2025年1月10日
星期五
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史晶晶
作品数:
34
被引量:8
H指数:2
供职机构:
株洲南车时代电气股份有限公司
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发文基金:
国家科技重大专项
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相关领域:
电子电信
理学
金属学及工艺
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合作作者
李诚瞻
电力电子器件湖南省重点实验室湖...
刘可安
株洲南车时代电气股份有限公司
吴佳
株洲南车时代电气股份有限公司
赵艳黎
株洲南车时代电气股份有限公司
刘国友
株洲南车时代电气股份有限公司
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作者
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史晶晶
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1篇
2012
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一种制作碳化硅SBD器件的方法及其正面保护方法
本申请公开了一种制作碳化硅SBD器件的方法及其正面保护方法,包括:在碳化硅晶圆正面的氧化层上设置类金刚石膜;去除所述碳化硅晶圆的背面的氧化层;在所述碳化硅晶圆的背面制作欧姆接触;在所述碳化硅晶圆的正面刻蚀窗口;在所述碳化...
史晶晶
李诚瞻
刘国友
赵艳黎
周正东
高云斌
吴佳
杨勇雄
刘可安
文献传递
一种碳化硅器件背面欧姆接触的制作方法
本申请公开了一种碳化硅器件背面欧姆接触的制作方法,包括在碳化硅片的正面制作正面碳膜;在所述碳化硅片的背面制作背面碳膜;对所述碳化硅片进行高温退火,激活所述碳化硅片中的注入杂质;去除所述正面碳膜和所述背面碳膜;去除所述碳化...
周正东
李诚瞻
刘可安
刘国友
史晶晶
吴佳
杨程
文献传递
肖特基势垒二极管及其制造方法
本发明公开了一种肖特基势垒二极管及其制造方法,属于半导体技术领域,解决了现有的肖特基势垒二极管的开启电压较高的技术问题。该肖特基势垒二极管,包括:N型碳化硅衬底;位于所述N型碳化硅衬底上的低掺杂N型外延层;位于所述低掺杂...
李诚瞻
刘可安
吴煜东
杨勇雄
史晶晶
蒋华平
唐龙谷
赵艳黎
吴佳
文献传递
一种大电流碳化硅SBD/JBS功率芯片结构及其制造方法
一种大电流碳化硅SBD/JBS功率芯片结构及其制造方法,该结构包括好的元件和坏的元件,所述好的元件和坏的元件在铜盖和铜底之间采用压接式封装;所述铜盖与好的元件的金属接触层阳极之间通过第一钼片扣合,所述铜底与好的元件阴极之...
李诚瞻
吴煜东
刘可安
周正东
史晶晶
杨勇雄
吴佳
蒋华平
赵艳黎
半导体器件耐压终端结构及其应用于SiC器件的制造方法
本发明公开了一种半导体器件耐压终端结构及其应用于SiC器件的制造方法,耐压终端结构包括:第一掺杂区,以及掺杂浓度相对于第一掺杂区较轻的第二掺杂区。半导体器件耐压终端结构的刻蚀剖面采用连续光滑曲面的台面结构,刻蚀剖面从第一...
吴佳
吴煜东
刘可安
李诚瞻
史晶晶
蒋华平
唐龙谷
赵艳黎
杨勇雄
文献传递
一种用于SiC功率器件的碳保护膜的制备方法及应用
本发明涉及一种用于SiC功率器件的碳保护膜的制备方法,包括将碳纳米管置于酸液中加热,将得到的具有亲水性的碳纳米管置于水中进行超声分散,然后在SiC晶圆表面旋涂成膜,最后通过烘焙使溶剂完全挥发。本发明还提供了所述碳保护膜在...
史晶晶
李诚瞻
刘国友
赵艳黎
周正东
高云斌
吴佳
杨勇雄
刘可安
文献传递
一种半导体结构的掺杂方法
本申请提供了一种半导体结构的掺杂方法,包括:对半导体结构分别进行P型杂质离子注入和N型杂质离子注入;对离子注入后的半导体结构进行退火;其中,所述退火过程包括:升温至第一激活温度,在所述第一激活温度保持第一预设时间;从所述...
周正东
李诚瞻
史晶晶
刘国友
吴佳
丁荣军
文献传递
一种用于碳化硅器件表面碳保护膜去除的方法
本发明公开了一种用于碳化硅器件表面碳保护膜去除的方法。本发明所提供的方法包括如下步骤:1)将表面负载有碳保护膜的SiC晶圆浸没在液相除碳剂中进行超声处理;2)将超声处理后的SiC晶圆置于后处理剂中进行后处理。本发明的方法...
史晶晶
李诚瞻
吴煜东
周正东
赵艳黎
高云斌
吴佳
杨勇雄
丁荣军
文献传递
高性能碳化硅混合功率模块研制
被引量:6
2013年
报道了一种基于自主封装技术的高性能、高效率碳化硅(SiC)混合功率模块,该功率模块的反向阻断电压为1 200 V,正向导通电流为480 A。动态测试表明,其峰值反向恢复电流Irr仅为-115 A,关断延迟时间td(off)为3.36μs,关断能量损耗Eoff为296.82 mJ,开通延迟时间td(on)仅为0.66μs,开通能量损耗Eon仅为242.27 mJ,输出功率可达到百千瓦级别。与传统的硅基IGBT模块相比,该碳化硅混合功率模块大大降低了模块的能量损耗。
邵云
史晶晶
李诚瞻
彭勇殿
关键词:
SIC
SBD
IGBT
能量损耗
一种碳化硅肖特基二极管及其制备方法
本申请公开了一种碳化硅肖特基二极管及其制备方法,其中,所述二极管包括:第一掺杂类型碳化硅衬底;位于所述衬底一侧的阴极;位于所述衬底背离所述阴极一侧的外延层;位于所述外延层表面的阳极;所述外延层的掺杂浓度由所述阳极边界至所...
李诚瞻
高云斌
史晶晶
周正东
吴煜东
丁荣军
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