杨君 作品数:3 被引量:9 H指数:2 供职机构: 北京师范大学核科学与技术学院射线束技术与材料改性实验室 更多>> 发文基金: 北京市重点实验室 更多>> 相关领域: 理学 机械工程 轻工技术与工程 更多>>
微束X射线荧光分析谱仪及其对松针中元素的分布分析 被引量:7 2007年 介绍了一种小型的微束X射线荧光分析谱仪,它是由导管X光透镜和能量色散X射线荧光分析谱仪组成.谱仪具有较高的空间分辨率和能量分辨率.使用本谱仪对松树针叶进行了微区分析,得出各种元素沿松针长度方向和横切面径向的分布规律.结果表明使用X光透镜的微束X射线荧光分析方法可以实现植物样品的微区分析,有助于进一步了解植物的生长与元素迁移的关系. 初学莲 林晓燕 程琳 潘秋丽 杨君 丁训良关键词:X光透镜 松针 整体毛细管X射线半会聚透镜在微区EXAFS分析技术中的应用 被引量:2 2007年 利用整体毛细管X射线半会聚透镜对同步辐射X射线进行聚焦,经透镜会聚的微焦斑直径在10μm量级,焦斑位置处的功率密度增益在10^3量级.在5.5—11.5keV能量范围内,透镜焦斑直径由38μm变为29μm,透镜传输效率由26.1%变为20.5%,焦斑的中心位置移动了3μm;透镜的出口焦距变化了155μm.在上述透镜性能研究的基础上,研究了该微焦斑同步辐射在微区EXAFS(Extended X-ray Absorption Fine Structure)分析技术中的应用. 孙天希 刘志国 韦世强 贺博 韦正 杨君 曾毅 林晓燕 初学莲 丁训良掠出射微区X射线荧光分析系统的建立及其在薄膜分析中的应用 2009年 建立了应用导管X光透镜的掠出射微区X射线荧光分析系统,并将该系统应用于纳米薄膜的分析。为了提高入射X射线的强度并提高系统的空间分辨率,选用焦斑为41.7μm的会聚透镜对原级X射线进行会聚,并在探测器前加上50μm的狭缝以提高掠出射角扫描的角度分辨率。为了提高工作效率,编写了该系统的自动控制软件,实现了样品的自动扫描。利用该系统对采用金属蒸汽真空电弧(MEVVA)源离子束和薄膜沉积技术制备的纳米薄膜进行了掠入射X射线荧光和二维扫描分析。实验结果表明:该系统能有效地分析纳米厚度的薄膜,通过对薄膜进行掠出射角扫描分析和表面的二维扫描分析,得到了薄膜的厚度,密度及均匀性等信息。微区分析的空间分辨率可达到41.7μm,实际空间分辨率为扫描步长50μm。系统可用于分析薄膜样品,且荧光强度高,所需时间短,获得的信息全面丰富,数据可靠。 杨君 刘志国 徐清 韩东艳 林晓燕 杜晓光 Kouichi Tsuji 丁训良关键词:全反射