于春青
- 作品数：16 被引量：8H指数：2
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- 多电压集成电路的瞬时剂量率辐射效应试验研究被引量：3
- 2017年
- 瞬时剂量率辐射会对集成电路产生不同程度的影响,产生扰动、翻转、闩锁甚至烧毁等问题。针对一款具有两种电源电压的0.18μm SRAM电路,利用"强光一号"装置进行了瞬时γ剂量率辐射试验,研究了SRAM电路的内核电压和IO电压受扰动后的恢复时间,并对试验结果进行了分析。高电源电压扰动恢复时间优于低电源电压扰动恢复时间,该发现对多电压集成电路瞬时剂量率效应的评估和加固具有指导意义。
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- 一种通用的激光背辐照试验样品制备方法
- 本发明公开了一种通用的激光背辐照试验样品制备方法，首先根据待测芯片管脚数目选取通用管壳；再根据待测芯片尺寸和敏感区分布决定管壳开孔方案，并根据开孔方案对通用管壳进行开孔；然后将裸芯键合到选取的已开孔的通用管壳里，使待测芯...
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- SRAM型FPGA单粒子效应敏感性分析研究被引量：5
- 2012年
- 首先描述了典型的SRAM型FPGA内部通常包含的三类基本资源,并分析三类基本资源内部不同功能的电路单元对单粒子效应的敏感性,归纳出Virtex系列SRAM型FPGA中6种类型的单粒子效应敏感结构单元,并得出这些敏感结构单元的单粒子翻转、单粒子功能中断、单粒子闩锁的检测方式,最后对SRAM型FPGA单粒子效应评估研究的发展趋势做了简要总结。
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- 关键词：单粒子翻转
- 一种抗辐射加固模块级电路仿真测试方法
- 一种抗辐射加固模块级电路的仿真测试方法，将现有的商用软件仿真工具和自定义开发技术相结合，最大程度利用已有的辐射试验数据信息，统计区分具有相同库单元结构但功能不同电路的单粒子结果，定义关键因素和影响因子，运用数学统计的方法...
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- 视觉信息处理电路的单粒子效应测试方法、装置、系统及电子设备
- 本发明公开了一种视觉信息处理电路的单粒子效应测试方法、装置、系统及电子设备，属于器件测试技术领域。所述方法包括辐照时，控制视觉信息处理电路的各功能模块依次运行，且在控制下一功能模块运行前，先判断当前功能模块功能是否正常；...
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- 一种磁阻式随机存取存储器的总剂量效应评估方法及系统
- 本发明公开了一种磁阻式随机存取存储器的总剂量效应评估方法及系统，本发明测试模式包括静态测试、动态读测试、动态写测试和不加电对比测试；通过分析不同测试模式下磁阻式随机存取存储器的总剂量辐射特性，能够有效评估总剂量效应。本发...
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- 一种抗辐射加固模块级电路仿真测试方法
- 一种抗辐射加固模块级电路的仿真测试方法，将现有的商用软件仿真工具和自定义开发技术相结合，最大程度利用已有的辐射试验数据信息，统计区分具有相同库单元结构但功能不同电路的单粒子结果，定义关键因素和影响因子，运用数学统计的方法...
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- 文献传递
- 激光模拟磁阻式随机存取存储器的单粒子闩锁评估方法
- 一种激光模拟磁阻式随机存取存储器的单粒子闩锁评估方法，通过包括磁阻式随机存取存储器、试验电路板、线缆、程控电源，上位机的单粒子闩锁评估系统，首先进行背辐照样品制备及功能测试，以通过功能测试的磁阻式随机存取存储器进行激光单...
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- 基于激光实验探测32位微处理器的敏感体深度
- 2015年
- 为了更好地设置不同错误率预估模型的参数以及为抗辐射加固设计提供指导,以微处理器为例,针对敏感体深度这一参数进行了探测.利用脉冲激光局域辐照以及聚焦深度可调的优势对180nm体硅CMOS工艺的32位微处理器的缓存(cache)区域、寄存器堆(regfile)区域以及组合逻辑区域进行了敏感体深度的探测,结果表明,在同一工艺下的不同功能敏感区域内,其敏感体深度基本一致,均为1μm左右.这一方法能够准确、方便、快速地获取器件的敏感参数,为更好地对器件进行错误率预估提供参考.
- 于春青范隆岳素格陈茂鑫郑宏超
- 关键词：微处理器
- 基于测试指令序列的单粒子敏感器件的敏感性预估方法
- 基于测试指令序列的单粒子敏感器件的敏感性预估方法，充分考虑了器件不同测试程序之间的差异性，提供了一种通用的计算器件不同应用程序下单粒子敏感性的途径。本发明方法通过单粒子试验获取电路敏感单元的静态单粒子翻转截面，采用对不同...
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- 文献传递
