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韩玮智

作品数:2 被引量:2H指数:1
供职机构:浙江大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:一般工业技术理学更多>>

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 2篇溅射
  • 2篇反应磁控溅射
  • 2篇P型
  • 2篇磁控
  • 2篇磁控溅射
  • 2篇ZNO薄膜
  • 1篇直流反应磁控...
  • 1篇密度泛函
  • 1篇密度泛函理论
  • 1篇泛函
  • 1篇泛函理论
  • 1篇NA
  • 1篇N掺杂
  • 1篇P型ZNO
  • 1篇P型ZNO薄...
  • 1篇ZNO
  • 1篇掺杂
  • 1篇衬底
  • 1篇衬底温度

机构

  • 2篇浙江大学
  • 1篇河南大学
  • 1篇杭州电子科技...

作者

  • 2篇韩玮智
  • 1篇季振国
  • 1篇张品
  • 1篇席俊华
  • 1篇王超

传媒

  • 1篇人工晶体学报

年份

  • 2篇2007
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
p型Na:ZnO薄膜的制备及其表征
ZnO为Ⅱ-Ⅵ族化合物半导体材料,具有压电、热电、气敏、光电导等多种性能,在许多领域都有广泛的应用。近年来ZnO在光电领域的应用引起了人们的很大关注,这是由于ZnO在室温下禁带宽度为3.37eV,可以用来制备蓝光或紫外发...
韩玮智
关键词:ZNO薄膜密度泛函理论反应磁控溅射
文献传递
衬底温度对直流反应磁控溅射法制备的N掺杂p型ZnO薄膜性能的影响(英文)
2007年
利用直流反应磁控溅射法(纯金属锌作为靶材,Ar-N2-O2混合气体作为溅射气体)在石英玻璃衬底上制备了N掺杂p型ZnO薄膜。通过XRD、Hall和紫外可见透射谱分别研究了衬底温度对ZnO薄膜结构性能、电学性能和光学性能的影响。XRD结果显示所有制备的薄膜都具有垂直于衬底的c轴择优取向,并且随着衬底温度的增加,薄膜的晶体质量得到了提高。Hall测试表明衬底温度对p型ZnO薄膜的电阻率具有较大影响,400℃下生长的p型ZnO薄膜由于具有较高的迁移率(1.32 cm2/Vs)和载流子浓度(5.58×1017cm-3),因此表现出了最小的电阻率(8.44Ω.cm)。
王超季振国韩玮智席俊华张品
关键词:ZNO薄膜P型直流反应磁控溅射
共1页<1>
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