您的位置: 专家智库 > >

清华大学自主科研计划(2009THZ06057)

作品数:5 被引量:51H指数:4
相关作者:李岩张继涛吴学健尉昊赟罗志勇更多>>
相关机构:清华大学中国计量科学研究院更多>>
发文基金:清华大学自主科研计划国家自然科学基金国家科技支撑计划更多>>
相关领域:电子电信理学更多>>

文献类型

  • 5篇中文期刊文章

领域

  • 4篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 3篇激光
  • 2篇激光频率
  • 2篇激光器
  • 2篇光频率
  • 2篇光谱
  • 1篇导体
  • 1篇调谐
  • 1篇氧化层
  • 1篇双频
  • 1篇双频激光
  • 1篇频率测量
  • 1篇可调
  • 1篇可调谐
  • 1篇可调谐半导体...
  • 1篇计量学
  • 1篇合成波长
  • 1篇厚度测量
  • 1篇阿伏加德罗常...
  • 1篇半导体
  • 1篇半导体激光

机构

  • 5篇清华大学
  • 2篇中国计量科学...

作者

  • 5篇张继涛
  • 5篇李岩
  • 4篇吴学健
  • 3篇尉昊赟
  • 2篇罗志勇
  • 1篇朱敏昊
  • 1篇尉昊贇

传媒

  • 2篇物理学报
  • 1篇光电子.激光
  • 1篇科学通报
  • 1篇激光与光电子...

年份

  • 3篇2012
  • 2篇2011
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
基于飞秒光频梳的双频He-Ne激光器频率测量被引量:4
2012年
利用光纤飞秒光频梳和外腔可调谐半导体激光器,建立了一套双频He-Ne激光器频率测量系统.选用铷钟作为系统的频率基准,通过将外腔半导体激光锁定至光频梳使得其频率溯源至铷钟,再利用外腔可调谐半导体激光与双频He-Ne激光器输出的正交偏振激光拍频,同时测量两路正交偏振激光频率.将可调谐半导体激光器锁定至光频梳第1894449个梳齿,其绝对频率为473612190000.0±2.7 kHz,相对不确定度为5.7×10^(-12).对商品双频He-Ne激光器进行频率测量实验,双频He-Ne激光器水平方向偏振激光频率均值为473612229934 kHz,竖直方向偏振激光频率均值为473612232111 kHz,平均时间为1024 s的相对Allan标准差为5.2×10^(-11),频差均值为2.177 MHz,标准偏差为2 kHz.
吴学健尉昊赟朱敏昊张继涛李岩
飞秒光学频率梳在精密测量中的应用被引量:34
2012年
飞秒光学频率梳通过锁定飞秒锁模激光的重复频率和偏置频率至微波频率基准,在时域上得到重复频率稳定的飞秒脉冲激光,在频域上得到频率间隔稳定的激光频率梳。飞秒光学频率梳作为微波频率与光学频率的桥梁,可以实现对激光频率的直接精密计量,同时作为一种有别于传统连续波稳频激光的特殊激光光源,在激光频率标尺、绝对距离测量和精密光谱测量等光学精密测量领域都有着重要应用。综述了飞秒光学频率梳在若干光学精密测量应用中的研究进展、关键技术和研究动向,分析了其在未来光学测量中的重要作用。
吴学健李岩尉昊赟张继涛
关键词:激光频率光谱
基于光谱椭偏术的Si球表面氧化层厚度测量被引量:1
2011年
为改善X射线晶体密度法测得的阿伏伽德罗常数的标准不确定度,研制了一种基于光谱椭偏术和二维Si球扫描机构的Si球表面氧化层厚度自动扫描测量系统,用于测量直径约93.6 mm、质量约1 kg的单晶Si球表面氧化层平均厚度。用本文系统对标准Si球表面进行400点扫描测量实验,得到氧化层厚度分布,且测得其平均厚度为6.00(22)nm。测量结果可将由氧化层导致的阿伏伽德罗常数测量相对不确定度降低至2.5×10-8。
吴学健张继涛李岩罗志勇尉昊贇
关键词:氧化层
利用光频梳提高台阶高度测量准确度的方法被引量:5
2012年
提出一种利用光频梳和可调谐半导体激光器提高台阶高度测量准确度的方法.通过将可调谐激光器锁定至光频梳,可对激光器的输出波长进行精确锁定与测量.基于可调合成波长链原理,利用锁定后的半导体激光器构建了一套台阶高度测量方案,该方案可消除合成波长误差对台阶高度测量不确定度的影响.采用一台可调谐半导体激光器和光频梳进行了5000 s的连续锁定实验,结果表明,锁定后的可调谐半导体激光器的频率稳定度达1.8×10^(-12).该方法的理论测量不确定度约为7.9 nm,且测量结果可溯源至时间频率基准.
张继涛吴学健李岩尉昊赟
关键词:可调谐半导体激光器合成波长
阿伏加德罗常数测量与千克重新定义被引量:11
2011年
阿伏加德罗常数(NA)是一个联系微观尺度和宏观尺度的基本物理常数,它的精确测量可用于重新定义国际基本单位千克和摩尔,因而有助于推动国际单位制的发展.现代NA测量方法为X射线晶体密度法,它以单晶硅为材料,通过测量其摩尔质量、宏观密度和晶格常量得到NA,该方法涉及到的关键技术包括单晶硅材料的生长、大尺寸单晶硅球加工、硅原子量测量技术、X射线干涉术、精密光学干涉技术、超薄膜厚度及成份测量技术等.本文综述了现代NA测量的研究进展、研究难点和未来的研究方向,并以千克重新定义为例,分析了NA测量研究在基础计量学领域的重要作用.
李岩张继涛罗志勇
关键词:计量学阿伏加德罗常数
共1页<1>
聚类工具0