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谭超元
作品数:
4
被引量:1
H指数:1
供职机构:
信息产业部电子第五研究所
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相关领域:
电子电信
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合作作者
钟征宇
信息产业部电子第五研究所
罗宏伟
信息产业部电子第五研究所
杜磊
西安电子科技大学
庄奕琪
西安电子科技大学
恩云飞
信息产业部电子第五研究所
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超大规模集成
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机构
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西安电子科技...
作者
4篇
谭超元
2篇
罗宏伟
2篇
钟征宇
1篇
孔学东
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庄奕琪
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恩云飞
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杜磊
传媒
2篇
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电子产品可靠...
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第九届全国可...
年份
1篇
2001
3篇
2000
共
4
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一种集成电路可靠性的综合模拟方法
该文介绍了一种集成电路可靠性的综合模拟方法。将电路模拟分析中常用的蒙特卡罗分析方法应用于集成电路可靠性的模拟分析,得到了一种可以模拟多种失效机理的可靠性模拟软件。该软件只需要经过一次模拟就可以得到描述两种失效机理的失效率...
谭超元
钟征宇
关键词:
集成电路
可靠性分析
文献传递
TH-E:MOS器件可靠性寿命综合模拟软件
该文中描述了一种典型的MOSFET可靠性模拟软件,软件中不仅包括针对N型和P型MOSFET器件中热载流子效应、TDDB效应以及电迁移效应的单一机理软件件模块,而且还包括热载流子效应和TDDB效应的综合模拟以及上述三种失效...
罗宏伟
孔学东
钟征宇
谭超元
关键词:
MOS器件
热载流子效应
文献传递
电迁移物理模型参数统计特性提取新方法
被引量:1
2000年
随着VLSI技术的发展,电迁移已成为集成电路最主要的失效原因之一,其可靠性评估技术也显得愈加重要。要改进该技术,不仅需要确定可靠性物理模型参数,而且要求掌握参数的统计分布特性。基于电迁移物理模型,提出一种提取参数统计分布特性的新方法。与传统方法相比,此方法不仅所需实验样品少、实验次数少,能真正得到反映样品离散性的物理模型参数的统计分布特性,而且也可用于其它失效机理(如栅氧击穿)物理模型中。
杜磊
庄奕琪
谭超元
关键词:
超大规模集成电路
可靠性
KGD技术发展动态
裸芯片在国内有着广泛的用途和市场,尤其是在军用HIC和MCM应用领域,裸芯片质量和可靠保证一直是人们关注的热点.本文论述了已知良好芯片(KGD)保证的主要技术要求,国外KGD技术发展现状,以及国内发展KGD技术面临的机遇...
恩云飞
罗宏伟
谭超元
关键词:
裸芯片
可靠性
混合集成电路
多芯片组件
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