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景深延拓波前编码系统理论及其应用研究: 鉴于大景深成像系统有着很多的优点，对于成像光学系统，除个别情况(例如摄影中的特写镜头等)外，都希望得到尽可能大景深的光学系统。因此研究者们提出了多种焦深延拓的方法。其中波前编码的光学系统景深延拓技术由于其独特的优点成为了...; 陈燕平; 关键词：波前编码景深延拓相位掩模板优化设计光学传递函数点扩散函数

波前编码系统成像特性的空间域分析被引量：10: 2007年; 波前编码技术在大幅度地增加光学系统景深的同时,可以抑制各种离焦类型的像差。目前波前编码系统的成像特性分析大多是基于空间频率域的分析,在应用稳定相法导出三次型相位板波前编码系统的点扩展函数近似解析式的基础之上,描述了点扩展函数的边界、带宽与振荡等特性,分析了波前编码系统对离焦、像散、彗差等常见像差的敏感性,从空间域进一步分析了波前编码系统的成像特性。; 陈燕平张文字赵廷玉余飞鸿叶子; 关键词：波前编码点扩展函数近似解析式

遗传算法在薄膜特性参量测量中的应用被引量：3: 2007年; 利用遗传算法,将光学常量作为参量建立全局优化模型.通过遗传变异进行迭代计算从而优化解.它不但避免了接触式测量对样品的破坏,而且相对于其它算法简单清晰,在保证准确度的同时,具有良好的稳定性.实验结果与理想模型误差在1 nm以内,实际样品与台阶仪的测量结果误差控制在20 nm以内.; 宫兴致陈燕平刘玉玲余飞鸿; 关键词：遗传算法非接触测量全局优化算法

奇对称型相位板波前编码成像系统的点列图分析被引量：5: 2007年; 基于几何光学理论利用光线追迹方法得到了适用于任意面型相位板的大视场平行光入射情况下的光线像差近似表达式,并在此基础之上分析了奇对称型相位板波前编码系统的点列图的大小、边界以及光线结构等特性,研究了大视场角平行光入射下的光线像差增强及点列图形变等现象,并且给出了相应的近似数学解析式来描述这些特性。通过对奇对称型相位板波前编码成像系统的点列图特性分析,有助于进一步的理解波前编码技术并且指导实际系统的设计。; 陈燕平张文字赵廷玉余飞鸿叶子; 关键词：成像系统波前编码像差近似解析式

显微镜/望远镜的数字图像硬件接口与软件接口设计被引量：4: 2005年; 介绍了几种使用图像传感器将光学显微镜/望远镜的图像转变成数字图像的实现方法,分析了几种方法的工作原理以及优缺点。介绍了当前比较流行的电子目镜的设计思路,给出设计实例及其软件接口模块。并对其未来的发展前景进行了展望。; 李晓艳刘玉玲陈燕平余飞鸿; 关键词：CMOS图像传感器

微型光谱仪平场全息凹面光栅的优化设计被引量：7: 2008年; 研究了应用于微型光谱仪的平场全息凹面光栅的设计方法,提出了全局优化和反向优化的设计思想.利用全局优化算法求解了用于设计平场全息凹面光栅的非线性方程组,可以通过调整某些像差项的优化权重,快速有效地完成设计;同时利用反向优化算法对设计的中间结果进行工作位置的微量调节,进一步提高了光栅的光学性能,并阐述了平场全息凹面光栅可以具有多工作位置的原因.以遗传算法为例实现了上述优化思想,并基于TCD1304AP线阵CCD探测器,设计了适用于工作波长为380-780 nm的微型光谱仪系统的平场全息凹面光栅.实际系统经测试得到了良好的成像效果,光谱分辨率可达0.8 nm（50μm狭缝）.; 程梁陈燕平朱若波叶子余飞鸿; 关键词：微型光谱仪遗传算法

10X-100X大景深数码显微成像系统组: 一种新型的相位调制片改进的10X-100X大景深数码显微成像系统组，具体包括：1)一组10X、20X、40X、60X和100X显微成像物镜；2)相位调制片；3)分光镜、目镜、光电转换器件、显示屏和连接输出终端的数字解调器...; 陈燕平刘钦晓余飞鸿; 文献传递

波前编码双共轭梯度平方稳定解码算法及其TMS320DM642平台的实现被引量：1: 2012年; 波前编码是一种新型的光学-数字混合二步成像系统,采用三次光学编码相位板可以得到系统的非对称点扩散函数和相当景深内模糊程度一致的中间图像.本文利用空间域光学成像模型,结合反镜像边界束缚条件以及矩阵的直积分解,提出一种基于双共轭梯度平方稳定算法(Bi-CGSTAB)的图像复原算法实现波前编码系统的数字解码.该算法具有计算量小、计算速度快,几乎没有边界效应等优点.在此基础上结合TMS320DM642平台并行计算的特点,将新的算法重新优化并移植到TMS320DM642平台上.整个平台由图像采集模块、图象显示模块以及外部存储器等模块组成.通过专门设计的光学系统,分别对物距为1m、5m和10m处的物体以及人像进行成像.对中间模糊像的恢复实验结果表明,新的算法在TMS320DM642平台上图像复原速度快,效果好,为波前编码系统的真正便携和实用提供了可能.; 隋元明刘鹏刘钦晓张磊余飞鸿陈燕平; 关键词：波前编码

薄膜厚度和光学常数的主要测试方法被引量：36: 2006年; 准确地测量和控制薄膜厚度和光学常数等参数,在薄膜制备和分析和应用都是极为重要的。对薄膜的厚度和光学常数测试方法作了归纳和分类,并对几种主要的测试方法作了简要的介绍,分析了各自的特点及存在的问题。在测量薄膜的厚度和光学常数时,必须根据待测样品和测量精度要求选择合适的方法。; 陈燕平余飞鸿; 关键词：薄膜厚度光学常数光谱测量椭偏测量

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陈燕平