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刘金鑫

作品数:5 被引量:9H指数:2
供职机构:中国电子科技集团公司第四十六研究所更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术一般工业技术更多>>

文献类型

  • 5篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 2篇碳化硅
  • 1篇单晶
  • 1篇单晶生长
  • 1篇氮化
  • 1篇氮化铝
  • 1篇氮化镓
  • 1篇压力控制
  • 1篇衍射
  • 1篇载气
  • 1篇致密
  • 1篇射线衍射
  • 1篇数据监控
  • 1篇双晶衍射
  • 1篇碳化
  • 1篇气相
  • 1篇气相沉积
  • 1篇气相沉积法
  • 1篇气相外延
  • 1篇氢化
  • 1篇氢化物

机构

  • 5篇中国电子科技...

作者

  • 5篇刘金鑫
  • 3篇徐永宽
  • 3篇王利杰
  • 2篇史月增
  • 2篇杨丹丹
  • 2篇程红娟
  • 2篇于凯
  • 2篇岳洋
  • 2篇张峰
  • 1篇张丽
  • 1篇齐海涛
  • 1篇张嵩
  • 1篇李晖
  • 1篇徐所成
  • 1篇殷海丰
  • 1篇郝建民
  • 1篇于祥潞
  • 1篇李强

传媒

  • 2篇自动化应用
  • 1篇功能材料
  • 1篇固体电子学研...
  • 1篇微纳电子技术

年份

  • 2篇2021
  • 1篇2017
  • 1篇2012
  • 1篇2010
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
碳化硅晶体生长的压力模糊PID控制研究被引量:1
2021年
针对碳化硅单晶生长过程中压力控制范围大,控制精度高的需求,改变了常规的PID控制,将模糊PID算法应用到碳化硅单晶生长的压力控制系统中,根据系统压力的测量值和目标值实时的修正控压仪表的PID3个控制参数,并由控压仪表的输出调节真空室和真空泵之间的蝶阀开启比例,保证碳化硅晶体生长中全程压力范围内的压力的精确控制,有助于提高碳化硅单晶的晶体质量。
于凯王利杰刘金鑫
关键词:碳化硅单晶生长模糊PID压力控制晶体质量
HVPE法生长AlN薄膜材料被引量:2
2010年
利用自制立式HVPE设备,在蓝宝石衬底上进行了不同载气情况下AlN的生长试验,生长温度1 000℃。在采用H2作载气情况下,由于预反应严重,没能生长出AlN薄膜,只得到一些白色AlN粉末;而在分别采用Ar和N2作载气的情况下,则成功生长出AlN薄膜,但由于生长温度低,AlN生长均为岛状生长模式。在生长速率较快时,AlN薄膜是以〈0001〉AlN为主的AlN多晶;而在较低生长速率下,得到的AlN薄膜由为〈0001〉取向的AlN岛组成。试验还发现:用Ar作载气更有利于AlN晶核的横向生长,用N2作载气则有相对高得多的AlN成核密度。
徐永宽李强程红娟殷海丰于祥潞杨丹丹刘金鑫岳洋张峰
关键词:氮化铝载气蓝宝石衬底X射线衍射
碳化硅智能制造系统综述被引量:1
2021年
国内高纯半绝缘碳化硅单晶未能实现工程化的原因,在于生产效率和产品的一致性较差,因此提出了建立碳化硅智能制造平台这一解决途径,以提高晶体生产效率和产品的一致性为目标,以数据监控等为基础,建立基于模型的仿真方法,采用生长过程仿真分析、制造过程监控和工艺参数自适应控制,来提高碳化硅单晶生长过程的智能化控制水平,进而推进高纯半绝缘碳化硅单晶片的产业化进程。
于凯王利杰刘金鑫
关键词:碳化硅数据监控模拟仿真自适应控制
HVPE生长厚层GaN基片V/Ⅲ对结晶质量的影响被引量:1
2012年
采用HVPE法,通过改变V/Ⅲ生长厚层GaN基片。分别采用X射线双晶衍射摇摆曲线、拉曼光谱及扫描探针显微镜进行生长晶体结晶质量和显微形貌分析。生长出表面光亮、无坑、无裂痕的60μm以上厚层GaN基片,并简要介绍厚层GaN基片生长过程中V/Ⅲ影响成核岛演变的规律。
杨丹丹徐永宽程红娟张嵩李晖徐所成史月增刘金鑫岳洋张峰郝建民
关键词:氢化物气相外延氮化镓X射线双晶衍射
高温化学气相沉积法制备致密碳化钽涂层被引量:4
2017年
采用高温化学气相沉积法(CVD)在高纯高密石墨基片的表面沉积了碳化钽(TaC)涂层。通过研究气化温度、气体流量及沉积温度对TaC涂层表面质量的影响,确定了高温CVD法制备TaC涂层的工艺参数,最终获得高致密度的TaC涂层。
张丽齐海涛徐永宽王利杰史月增刘金鑫
关键词:TAC涂层
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