2025年1月10日
星期五
|
欢迎来到贵州省图书馆•公共文化服务平台
登录
|
注册
|
进入后台
[
APP下载]
[
APP下载]
扫一扫,既下载
全民阅读
职业技能
专家智库
参考咨询
您的位置:
专家智库
>
>
工业与信息化部工业与信息化部电子信息产业发展基金(2010-301)
作品数:
1
被引量:0
H指数:0
相关作者:
罗一生
彭强祥
罗文博
吴传贵
张万里
更多>>
相关机构:
电子科技大学
更多>>
发文基金:
工业与信息化部工业与信息化部电子信息产业发展基金
更多>>
相关领域:
电子电信
更多>>
相关作品
相关人物
相关机构
相关资助
相关领域
题名
作者
机构
关键词
文摘
任意字段
作者
题名
机构
关键词
文摘
任意字段
在结果中检索
文献类型
1篇
中文期刊文章
领域
1篇
电子电信
主题
1篇
多孔
1篇
丝网印刷
1篇
热释电
1篇
厚膜
1篇
PZT
机构
1篇
电子科技大学
作者
1篇
张万里
1篇
吴传贵
1篇
罗文博
1篇
彭强祥
1篇
罗一生
传媒
1篇
红外与激光工...
年份
1篇
2011
共
1
条 记 录,以下是 1-1
全选
清除
导出
排序方式:
相关度排序
被引量排序
时效排序
丝网印刷制备大面积多孔PZT热释电厚膜与器件
2011年
采用丝网印刷法在氧化铝基片上制备了大面积多孔PbZr0.3Ti0.7O3热释电厚膜与单元红外探测器。通过掺入Li2CO3与Bi2O3作为助烧剂,实现了厚膜在850℃下的低温烧结。通过保持合适的孔隙率,将厚膜的相对介电常数降低至原值的1/5以提高材料优值与探测率。厚膜在1 kHz、25℃下的相对介电常数与损耗角正切分别为94与0.017。测试了厚膜相对介电常数与损耗随温度的变化规律,测得其居里温度为425℃。通过动态法测试得到厚膜的热释电系数为0.9×10-8 Ccm-2K-1。使用由斩波器调制的黑体辐射,测得单元器件在8.5~2 217 Hz的电压响应与噪声,计算出器件的探测率为3.4×107~1.7×108cmHz1/2W-1。
吴传贵
罗一生
彭强祥
罗文博
张万里
关键词:
丝网印刷
厚膜
PZT
热释电
全选
清除
导出
共1页
<
1
>
聚类工具
0
执行
隐藏
清空
用户登录
用户反馈
标题:
*标题长度不超过50
邮箱:
*
反馈意见:
反馈意见字数长度不超过255
验证码:
看不清楚?点击换一张