朱学亮
- 作品数：142 被引量：22H指数：3
- 供职机构：西安工业大学更多>>
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- 相关领域：机械工程理学自动化与计算机技术电子电信更多>>
- 一种光学结构对称型透射光栅式成像光谱仪
- 一种光学结构对称型透射光栅式成像光谱仪，包括前置物镜，入射狭缝，准直系统，平面透射光栅，聚焦系统，探测器，所述前置物镜与准直系统连接，所述入射狭缝位于前置透镜和准直系统的焦平面处，所述平面透射光栅左端连接准直系统，平面透...
- 李世杰刘佳梅蔡长龙梁海锋刘丙才朱学亮
- 一种共光路相移数字全息显微测量装置
- 本发明公开了一种共光路相移数字全息显微测量装置，包括沿光路方向依次固定设置的光纤激光器(1)、光纤准直器(2)、可调衰减器(3)、显微物镜(5)、平面平晶I(6)、平面平晶II(7)、压电陶瓷驱动器(8)、会聚透镜(9)...
- 刘丙才冯方田爱玲刘卫国王红军朱学亮岳鑫潘永强
- 大口径大相对孔径抛物面反射镜面形误差的检测方法
- 本发明涉及一种大口径大相对孔径抛物面反射镜面形误差的检测方法。现有方法成本高、精度低其效率也较低。本发明的方法为选择透射标准镜头；调整激光波面干涉仪的位置；调整被测抛物面反射镜的焦点与激光波面干涉仪的焦点重合；调整被测抛...
- 刘丙才王红军王春慧朱学亮田爱玲潘永强杨皓聿鲍佳男
- 一种光谱共焦式透镜中心厚度测量方法及装置
- 本发明涉及一种光谱共焦式透镜中心厚度测量方法及装置。现有方法和装置在测量时存在的较大误差且耗时。所述测量方法是利用面阵相机和电视图像辅助定心，然后采用光谱共焦的手段测量光学透镜的中心厚度；保证测量对象的正确性，大大提高测...
- 王春慧田爱玲王红军朱学亮刘丙才
- 一种基于随机两步相移的面形检测方法
- 一种基于随机两步相移的面形检测方法，属于光学检测技术领域，本发明要解决现有技术对测量环境要求苛刻和测量误差大的问题。本发明所提供的技术方案是：随机获取两步相移干涉图，通过随机两步相移算法对这两幅干涉图进行相位解调；对解调...
- 朱学亮李靓田爱玲王红军刘丙才万鑫
- 显微镜（透射式数字全息）
- 1．本外观设计产品的名称：显微镜（透射式数字全息）。;2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于测量透射物体的微纳米量级三维形貌及相位。;3．本外观设计产品的设计要点：产品的形状。;4．最能表明本外观设计设计要点的图片...
- 刘丙才田爱玲王红军朱学亮赵思伟岳鑫
- 双缝干涉条纹解码光谱共焦位移传感器及其位移测量方法
- 本发明涉及一种双缝干涉条纹解码光谱共焦位移传感器及其位移测量方法。目前光谱共焦位移传感器的光谱解析单元均采用光栅光谱仪，分光原理复杂，成本较高，探测波长会随着时间及环境发生漂移，影响到传感器的测量精度。本发明的传感器包括...
- 王春慧田爱玲王红军刘丙才朱学亮
- TIE和角谱迭代用于光学元件表面划痕深度检测被引量：1
- 2023年
- 针对散射法在检测光学元件表面划痕时只能得到其光场分布而无法直接得到划痕深度信息的问题,将角谱迭代算法、光强传输方程(TIE)和角谱迭代结合的算法应用到光学元件表面划痕深度检测中。首先,采集光学元件表面的光场分布,分别利用两种重建算法得到表面划痕的相位分布,通过表面划痕对相位的调制特性计算出划痕深度;然后,从强度误差、相关系数及相对均方根误差来对两种算法的有效性进行评价;最后,通过实验验证了光学元件表面划痕深度重建结果的准确性。结果表明,与角谱迭代算法相比,TIE和角谱迭代相结合的算法重建划痕深度的相对误差更小,重建效果更好,重建精度更高。
- 孟昕王红军王大森田爱玲刘丙才朱学亮刘卫国
- 关键词：散射法
- 光谱共焦扫描共光路数字全息测量系统及测量方法
- 本发明为一种光谱共焦扫描共光路数字全息测量系统及测量方法，其克服了现有技术中存在的仅适用于待测物体表面反射或透射形成的相位变化测量，无法实现透明物体各分层界面微观形貌的高精度、非接触、同步三维形貌测量。本发明包括依次设置...
- 田爱玲张英鸽刘丙才钱晓彤王红军朱学亮岳鑫刘卫国
- 滚子表面缺陷检测方法、计算机设备和存储介质
- 本发明公开了一种滚子表面缺陷检测方法、计算机设备和存储介质，涉及无损检测技术领域，该方法包括：获取预设检测位的图像采集设备采集的待检测滚子的初始检测图像，其中，预设检测位的图像采集设备形成对待检测滚子的全方位检测；对同一...
- 马跃洋尹青青刘丙才朱学亮王红军田爱玲
