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浙江省科技攻关计划(2007C31G2010013)

作品数：1 被引量：2H指数：1
相关作者：焦鹏周宇亮马琪更多>>
相关机构：杭州士兰微电子股份有限公司杭州电子科技大学更多>>
发文基金：浙江省科技攻关计划更多>>
相关领域：电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇扫描测试
  • 1篇全速
  • 1篇可测性
  • 1篇可测性设计
  • 1篇VLSI

机构

  • 1篇杭州电子科技...
  • 1篇杭州士兰微电...

作者

  • 1篇马琪
  • 1篇周宇亮
  • 1篇焦鹏

传媒

  • 1篇半导体技术

年份

  • 1篇2007
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
基于扫描的VLSI全速测试方法被引量：2
2007年
当工艺进入到超深亚微米以下,传统的故障模型不再适用,必须对电路传输延迟引发的故障采用延迟故障模型进行全速测试。给出了常用的延迟故障模型,介绍了一种基于扫描的全速测试方法,并给出了全速测试中片上时钟控制器的电路实现方案。对芯片进行测试,可以直接利用片内锁相环电路输出的高速时钟对电路施加激励和捕获响应,而测试向量的扫描输入和响应扫描输出则可以采用测试机提供的低速时钟,从而降低了全速测试对测试机时钟频率的要求。最后,对于全速测试方案提出了若干建议。
马琪焦鹏周宇亮
关键词：可测性设计扫描测试
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共1页<1>
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