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大隈株式会社

作品数:502 被引量:0H指数:0
相关机构:三丰株式会社株式会社森精机制作所国立大学法人名古屋大学更多>>
相关领域:自动化与计算机技术金属学及工艺电气工程文化科学更多>>

文献类型

  • 501篇专利
  • 1篇会议论文

领域

  • 47篇自动化与计算...
  • 42篇金属学及工艺
  • 12篇电气工程
  • 10篇文化科学
  • 4篇经济管理
  • 3篇电子电信
  • 2篇一般工业技术
  • 1篇化学工程
  • 1篇机械工程
  • 1篇交通运输工程
  • 1篇医药卫生

主题

  • 220篇机床
  • 64篇主轴
  • 54篇感器
  • 54篇传感
  • 54篇传感器
  • 47篇刀具
  • 39篇进给
  • 36篇控制装置
  • 34篇电机
  • 33篇振动
  • 31篇转轴
  • 30篇控制器
  • 29篇旋转轴
  • 29篇数控
  • 28篇电动机
  • 28篇工件
  • 26篇进给轴
  • 25篇机器人
  • 20篇计测
  • 17篇电动

机构

  • 502篇大隈株式会社
  • 15篇株式会社森精...
  • 15篇三丰株式会社
  • 14篇国立大学法人...
  • 2篇村田机械株式...
  • 2篇国立大学法人...
  • 2篇国立大学法人...

年份

  • 20篇2024
  • 33篇2023
  • 26篇2022
  • 36篇2021
  • 41篇2020
  • 33篇2019
  • 32篇2018
  • 32篇2017
  • 30篇2016
  • 31篇2015
  • 23篇2014
  • 16篇2013
  • 38篇2012
  • 30篇2011
  • 11篇2010
  • 14篇2009
  • 30篇2008
  • 4篇2007
  • 3篇2004
  • 4篇2003
502 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
五轴控制机床及其误差辨识方法、存储介质
本发明提供5轴控制机床及其误差辨识方法、存储介质,能够不受直行轴的轴单体几何误差的影响而高精度地辨识轴间几何误差。执行如下步骤:将接触式探头安装于主轴,将球阵列固定于工作台;利用接触式探头计测球阵列的初始位置;根据初始位...
松下哲也小岛拓也
位置探测器
在用于将彼此在相位上移动90度的两个信号转换成位置信息的位置探测器中,用于计算相位校正值的相位校正值计算器,计算代表在相位校正值中的改变的相位改变,以基于相位改变值和当前相位校正值获得下一相位校正值,其中相位校正值用于校...
岩泽克敏
文献传递
数控装置
数控装置,其估算一定延迟时间之后的未来旋转速度,该延迟时间是主轴旋转速度变动与进给轴进给速率变动之间的相位差,所述数控装置还变动进给速率,以使其与估算的旋转速度之间保持恒定比例。
上野茂树
文献传递
加工切屑检测装置及机床
一种加工切屑检测装置(10),检测在机床的加工腔中存在或没有加工切屑,其包括照射单元(12)、成像单元(14)以及图像处理器(控制器(16)),照射单元(12)将线激光(30)照射到加工腔内的检测区域(E)上,图像单元(...
杉浦弘幸
文献传递
机床
提供机床,可容易地设定可有效抑制颤振的旋转速度及其变更幅度等。机床的主轴控制部以刀具路径单位,利用变更最大速度和变更最小速度对把持工件的主轴的旋转速度进行变更,其中,该最大速度是比基准旋转速度的设定值即基准旋转速度设定值...
西村浩平
文献传递
机床的工作台单元
本发明提供一种机床的工作台单元,使倾斜工作台的平衡良好以减小绕水平轴线的回转半径和惯性矩。AC轴单元(6)包括被保持成能够在基座(10)上绕A轴回转分度的耳轴(11)、和被设置成能够在所述耳轴(11)上绕与A轴正交的C轴...
吉田睦
文献传递
夹持装置
一种夹持装置(10),包括:多个夹持爪(12);多个线性运动单元(30),多个线性运动单元(30)中的每一个设置在多个夹持爪(12)中的对应的一个上;同步机构(32),其构造成同步多个线性运动单元(30)的运动;第一缸(...
森村章一
文献传递
数字控制命令发生器及其方法
一种用于产生NC机床的定向操作命令的装置与方法,它根据机加工信息和表面的倾角对工件表面进行分组,为各组选定最佳定向角度,根据所选定的定向角度产生数字控制命令。
山崎和雄深谷安司森田尚起松宫贞行
文献传递
振动抑制方法及装置
本发明提供振动抑制方法及装置,其在继续产生颤振的情况下能够得到更加准确的稳定转速,从而能够可靠抑制颤振。作为解决手段,以预测稳定转速为基础,使旋转轴(3)的转速发生微小变化,并计算k’值的变化量等,由此求出稳定转速。因此...
稻垣浩
文献传递
旋转角度检测装置
本发明提供一种旋转角度旋转装置(100)。在旋转角度检测装置(100)中,由磁阻元件(101a至101q)检测到的信号在于减法器(105a至105k)中被减去最优校正参数之前被数字化,最优校正参数被预先存储在存储器(10...
福井宪之
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