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国家重点基础研究发展计划(6139801-1)

作品数:2 被引量:1H指数:1
相关作者:郝跃张鹤鸣戴显英董洁琼赵娴更多>>
相关机构:西安电子科技大学更多>>
发文基金:国家重点基础研究发展计划国防科技技术预先研究基金更多>>
相关领域:理学电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 1篇各向同性
  • 1篇各向异性
  • 1篇GE/SI
  • 1篇X

机构

  • 2篇西安电子科技...

作者

  • 2篇戴显英
  • 2篇张鹤鸣
  • 2篇郝跃
  • 1篇邓文洪
  • 1篇金国强
  • 1篇楚亚萍
  • 1篇王船宝
  • 1篇奚鹏程
  • 1篇郑若川
  • 1篇杨程
  • 1篇赵娴
  • 1篇宋建军
  • 1篇董洁琼

传媒

  • 2篇物理学报

年份

  • 1篇2012
  • 1篇2011
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
应变Ge空穴有效质量的各向异性与各向同性
2012年
在利用k·p微扰理论获得应变Ge/Si_(1-x)Ge_x价带E(k)-k关系的基础上,研究得到了(001),(101),(111)面应变Ge/Si_(1-x)Ge_x沿不同晶向及各向同性的价带空穴有效质量.结果显示,应变Ge/Si_(1-x)Ge_x沿各晶向的带边有效质量随应力增大而减小,且沿[010]晶向最小;子带空穴有效质量在应力较大时变化不明显,并且在数值上与带边空穴有效质量相差不大.最后利用各向同性有效质量与文献结果进行比对,验证了结果的正确性.
戴显英杨程宋建军张鹤鸣郝跃郑若川
锗硅/硅异质结材料的化学气相淀积生长动力学模型被引量:1
2011年
基于化学气相淀积(CVD)的Grove理论和Fick第一定律,提出并建立了锗硅(SiGe)/硅(Si)异质结材料减压化学气相淀积(RPCVD)生长动力学模型.与以前锗硅/硅异质结材料生长动力学模型仅考虑表面反应控制不同,本模型同时考虑了表面反应和气相传输两种控制机理,并给出了两种控制机理极限情况下的模型.本模型不仅适用于低温锗硅/硅应变异质结材料生长的表征,也适用于表征高温锗硅/硅弛豫异质结材料生长的表征.将模型计算值与实验结果进行了对比,无论是625℃低温下的应变SiGe的生长,还是900℃高温下的弛豫SiGe的生长,其模型误差均小于10%.
戴显英金国强董洁琼王船宝赵娴楚亚萍奚鹏程邓文洪张鹤鸣郝跃
共1页<1>
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