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李化鹏

作品数:5 被引量:15H指数:3
供职机构:天津理工大学电子信息工程学院更多>>
发文基金:天津市自然科学基金天津市教委基金国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学电子电信更多>>

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 3篇理学
  • 2篇电子电信

主题

  • 3篇ALN薄膜
  • 3篇磁控
  • 2篇氮化铝
  • 2篇氮化铝薄膜
  • 2篇射频磁控
  • 2篇溅射
  • 1篇压电
  • 1篇压电材料
  • 1篇射频
  • 1篇射频磁控反应...
  • 1篇射频功率
  • 1篇声表面波
  • 1篇声表面波器件
  • 1篇数对
  • 1篇金刚石
  • 1篇金刚石膜
  • 1篇计算机
  • 1篇计算机模拟
  • 1篇硅衬底
  • 1篇反应溅射

机构

  • 5篇天津理工大学
  • 1篇天津电子信息...

作者

  • 5篇李化鹏
  • 4篇陈希明
  • 2篇杨保和
  • 2篇于春花
  • 1篇薛玉明
  • 1篇孙大智
  • 1篇徐娜
  • 1篇卢勤

传媒

  • 3篇天津理工大学...
  • 1篇光电子.激光

年份

  • 1篇2009
  • 3篇2007
  • 1篇2006
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
射频磁控溅射生长C轴择优取向AlN压电薄膜被引量:9
2007年
采用射频磁控反应溅射工艺,在Si(400)衬底上制备了高c轴取向的AlN薄膜。用X射线衍射仪(XRD)分析了薄膜特征。研究了不同的Ar/N2比、衬底偏压、工作压强对AlN薄膜c轴择优取向的影响。研究了AlN薄膜在以氮终止的硅衬底和纯净硅衬底两种表面状态的生长机制,发现在以氮终止的硅衬底表面生长的AlN薄膜非常容易得到c轴择优取向的AlN薄膜。
杨保和徐娜陈希明薛玉明李化鹏
关键词:ALN薄膜
沉积工艺参数对AlN薄膜择优取向影响的实验研究
2009年
采用射频磁控溅射法,以高纯Al(99.999%)为靶材,高纯N2为反应气体,在硅及金刚石上制备了氮化铝(AlN)薄膜.研究了氩气氮气比例、溅射气压等工艺参数对AlN膜沉积的影响规律.结果表明,随着氮气比例的增大AlN(002)取向明显增强.溅射气压低有利于以AIN(002)面择优取向.
卢勤李化鹏陈希明
关键词:磁控溅射氮化铝薄膜金刚石
高性能声表面波器件AlN/Diamond基片制备及分析
声表面波(SAW)器件由于具有小型化、高可靠、多功能、一致性好等特点,在雷达、声纳、无线通信、光纤通信及广播电视系统中已获得广泛的应用。由于目前通讯器件朝着高频化发展,优良的高频声表面波器件基片必须具有高声速、高机电耦合...
李化鹏
关键词:金刚石膜氮化铝薄膜声表面波器件压电材料
文献传递
溅射沉积温度对薄膜生长影响的计算机模拟被引量:3
2007年
利用Monte Carlo方法对薄膜生长过程进行计算机模拟.模型针对粒子的沉积、吸附及粒子的扩散等过程,研究了粒子允许行走的最大步数对薄膜生长形貌的影响.结果表明:随温度升高,粒子行走步数增加,薄膜的生长经历了从分散到分形团聚的过程;在粒子行走步数越小的情况下,薄膜越易趋向于分散生长.
李化鹏孙大智于春花陈希明杨保和
关键词:MONTECARLO方法计算机模拟薄膜生长分形
射频功率对射频磁控反应溅射制备AlN薄膜的影响被引量:3
2007年
采用射频磁控溅射法在Si(100)衬底上制备了AlN薄膜,通过控制工艺参数可以沉积出不同择优取向的AlN薄膜,各工艺参数中射频功率对其择优取向的影响最大.XRD表征了AlN薄膜的结构,进而选择出最优射频功率.
于春花陈希明李化鹏
关键词:ALN薄膜
共1页<1>
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