朱小平
- 作品数：60 被引量：66H指数：4
- 供职机构：中国计量科学研究院更多>>
- 发文基金：中央级公益性科研院所基本科研业务费专项国家自然科学基金河南省科技攻关计划更多>>
- 相关领域：机械工程一般工业技术金属学及工艺自动化与计算机技术更多>>
- 一种自支撑多材料镀层膜厚标准套件及制备方法
- 本发明属于现代表面工程领域，提供了一种自支撑多材料镀层膜厚标准套件及制备方法。所述方法通过在若干平面基体的表面分别镀制一种不同靶材的膜层，制备出多种靶材膜层的膜厚标准块，在使用时，把至少一种以上膜厚标准块和金属基体按照预...
- 朱小平李加福杜华
- 文献传递
- CCD传感器用于刻线自动瞄准的研究被引量：3
- 2003年
- 本文提出一种采用CCD器件作为光学传感器来实现对刻线的自动瞄准方法 ,在对刻线影像数据的处理中首次提出并实现了三种不同的算法。通过对这三种不同处理算法进行了详细有效对比研究试验 ,结果表明 :采用这种自动瞄准算法是成功和可行的 ,它对CCD用于刻线的自动瞄准具有普遍意义 ,将带来广泛的应用。
- 朱小平
- 关键词：刻线CCD传感器灰度值像素
- 一种基于高度尺测量的便携式静力水准仪校准的装置
- 本发明涉及一种基于高度尺测量的便携式静力水准仪校准的装置，属于仪器仪表领域。包括高度尺（1），液位管（2），储水槽（3），静力水准仪（5），连通静力水准仪（5）和储水槽（3）的工作液体连接管（4），平台（6），垫块（7）...
- 崔建军陈恺黄杨邵宏伟杜华朱小平
- 文献传递
- 自支撑金属超薄膜厚度的测量技术
- 介绍了白光光谱共焦进行表面光学定位的原理和同轴共轭对称的自支撑金属薄膜厚度测量系统,通过对标准台阶高度和标准量块厚度的测量试验,以及测量结果不确定度的分析,验证该薄膜厚度测量系统的准确性和可靠性,在300μm的厚度范围内...
- 朱小平杜华王蔚晨
- 关键词：厚度测量测量不确定度
- 文献传递
- 一种基于激光跟踪仪折射补偿的三维水箱定位精度检测方法
- 一种基于激光跟踪仪折射补偿的三维水箱定位精度检测方法，采用激光跟踪仪按照常规方法测量靶球在充满水的三维水箱内的位移量；然后分别建立ADM折射补偿模型和建立IFM折射补偿模型；求解靶球位置坐标以及计算三维水箱定位精度。本发...
- 杜华李加福张辉朱小平纪振超褚芃
- 文献传递
- 激光多普勒技术与直线度测量被引量：2
- 1995年
- 在三坐标测量机（ＣＭＭ）及精密加工机床等设备的高精度测量中，主轴及导轨的直线度、水平或竖直偏摆角的测量是相当重要的。在过去，这类机器的直线度的测量，大部实现起来比较困难，或者精度很低且费时。这里我们将介绍一种直线度测量的新方法，采用双光束系统的激光多普勒测量仪（简称ＬＤＤＭ），通过测量每一点的偏摆角，并按一定的准则计算出直线度。下面将分别简述有关的原理、精度及与其它测量方法相比较的优越性．由于这种测量技术可以对位移和角度进行同时测量，使得直线度实现了在线测量，这就为三维坐标测量仪器的精度拟合及代替线性编码器进行位置和直线性的标定提供了简易高效的新方法．
- 朱小平池晓红
- 关键词：激光干涉仪直线度
- JJF1306-2011《X射线荧光镀层测厚仪校准规范》解读
- 2012年
- 一、制定背景2000年前后,国内电子、通信行业的迅猛发展,带来电镀行业的广泛需求。应国际贸易和质量体系认证的需求,许多企业工厂纷纷购置了相关的镀层厚度检测仪器和设备,同时也带来镀层膜厚量值传递和溯源问题。当然,有些外资企业,通过仪器自带的标准器直接溯源到国外,而大部分企业部门,则处于自行封闭测量和不做量值溯源的状况,国家没有一个明确的量值传递体系,镀层膜厚的量值处于一种混乱的状态。
- 朱小平
- 关键词：X射线荧光校准规范电镀行业检测仪器
- 高精度直径测量技术研究的新进展被引量：6
- 2008年
- 直径是几何量测量的重要参量之一,无论工业应用还是在计量研究领域,探索高精度圆柱直径的测量方法具有重要的科学价值和应用前景。本文介绍了国内外研究机构在高精度直径测量技术领域取得的新成果,及各种测量方法的关键技术及其仪器在结构设计、光学设计等方面的特点。并根据目前直径测量技术的发展状况讨论了未来高精度直径测量技术的发展和研究趋势。
- 王蔚晨崔京远黄杨杜华朱小平
- 关键词：计量学孔径测量
- X荧光光谱分析法在镀层厚度测量中的应用
- 基于X射线荧光光谱的基础理论,简要分析了能量色散X射线荧光光谱分析方法的工作原理及其在镀层厚度测量中的应用技术.通过对一组相同结构不同厚度标准片的实际测量,在薄膜厚度测量非线性数学模型条件下,通过评估测量中各种不确定度来...
- 朱小平杜华王蔚晨
- 关键词：能量色散不确定度
- 文献传递
- 基于反向共轴的大口径平面光学元件面形测量被引量：2
- 2021年
- 提出了一种基于反向共轴的大口径平面光学元件面形测量方法。将双位移传感器反向共轴线扫描测量模式和多角度旋转三面互检技术结合,借助直线长导轨有效扩大平面光学元件测量口径,同时测量过程中不需要使用标准平晶,避免引入标准平晶参考面不确定度分量,测量结果直接溯源到激光波长基准。利用该测量方法对3块∅400 mm口径光学平晶进行面形测量,验证了该测量方法的可行性。
- 赵彦龙李加福朱小平杜华陈爱军胡佳成
- 关键词：计量学面形测量光学元件
