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宋元伟

作品数:3 被引量:10H指数:2
供职机构:中国科学院上海硅酸盐研究所更多>>
相关领域:一般工业技术电气工程化学工程电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 1篇化学工程
  • 1篇电子电信
  • 1篇电气工程
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 3篇SRTIO3
  • 2篇电子能量损失...
  • 2篇SRTIO
  • 2篇EELS
  • 2篇掺杂
  • 1篇电容
  • 1篇电容器
  • 1篇电容器材料
  • 1篇偏析
  • 1篇钛酸
  • 1篇钛酸锶
  • 1篇介电
  • 1篇介电常数
  • 1篇晶界层
  • 1篇高介电常数

机构

  • 3篇中国科学院

作者

  • 3篇宋元伟
  • 2篇顾辉
  • 2篇方平安
  • 1篇奚益明
  • 1篇沈辉
  • 1篇王评初
  • 1篇潘晓明

传媒

  • 1篇材料科学与工...
  • 1篇无机材料学报
  • 1篇第八届全国青...

年份

  • 2篇2002
  • 1篇2001
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
掺杂(Fe、Nb)SrTiO_3晶界组成的电子能量损失谱(EELS)分析被引量:2
2002年
采用高空间分辨率扫描透射电镜(STEM)对掺杂(Fe3+、Nb5+)SrTiO3晶界进行了观察,并利用采集的电子能量损失谱(EELS)对晶界组成进行了分析.结果表明,掺杂Fe的SrTiO3陶瓷晶界存在1nm左右的非晶膜,同晶体内部相比晶界缺Sr;三叉晶界为钛基玻璃相,Ti、O及Fe含量明显高于晶界.掺Nb的SrTiO3陶瓷晶界同晶粒相比同样缺Sr,三叉晶界主要以SiO2非晶相为主.Fe3+、Nb5+对Ti4+的替位及在晶界的偏析引起SrTiO3晶格畸变是导致晶界组成变化的主要原因.
方平安顾辉宋元伟
关键词:EELSSRTIO3掺杂钛酸锶电子能量损失谱
掺杂(Fe、Nb)SrTiO3晶界组成的电子能量损失谱(EELS)分析
采用高空间分辨率扫描透射电镜(STEM)对掺杂(Fe <'3+>、Nb <'5+>) SrTiO <,3>晶界进行了观察,并利用采集的电子能量损失谱(EELS)对晶界组成进行了分析.结果表明,掺杂Fe的SrTiO <,3...
方平安顾辉宋元伟
关键词:掺杂偏析电子能量损失谱
文献传递
低温一次烧结高介电常数晶界层电容器材料被引量:8
2002年
报道了一种在较低温度一次烧结制备的具有高介电常数,较低损耗和良好显微结构的晶界层电容器材料(简称GBBLC)。材料的有效介电常数高达37×10^4,损耗可控制在4%,晶粒5μm左右,△C/C<±3%(20-150℃),频率色散较小,且制备工艺简单。
沈辉潘晓明宋元伟奚益明王评初
关键词:介电常数SRTIO3
共1页<1>
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