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北京市自然科学基金(2112005)

作品数:6 被引量:12H指数:2
相关作者:李晓延肖慧朱永鑫史耀武刘娜更多>>
相关机构:北京工业大学中国电器科学研究院有限公司学研究院更多>>
发文基金:北京市自然科学基金国家自然科学基金更多>>
相关领域:金属学及工艺一般工业技术电气工程更多>>

文献类型

  • 6篇中文期刊文章

领域

  • 5篇金属学及工艺
  • 1篇电气工程
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 4篇焊点
  • 3篇热循环
  • 2篇无铅
  • 2篇无铅焊
  • 2篇无铅焊点
  • 1篇低周
  • 1篇低周疲劳
  • 1篇电子封装
  • 1篇英文
  • 1篇有限元
  • 1篇通孔
  • 1篇通孔插装
  • 1篇热力耦合
  • 1篇热疲劳
  • 1篇界面金属间化...
  • 1篇金属
  • 1篇金属材料
  • 1篇金属间化合物
  • 1篇可靠性
  • 1篇封装

机构

  • 6篇北京工业大学
  • 1篇中国电器科学...
  • 1篇学研究院

作者

  • 6篇李晓延
  • 5篇肖慧
  • 2篇刘娜
  • 2篇史耀武
  • 2篇朱永鑫
  • 1篇雷永平
  • 1篇陈健
  • 1篇严永长
  • 1篇朱琦
  • 1篇王超

传媒

  • 2篇稀有金属材料...
  • 1篇焊接
  • 1篇功能材料
  • 1篇环境技术
  • 1篇电子元件与材...

年份

  • 1篇2014
  • 3篇2013
  • 2篇2012
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
基于子模型的电子封装焊点寿命预测方法研究被引量:2
2012年
在向无铅化过渡的过程中,封装材料与工艺改变所带来的最突出的问题之一就是无铅焊点的可靠性问题。由于焊点区非协调变形导致的热疲劳失效是电子封装焊点的主要失效形式。到目前为止,仍无公认的焊点寿命和可靠性的评价方法。本文采用统一型粘塑性本构模型描述SnAgCu焊点的变形行为,在对焊点可靠性分析的基础上采用基于能量的寿命模型进行焊点寿命预测;在有限元方面采用子模型的处理技术,并采用节点平均化以及体积平均化方法计算寿命模型相关参数。力图从理论方面和有限元处理技术方面改进以达到提高焊点寿命预测效率及预测精度的目的。
刘功桂肖慧李晓延
关键词:热疲劳
热循环条件下SnAgCu钎料损伤行为的研究(英文)被引量:3
2013年
电子封装焊点的热循环失效是焊点材料损伤逐步发展的结果,本工作旨在对SnAgCu钎料的热循环损伤失效行为进行研究。以连续损伤力学理论为基础,提出了一种适用于热循环条件下SnAgCu钎料蠕变-疲劳交互作用的损伤模型。据此,设计了热力循环实验和热循环实验用以标定损伤模型相关参量。自行设计了双金属剪切加载装置并结合温度循环实验,对SnAgCu钎料的热力耦合损伤行为进行了深入研究。以电阻变化率作为损伤变量,并在热循环的不同周次测量试样的损伤值从而验证损伤模型。结果表明:所提出的幂函数形式的损伤模型能较好的描述SnAgCu钎料的热循环损伤演变。最后,对热循环条件下SnAgCu钎料试样的微观组织演变进行了SEM分析,从而揭示其损伤演变机理。
肖慧李晓延严永长刘娜史耀武
关键词:热循环
无铅焊点高温低周疲劳破坏研究被引量:1
2013年
在125℃下对96.5Sn-3Ag-0.5Cu无铅焊点进行3种应变幅值(0.4%,0.5%,0.6%)和3种频率(0.05,0.10,1.00 Hz)条件下的低周疲劳试验,利用光学显微镜和电子显微镜对3种频率下焊点的断裂路径和断口形貌进行分析。结果表明,不同应变条件下无铅焊点的疲劳寿命符合Coffin-Manson模型。焊点的疲劳破坏过程主要分为应变强化阶段、稳定变形阶段和加速破坏阶段。疲劳裂纹主要在焊点端部的钎料与基体之间的界面处萌生,并沿一定角度向钎料内部扩展。不同频率下焊点的断口主要分为韧断区和脆断区,失效模式为韧-脆混合断裂。
王超朱永鑫李晓延
关键词:低周疲劳无铅焊点高温可靠性
电子封装无铅焊点界面金属间化合物性能研究综述被引量:5
2013年
金属间化合物(IMC)在电子封装连接的过程中起到重要的作用,它是封装焊点可靠连接的标志。然而,由于IMC硬脆的固有属性,过厚的IMC层使连接可靠性变差。因此,研究IMC的性能有着重要的意义。介绍了测定IMC性能的常用方法,总结了IMC的主要性能,包括硬度、弹性模量,屈服强度及热膨胀系数等。
朱永鑫李晓延肖慧
关键词:金属材料电子封装金属间化合物
SnAgCu/Cu焊点热循环失效行为研究被引量:1
2014年
对热循环条件下SnAgCu/Cu焊点的热力疲劳行为进行了研究。基于热循环条件下实际倒装焊点的位移分析,设计了单焊点试样及其热力耦合加载装置。利用电阻应变测量法研究了–40~125℃热循环条件下焊点的变形行为。以电阻变化率为损伤参量,确定了焊点的损伤演变规律以及焊点热疲劳寿命。基于此,采用基于应变的Coffin-Manson模型确定了焊点寿命与非弹性应变之间的关系。结果表明焊点随加载应变范围的增大而出现加速破坏。最后,对热循环过程中SnAgCu/Cu焊点的微观组织演变进行了扫描电镜观察分析,旨在进一步揭示焊点失效的本质。
肖慧李晓延陈健雷永平史耀武
关键词:SNAGCU热循环
热循环条件下通孔插装焊点失效分析被引量:1
2012年
通孔插装焊点是元器件与电路板接合最为常见的方式,以传统的通孔插装焊点为研究对象,按照IPC-9701标准设计热循环试验,在不同周期对焊点进行金相分析,对其失效行为及机理进行了研究,并测试了焊点的热疲劳寿命。同时采用有限元数值计算,应用基于蠕变应变的寿命模型,计算了焊点的热疲劳寿命。所得的试验结果与理论计算基本吻合。
朱琦刘娜肖慧李晓延
关键词:通孔插装热循环有限元
共1页<1>
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