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龚朝阳

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：南京电子器件研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇失效率
  • 1篇微波器件
  • 1篇可靠性

机构

  • 1篇南京电子器件...
  • 1篇中国电子产品...

作者

  • 1篇龚朝阳
  • 1篇金毓铨
  • 1篇娄书礼

传媒

  • 1篇固体电子学研...

年份

  • 1篇1993
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
微波器件失效率快速试验方法研究
1993年
介绍了微波低噪声ＧａＡｓＦＥＴ恒定应力加速寿命试验结果，沟道温度Ｔｃｈ为１４５℃时，平均寿命ＭＴＴＦ为９．６４×１０＾６ｈ，最主要的失效模式是源漏饱和电流ＩＤｓｓ退化降低。建立了表征ＧａＡｓＦＥＴ稳定性的敏感参数ＩＤｓｓ的退化模型ＩｎＰ＝α＋ｂｌｎｔ，分析了ＩＤｓｓ退化与温度应力的加速关系。提出了快速推断器件可靠性的建议。
娄书礼龚朝阳金毓铨苏德青
关键词：可靠性微波器件
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共1页<1>
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