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刘志农

作品数:18 被引量:35H指数:4
供职机构:清华大学信息科学技术学院微电子学研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:电子电信一般工业技术理学经济管理更多>>

文献类型

  • 15篇期刊文章
  • 2篇会议论文
  • 1篇学位论文

领域

  • 17篇电子电信
  • 1篇经济管理
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 9篇SIGE
  • 8篇SIGE_H...
  • 6篇HBT
  • 5篇晶体管
  • 4篇UHV/CV...
  • 3篇锗化硅
  • 2篇电学
  • 2篇电学特性
  • 2篇双极晶体管
  • 2篇硅锗
  • 2篇半导体
  • 1篇导体
  • 1篇低噪
  • 1篇低噪声
  • 1篇电路
  • 1篇电视
  • 1篇电视网
  • 1篇电压
  • 1篇电子辐照
  • 1篇电阻

机构

  • 18篇清华大学
  • 1篇北京有色金属...

作者

  • 18篇刘志农
  • 15篇钱佩信
  • 11篇陈培毅
  • 7篇黄文韬
  • 4篇罗广礼
  • 4篇刘志弘
  • 4篇林惠旺
  • 3篇付玉霞
  • 3篇陈长春
  • 3篇熊小义
  • 3篇贾宏勇
  • 2篇王吉林
  • 2篇李高庆
  • 2篇许军
  • 2篇张伟
  • 2篇邓宁
  • 2篇张伟
  • 1篇窦维治
  • 1篇黎晨
  • 1篇孟祥提

传媒

  • 4篇Journa...
  • 4篇中国集成电路
  • 1篇半导体情报
  • 1篇半导体技术
  • 1篇核技术
  • 1篇光谱学与光谱...
  • 1篇真空科学与技...
  • 1篇微电子学
  • 1篇微纳电子技术
  • 1篇第十二届全国...
  • 1篇第十二届全国...

