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陈腊

作品数：6 被引量：1H指数：1
供职机构：上海大学更多>>
发文基金：国家自然科学基金国家教育部博士点基金更多>>
相关领域：理学自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇中文专利

领域

  • 2篇自动化与计算...

主题

  • 4篇总线
  • 4篇接口
  • 4篇接口总线
  • 2篇电子器件
  • 2篇仪表
  • 2篇应变仪
  • 2篇扫描测量
  • 2篇数据采集
  • 2篇数据采集分析
  • 2篇数据采集分析...
  • 2篇阻抗
  • 2篇阻抗特性
  • 2篇静态应变仪
  • 2篇交流阻抗
  • 2篇磁场

机构

  • 4篇上海大学

作者

  • 4篇陈腊
  • 4篇张金仓
  • 4篇曹世勋
  • 4篇康保娟
  • 2篇敬超
  • 2篇李哲
  • 2篇沈少喜
  • 2篇李备战
  • 2篇周云

年份

  • 2篇2013
  • 2篇2011
共 6 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
一种极端条件下测量材料应变特性的方法
本发明涉及一种极端条件下测量材料应变特性的方法及系统。本方法操作步骤为：1.在具有极端条件的综合物性测量系统中安置样品；2.利用惠斯通半桥法测量应变；3.利用静态应变仪在预设温度磁场值下测量样品应变；4.消除误差。本系统...
陈腊李哲康保娟沈少喜敬超曹世勋张金仓
文献传递
极端条件下测量材料或电子器件交流阻抗特性的方法及系统
本发明涉及一种极端条件下测量材料或电子器件交流阻抗特性的方法及系统。本方法操作步骤为：1.在具有极端条件的综合物性测量系统中安置样品；2.通过循环设置LCR仪表测量参数实现扫描测量功能；3.利用LCR仪表测量样品交流阻抗...
陈腊周云康保娟李备战张金仓曹世勋
文献传递
一种极端条件下测量材料应变特性的方法及系统
本发明涉及一种极端条件下测量材料应变特性的方法及系统。本方法操作步骤为：1.在具有极端条件的综合物性测量系统中安置样品；2.利用惠斯通半桥法测量应变；3.利用静态应变仪在预设温度磁场值下测量样品应变；4.消除误差。本系统...
陈腊李哲康保娟沈少喜敬超曹世勋张金仓
极端条件下测量材料或电子器件交流阻抗特性的方法及系统
本发明涉及一种极端条件下测量材料或电子器件交流阻抗特性的方法及系统。本方法操作步骤为：1.在具有极端条件的综合物性测量系统中安置样品；2.通过循环设置LCR仪表测量参数实现扫描测量功能；3.利用LCR仪表测量样品交流阻抗...
陈腊周云康保娟李备战张金仓曹世勋
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