张海明
- 作品数：19 被引量：42H指数：3
- 供职机构：中国空间技术研究院更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术电气工程理学更多>>
- 一种元器件缺陷检测的方法及装置
- 本发明公开了一种元器件缺陷检测方法及装置，所述方法包括：获取目标元器件的X射线图像，并对所述X射线图像进行降噪处理，得到第一图像；消除所述第一图像的非均匀光照背景，得到第二图像；基于模板匹配定位所述第二图像中待检测的目标...
- 张海明唐章东李璇王征范晓明辛奇王雪生王贺刘敏范壮壮高华兴
- 文献传递
- 一种用于形式验证的宇航通用门级逻辑建模方法
- 一种用于形式验证的宇航通用门级逻辑建模方法，对宇航级大规模集成电路的抗辐射加固逻辑门电路进行抗辐射冗余特点分析和建模，可基于该模型对宇航级大规模集成电路进行基于形式验证的安全属性评测和逻辑完备性检查，解决了空间辐射环境和...
- 屈若媛张海明吕倩倩张伟张延伟张磊肖波祝名谷瀚天
- 文献传递
- 一种基于FPGA技术的CMOS图像传感器测试装置
- 本发明涉及一种基于FPGA技术的CMOS图像传感器测试装置，特别是一种基于EMVA1288测试标准的性能测试平台，属于图像传感器测试技术领域。本发明的测试装置是基于EMVA1288标准设计的，性能参数的定义和测试方法都比...
- 张大宇宁永成刘迎辉齐向昆张海明张红旗蒲瑞民刘艳秋王贺丛山
- 文献传递
- 一种无铅元器件互连焊点锡须触碰风险评估方法
- 本发明提供了一种无铅元器件互连焊点锡须触碰风险评估方法，该方法包括以下步骤：步骤1：进行锡须生长激发试验；步骤2：锡须特征参数测定；步骤3：锡须生长分布规律分析及锡须生长特征模型建立；步骤4：无铅元器件互连焊点锡须触碰风...
- 张伟李楠张海明吴照玺谷瀚天
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- 用10MeV质子和钴60γ射线进行CCD空间辐射效应评估被引量：17
- 2008年
- 文章用10MeV质子和钴60γ射线对CCD(Charge Coupled Device)进行了辐照试验,分别计算得到了电离总剂量和位移效应的失效剂量。通过分析比较得出:在空间环境中,相对于电离总剂量效应而言,位移效应对CCD的损伤更为严重。因此,进行CCD辐射效应评估时,不仅要考虑电离总剂量效应,还要考虑位移效应。文章还探讨了评估CCD抗位移损伤能力的方法。
- 于庆奎唐民朱恒静张海明张延伟孙吉兴
- 关键词：CCD
- 一种复杂数字集成电路测试向量学习生成装置
- 一种复杂数字集成电路测试向量学习生成装置，包括向量学习生成模块、通讯模块、电源模块、学习接口模块、典型应用板、上位机，以FPGA为核心部件，利用其高并发性能可以实现多通道实时监测、时钟触发和数据采集分析等功能。通过并列布...
- 张海明张松宁永成张大宇王贺
- 航天用元器件应用验证方法及其应用实例被引量：13
- 2013年
- 针对航天用元器件传统鉴定考核方法的局限性,文章提出了一种改进的可靠性保证方法,其核心在于以元器件鉴定试验为基础,结合航天应用的实际背景以及元器件的自身特性制定评估试验方案,对元器件的耐受力裕度、实际性能指标进行评价。将该方法应用于航天器用1553B数据总线隔离变压器的评估,得出了在不同应用条件下其电性能参数的变化趋势以及与进口同类样品间电参数的比对结果,并对其结构与航天型号要求的符合性以及极限性能指标等进行了评估验证。结果表明,该方法可以充分验证航天用元器件研制的成熟度和在航天工程中的适用度,为元器件的研制和应用提供全面参考依据。
- 唐章东张凯宁永成王征张海明蒲瑞民
- 一种检测芯片粘连区域缺陷的方法及装置
- 本发明公开了一种检测芯片粘连区域缺陷的方法及装置，所述方法包括：对采集到的X射线图像进行预处理，得到第一图像；利用训练好的目标检测模型，定位出所述第一图像中粘连区域的位置；基于无监督图像修复模型对所述第一图像中的粘连区域...
- 张海明李璇唐章东王征张帅王贺纪维高华兴范壮壮董浩威
- 文献传递
- SRAM型FPGA单粒子效应试验系统及方法
- SRAM型FPGA单粒子效应试验系统及方法包括：单片机处理器、RS232接口电路、USB接口电路、测试FPGA以及存储单元，可以用于SRAM型FPGA的配置存储器和BRAM的故障注入试验，实现SRAM型FPGA的单粒子功...
- 刘迎辉张大宇于庆奎唐民宁永成孟猛张海明李鹏伟罗磊
- 文献传递
- 宇航用商业现货（COTS）半导体器件 质量保证要求
- 本文件规定了宇航用商业现货半导体器件(以下简称COTS器件)的质量保证要求,确立了宇航用COTS器件需求分析、评价试验,破坏性物理分析(DPA)、筛选试验、鉴定试验的具体要求和应用控制要求。本文件适用于宇航用COTS器件...
- 张大宇汪悦张红旗张海明宁永成王征朱恒静王彤丛山张松王贺