年份

  • 1篇2005
  • 1篇2004
  • 6篇2003
  • 4篇2002
  • 3篇2001
  • 3篇2000
18 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
高电压微波功率SiGe HBT研究
在大量工艺优化的基础上,在国内首先成功开发出5英寸单晶发射极SiGeHBT器件工艺(即SiGF/SiGG)和多晶发射极SiGeHBT器件工艺(即SiGH)。这些工艺仅需6步光刻(SiGG仅需5步光刻),片内的成品率达80...
刘志农
关键词:多晶发射极化学气相淀积功率晶体管
SiGe HBT Class AB Power Amplifier for Wireless Communications被引量:1
2002年
Good performance SiGe power amplifiers applicable to wireless communications are demonstrated.The output power can reach more than 30dBm in class B mode.And in class AB mode,the output power at 1dB compression point ( P 1dB ) is 24dBm,the output third order intercept (TOI) power is 39dBm under V cc of 4V.The highest power added efficiency (PAE) and PAE at 1dB compression point are 34% and 25%,respectively.The adjacent channel power rejection for CDMA signal is more than 42dBc,which complies with IS95 specification.
贾宏勇刘志农李高庆钱佩信
关键词:SIGEHBT
纳米尺度加工技术概述
2002年
本文简要介绍了微电子光刻技术的发展和现有的一些可替代技术及其优缺点,并介绍了一些利用常规方法和工艺手段实现局域或自组装纳米结构的方法。
王吉林邓宁刘志农黄文韬陈培毅
关键词:光刻技术微电子工艺纳米压印量子点特征尺寸微电子技术
一种测量外延层厚度及掺杂浓度的改进方法被引量:2
2003年
在双台面SiGeHBT加工工艺过程中,采用RIE工艺刻蚀发射极台面时,为了避免等离子轰击对外基区表面造成损伤,同时为了防止过刻到基区,必须严格控制发射极台面的高度,从而必须准确知道未刻蚀前的厚度和刻蚀后的厚度。现有的许多对材料厚度及掺杂浓度的分析方法,具有各自的优缺点。本文提出了一种可以同时检测外延层的厚度及掺杂浓度分布的方法,这种方法具有简单、高效、低成本的优点。
刘志农熊小义付玉霞张伟陈培毅钱佩信
关键词:EFL四探针双极性晶体管
弛豫SiGe外延层的UHV/CVD生长被引量:5
2000年
利用自制的冷壁石英腔 UHV/CVD设备 ,60 0℃条件下 ,通过 Ge组分渐变缓冲层技术 ,在 Si( 1 0 0 )衬底上成功地生长出完全弛豫、无穿透位错的 Si0 .83Ge0 .17外延层 ,并在其上获得了具有张应变的 Si盖帽层 .另外 ,还在 550℃下生长了同样结构的样品 ,发现此样品厚度明显变薄 ,组分渐变层的应变释放不完全 ,位错网稀疏而且不均匀 ,其上的 Si0 .83Ge0 .
罗广礼林小峰刘志农陈培毅林惠旺钱佩信刘安生
关键词:外延层UHV/CVD锗化硅
Polysilicon Emitter Double Mesa Microwave P ower SiGe HBT被引量:3
2003年
A new 125mm UHV/CVD SiGe/Si epitaxy equipment SGE500 capable of commercialization is constructed and device-level SiGe HBT material is grown.A polysilicon emitter (PolyE) double mesa microwave power SiGe HBT showing excellent low current DC characteristics with β=60@V CE/I C=9.0V/300μA,β=100@5V/50mA,BV CBO=22V,f t/f max=5.4GHz/7.7GHz@3V/10mA is demonstrated.The PolyE SiGe HBT needs only 6 lithographical steps and cancels the growth of the thick emitter epitaxy layer,both of which show great potential for volume production.A 60-finger class-A SiGe linear power amplifer (PA) w ith 22dBm of 1dB compress point output power (P 1dB),11dB of power gain (G p) and 26.1% of power added efficiency (PAE) @900MHz,3.5V/0.2A is demonstrated.Another 120-finger class-A SiGe PA with 33.3dBm (2.1W) of P out,10.3dB of G p and 33.9% of PAE @900MHz,11V/0.52A is also demonstrated.
刘志农熊小义黄文韬李高庆张伟许军刘志弘林惠旺许平陈培毅钱佩信
关键词:SIGEHBT
SiGe技术研发现状与发展趋势(上)
2003年
SiGe 技术发展迅速,本文将依次介绍:IBM 公司的 SiGe 技术进展、SiGe 外延设备产业化的情况。当前 SiGe 技术的最新进展和 SiGe 晶圆代工的现况、业界主要 SiGe 公司的 SiGe 产品发展现状。SiGe 产品已在通信领域遍地开花。
刘志农钱佩信
关键词:SIGE
有弛豫缓冲层的SiGe HMOSFET材料
利用超高真空气相外延(UHV/CVD)设备SGE400生长了有弛豫缓冲层的Si<,1-x>Ge<,x>MOSFET材料.采用多种手段分析了材料的生长速率、生长质量.结果证明SGE400系统可以较好控制Ge的组分,并得到高...
黄文韬刘志农罗光礼陈培毅钱佩信
关键词:SIGE材料生长速率
文献传递
UHV/CVD多晶锗硅及其电学特性
2004年
 采用自行研制的超高真空化学气相淀积(UHV/CVD)设备,研究了在550°C下SiO2薄膜上多晶SiGe成核时间和生长速率与GeH4和B2H6流量的关系,以及不同温度下快速热退火对多晶SiGe电阻率的影响。实验结果表明,多晶SiGe成核时间随GeH4流量的增加而增加;在小的GeH4流量下,其生长速率随GeH4和B2H6流量的增加而增加,但比同等条件下单晶SiGe生长速率低;其电阻率随GeH4流量的增加而下降,随快速热退火温度的升高而下降。
黄文韬陈长春刘志农邓宁刘志弘陈培毅钱佩信
关键词:UHV/CVD快速热退火
UHV/CVD硅锗膜的Raman光谱分析被引量:7
2001年
本文提出一种用Raman光谱测量SiGe合金膜中的锗组分及应变的方法 ,方法是非破坏的。并用这一方法测量了几种不同锗组分和膜厚度的SiGe合金样品 ,它们都是用UHV/CVD设备生长的。其中两个样品还与X 射线双晶衍射的结果作了比较 ,两种方法的结果十分一致 ,这说明本文提出的方法是准确可靠的。这些样品用于制作SiGe/Si异质结PMOSFET ,对 0 5 μm沟长器件 ,跨导达 112ms·mm-1。
朱培喻陈培毅黎晨罗广礼贾宏勇刘志农钱佩信
关键词:SIGE合金UHV/CVD拉曼光谱分析半导体薄膜
共2页<12>
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