2025年2月12日
星期三
|
欢迎来到贵州省图书馆•公共文化服务平台
登录
|
注册
|
进入后台
[
APP下载]
[
APP下载]
扫一扫,既下载
全民阅读
职业技能
专家智库
参考咨询
您的位置:
专家智库
>
>
施慧
作品数:
9
被引量:0
H指数:0
供职机构:
上海大学
更多>>
相关领域:
电子电信
自动化与计算机技术
理学
经济管理
更多>>
合作作者
张金艺
上海大学通信与信息工程学院
李娇
上海大学
杨晓冬
上海大学
张冬
上海大学
翁寒一
上海大学
作品列表
供职机构
相关作者
所获基金
研究领域
题名
作者
机构
关键词
文摘
任意字段
作者
题名
机构
关键词
文摘
任意字段
在结果中检索
文献类型
4篇
专利
3篇
学位论文
1篇
期刊文章
1篇
科技成果
领域
3篇
电子电信
2篇
自动化与计算...
1篇
经济管理
1篇
理学
主题
5篇
电路
4篇
片上系统
4篇
总线
3篇
集成电路
2篇
扫描链
2篇
嵌入式
2篇
控制单元
2篇
测试矢量
2篇
测试系统
2篇
测试性
2篇
测试总线
1篇
硬件
1篇
硬件实现
1篇
智能社区
1篇
视频
1篇
视频叠加
1篇
视频字符叠加
1篇
数模
1篇
数模混合
1篇
跳变
机构
9篇
上海大学
作者
9篇
施慧
6篇
张金艺
5篇
李娇
4篇
黄徐辉
4篇
蔡万林
4篇
翁寒一
4篇
张冬
4篇
杨晓冬
2篇
杨毅
2篇
王佳
2篇
丁梦玲
1篇
陈文威
1篇
郑昌陆
1篇
卞爱琴
1篇
何建波
1篇
王俭
传媒
1篇
电子技术应用
年份
1篇
2020
2篇
2012
1篇
2011
2篇
2010
1篇
2009
2篇
2005
共
9
条 记 录,以下是 1-9
全选
清除
导出
排序方式:
相关度排序
被引量排序
时效排序
片上系统中嵌入式逻辑芯核的故障测试系统
本发明涉及一种片上系统中嵌入式逻辑芯核的故障测试系统。它是为完善片上系统可测试性而增加的电路,其电路由一个测试访问通道组、n个测试环、n个逻辑芯核测试控制单元、一个逻辑芯核测试控制总线和一个逻辑芯核测试选择控制单元组成,...
张金艺
李娇
王佳
翁寒一
蔡万林
张冬
杨晓冬
施慧
黄徐辉
杨毅
文献传递
基于多方利益平衡的跨国公司转移定价决策研究
施慧
关键词:
财务工具
智能社区物业视频短信终端设备的实现
2005年
从我国目前住宅社区现实情况出发,运用视频叠加器对社区监控管理进行完善,提出了智能社区视频短信传输与叠加的新概念,介绍了SD03C03字符叠加芯片及社区视频短信终端设备的软、硬件实现。
张希
张金艺
施慧
陈文威
关键词:
视频叠加
终端设备
硬件实现
监控管理
物业
智能社区
集成电路片上系统核间连线故障的测试系统和方法
本发明涉及一种集成电路片上系统核间连线故障的测试系统和方法。本系统包含有为完善集成电路片上系统中IP核间连线故障测试和IP核内故障测试而增加的电路结构和基于此电路结构运行的测试寻访机制。本发明能够对集成电路片上系统的IP...
李娇
张金艺
杨晓冬
蔡万林
施慧
张冬
黄徐辉
翁寒一
丁梦玲
基于局部间断有限元的IMEX方法研究
本文提出了一种基于局部间断有限元(Local discontinuous Galerkin,LDG)的半隐半显(Implicit-Explicit,IMEX)多步法用来求解非线性偏微分方程(Partial Differe...
施慧
关键词:
CAHN-HILLIARD方程
非线性
文献传递
PDC-VAC-VSS数模混合ASIC设计与研究
张金艺
郑昌陆
李娇
施慧
何建波
卞爱琴
王俭
该项目完成VAC-VSS系统数字部分电路设计,并完成FPGA验证;完成数字部分电路逻辑综合、仿真、版图设计、版图验证和工艺验证,并完成流片;完成流片样片的测试与分析研究;完成基于流片样片的DEMO功能电路设计和调试。完成...
关键词:
关键词:
视频字符叠加
集成电路片上系统核间连线故障的测试系统和方法
本发明涉及一种集成电路片上系统核间连线故障的测试系统和方法。本系统包含有为完善集成电路片上系统中IP核间连线故障测试和IP核内故障测试而增加的电路结构和基于此电路结构运行的测试寻访机制。本发明能够对集成电路片上系统的IP...
李娇
张金艺
杨晓冬
蔡万林
施慧
张冬
黄徐辉
翁寒一
丁梦玲
文献传递
基于部分扫描的跳变时延故障测试及ATPG方法的研究
当前在工业上对集成电路的故障测试主要还集中于呆滞型故障的检测,而随着半导体技术的高速发展,使得芯片的运行速率不断上升,工艺的特征尺寸的日益缩小,相应的时延故障测试需求也变得越来越迫切。由于集成电路性能要求高,对系统的可靠...
施慧
关键词:
集成电路
ATPG
文献传递
片上系统中嵌入式逻辑芯核的故障测试系统
本发明涉及一种片上系统中嵌入式逻辑芯核的故障测试系统。它是为完善片上系统可测试性而增加的电路,其电路由一个测试访问通道组、n个测试环、n个逻辑芯核测试控制单元、一个逻辑芯核测试控制总线和一个逻辑芯核测试选择控制单元组成,...
张金艺
李娇
王佳
翁寒一
蔡万林
张冬
杨晓冬
施慧
黄徐辉
杨毅
文献传递
全选
清除
导出
共1页
<
1
>
聚类工具
0
执行
隐藏
清空
用户登录
用户反馈
标题:
*标题长度不超过50
邮箱:
*
反馈意见:
反馈意见字数长度不超过255
验证码:
看不清楚?点击换一张