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顾聪

作品数:3 被引量:0H指数:0
供职机构:中国科学院上海冶金研究所上海微系统与信息技术研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 3篇晶体管
  • 3篇绝缘栅
  • 3篇场效应
  • 2篇异质结
  • 2篇绝缘栅场效应...
  • 2篇GAALAS...
  • 2篇HIGFET...
  • 2篇场效应晶体管
  • 1篇有限元
  • 1篇泄漏电流
  • 1篇静态模型
  • 1篇绝缘
  • 1篇场区
  • 1篇I

机构

  • 3篇中国科学院上...

作者

  • 3篇顾聪
  • 3篇王德宁
  • 3篇王渭源

传媒

  • 2篇电子科学学刊
  • 1篇Journa...

年份

  • 1篇1992
  • 1篇1991
  • 1篇1990
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
i-GaAlAs/GaAs异质结绝缘栅场效应晶体管的静态特性研究
1991年
本文在改进型电荷控制模型基础上,引进GSW速度场方程,推导出异质结绝缘栅场效应晶体管(HIGFETs)的I_D-V_D-V_G,I_(DS)-V_G,G_m,和C_G等一系列静态特性方程。计算结果与文献实测值进行了比较,在V_G<2V,I_D
王德宁顾聪王渭源
关键词:异质结场效应晶体管绝缘
异质结绝缘栅场效应晶体管(HIGFETs)高场区静态特性模型和栅泄漏电流研究
1990年
本文在改进型电荷控制模型基础上,结合GSW速度场特性,提出了适用于HIGFETs器件的新的高场区(I_D>I_(Ds))的静态特性模型,从而导出了I-V,I_(Ds)-V_(Ds),g_(ms),g_D和C_G等参数的解析表示式。计算结果和文献实测值符合甚好。在此基础上,本文还提出了栅泄漏等效电路模型,对其起因和影响因素,及其对g_(ms),g_D及C_G的影响,以及降低其影响的途径等进行了讨论。计算结果与实测值也较符合。
顾聪王德宁王渭源
关键词:HIGFETS静态模型
i-GaAlAs/GaAs HIGFETs器件参数的有限元分析
1992年
本文用有限元法对 i-GaAlAs/GaAs HIGFETs的稳态特性进行了二维数值模拟和分析。为了在有限内存的微机中,进行快速计算,在程序中,对边界条件,网格剖分和初值选取等方面进行了改进。使计算的收敛速度和精度有了提高。可方便地得到器件内部的电位和载流子浓度等物理量的二维分布。其输出特性和实验数据基本吻合。
顾聪王德宁王渭源
关键词:绝缘栅场效应晶体管有限元
共1页<1>
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