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高玉军

作品数：9 被引量：55H指数：5
供职机构：中国科学院长春光学精密机械研究所更多>>
相关领域：机械工程电子电信理学兵器科学与技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 9篇中文期刊文章

领域

  • 6篇机械工程
  • 3篇电子电信
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇理学
  • 1篇兵器科学与技...

主题

  • 5篇激光
  • 4篇激光扫描
  • 3篇光学
  • 3篇光学系统
  • 3篇非接触
  • 3篇非接触测量
  • 2篇杂光
  • 2篇误差分析
  • 2篇光电
  • 2篇光电检测
  • 2篇测量系统
  • 2篇差分
  • 1篇点扩散函数
  • 1篇圆度误差
  • 1篇杂光系数
  • 1篇杂散光
  • 1篇直径
  • 1篇直线度
  • 1篇直线度误差
  • 1篇双光束

机构

  • 8篇中国科学院长...
  • 4篇长春光学精密...
  • 3篇长春理工大学
  • 2篇长春光机学院
  • 1篇中国科学院

作者

  • 9篇高玉军
  • 7篇张国玉
  • 4篇李成志
  • 4篇安志勇
  • 2篇李成志
  • 2篇宋甲午
  • 2篇张从周
  • 2篇安志勇
  • 2篇张国玉
  • 1篇姜会林
  • 1篇景红薇
  • 1篇徐洪吉
  • 1篇曹维国
  • 1篇赵铁钧
  • 1篇王志宏

传媒

  • 3篇兵工学报
  • 2篇光学技术
  • 2篇长春光学精密...
  • 1篇激光与红外
  • 1篇半导体光电

年份

  • 1篇2000
  • 2篇1999
  • 1篇1998
  • 3篇1997
  • 1篇1996
  • 1篇1995
共 9 条 记 录，以下是 1-9
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排序方式：
应用半导体激光器的尺寸测量系统研究被引量：11
1997年
利用光学原理推导了位置尺寸与光学系统参数之间的关系和位置敏感器件PSD与光轴夹角之关系。在此基础上，提出了一种采用半导体激光器作光源，PSD作光电接收器的尺寸测量系统，并通过实验对其精度进行了验证。
张国玉安志勇张从周李成志高玉军
关键词：半导体激光器尺寸测量测量系统激光器
光学系统杂散光的计算与分析方法被引量：12
1995年
本文介绍了光学系统杂散光计算与分析的四种方法，并指出了各种方法的优缺点，对光学系统设计，消除或减小来散光起到了一定的作用。
张国玉曹维国高玉军王志宏
关键词：光学系统杂散光分布函数
同轴度误差的激光扫描测量方法被引量：4
1999年
基于激光扫描检测原理 ,利用分度回转和轴向进给执行机构 ,通过激光扫描检测系统间接测量刀口尺与被测工件轴线之间的间隙变化 ,来测量被测轴线对基准轴线的同轴度误差。本文对该系统及其测量方法进行了讨论 。
宋甲午张国玉安志勇徐洪吉李成志高玉军
关键词：同轴度误差激光扫描光电检测
直线度误差的光电非接触测量方法被引量：6
1999年
基于光电检测技术，利用回转和轴向进给伺服系统，通过激光扫描检测系统测量刀口尺与被测零件素线之间的间隙，实现了对直线度误差的非接触自动测量。详细论述了直线度误差的测量方法和光电检测系统，通过实验对系统的测量精度进行了验证。
张国玉安志勇姜会林李成志高玉军
关键词：直线度误差光电检测非接触测量激光扫描
激光扫描形状自动检测仪及其误差分析被引量：3
1997年
叙述了一种用于对回转体类零件形状进行自动非接触测量的激光扫描形状自动检测仪的总体结构及基本原理，并对其主要误差进行了理论分析，对仪器设计和提高仪器的测量精度起到了一定的作用。
张国玉安志勇张从周赵铁钧李成志高玉军
关键词：激光扫描误差分析自动检测仪
光学系统杂光测试仪误差分析被引量：3
1996年
本文介绍了一种光学系统杂光测试仪,并对其主要误差进行了分析和计算,对提高仪器的测量精度起到了一定的作用。
张国玉李风春高玉军
关键词：光学系统杂光系数误差分析
A LASER-SCANNING NON-CONTACT MEASURING METHOD FOR ROUNDNESS ERRORS被引量：8
2000年
利用激光狭缝扫描原理和光电传感技术，提出了一种用于测量大型回转体类零件圆度误差的激光扫描非接触测量方法和测量系统。本文详细论述了测量系统及其测量原理、工件安装偏心误差的分离技术和计算机实时数据处理系统，实验结果证实了这种测量方法的可行性。
宋甲午张国玉安志勇李成志景红薇高玉军
关键词：圆度误差非接触测量偏心误差NON-CONTACTMEASURING
光学系统杂光黑斑测量的理论研究被引量：4
1997年
根据线性空间不变系统理论和标量衍射理论，用杂光点扩散函数讨论了在光学系统中多次反射和衍射所产生的杂光分布。在此基础上，用物和接收器互相关函数系统地分析了黑斑尺寸。
张国玉李风春高玉军
关键词：杂光黑斑点扩散函数光学系统
双光束激光扫描尺寸测量系统被引量：6
1998年
基于激光扫描检测原理，提出了一种用于测量较大直径的双光束激光扫描尺寸测量系统。利用具有良好速度特性和光学准直特性的扫描光学系统，通过分光光学系统，使扫描光束由一束变为两束，对工件两侧进行双光束扫描，将携带有被测量信息的两路光信号经光合成系统后将两束光进行合成和接收，经微机数据处理后，给出直径的测量结果。文章详细论述了系统的测量原理、组成和微机控制与数据处理系统，对扫描光学系统设计的有关理论问题进行了讨论。
张国玉安志勇李成志高玉军
关键词：激光扫描双光束直径非接触测量
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