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樊勇
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2
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供职机构:
中国科学院计算技术研究所
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相关领域:
自动化与计算机技术
电子电信
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合作作者
魏道政
中国科学院计算技术研究所
向东
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1995
1篇
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GTPP──一种全局测试点插入算法
1995年
本文提出了一个全局测试点插入算法。该算法在可测性设计以前首先分析了电路的可测性,得到测试点候选集,该集合中每一个点都是对该电路的可测性可能有很大改进的测试点。文中首先采用选择跟踪的思想得到全局测试点插入的初始界限,然后将测试点插入算法形式化为一个分枝界限的问题,得到了一种全局的测试点插入结果。文中的算法是基于SCTM测度提出来的。
樊勇
向东
魏道政
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可测性设计
可测性
数字电路的可测性分析与设计的方法与实践
樊勇
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