间来计算铅、汞、铬、镉和溴的最低检出限,其检出限分别为PbLβ0.64 mg.kg-1,HgLα0.51 mg.kg-1,CrKα0.78 mg.kg-1,CdKα1.10 mg.kg-1和BrKα0.27 mg.kg-1。以BCR-681作为实际样品进行测试,其结果与标准推荐值非常吻合。
- 宋武元郑建国肖前周明辉刘志红刘丽
- 关键词：X射线荧光光谱电子电气产品
