赵宗彦
- 作品数：44 被引量：92H指数：6
- 供职机构：安徽大学物理与材料科学学院物理系更多>>
- 发文基金：安徽省自然科学基金国家自然科学基金安徽省高校省级自然科学研究项目更多>>
- 相关领域：理学一般工业技术电气工程机械工程更多>>
- Si基片上Ag膜的微结构及光学常数研究被引量：7
- 2002年
- 用真空蒸镀法在室温Si基片上制备了Ag薄膜 ,并用X射线衍射及反射式椭偏光谱技术对薄膜的微结构和光学常数进行了测试分析。结构分析表明 :制备的Ag膜晶体仍为面心立方结构 ,呈多晶状态 ,晶粒择优取向于 [111],平均晶粒尺寸约为 2 2 7nm ,晶格常数 ( 0 4 0 860nm)比标准值 ( 0 4 0 862nm)略小。在 2 5 0～ 83 0nm波长范围椭偏光谱测量结果表明 :Ag膜的折射率和消光系数分别在 0 15～ 1 4 9和 0 3 1～ 5 77之间。与块材相比 ,在块材的折射率大于一定值 ( 1 0 0～ 1 3 3 )时 ,Ag膜的折射率比块材的小 ,其余范围则增大 ;Ag膜的消光系数减小。并给出了一套较为可靠的、具有实用价值的Ag薄膜光学常数。
- 何玉平孙兆奇李爱侠赵宗彦孙大明
- 关键词：微结构光学常数椭偏光谱硅基片银薄膜真空蒸镀
- Zn_(0.85)Co_(0.15)O薄膜的制备及其结构分析被引量：2
- 2003年
- 用电子束蒸镀方法在(100)单晶Si衬底上,生长Zn0.85Co0.15O薄膜,并研究了衬底温度对薄膜质量的影响,结果表明当衬底温度为400℃时,外延膜取向性最好,且其(002)衍射峰半高宽最窄(为0.4834°)。
- 李爱侠苏凤莲周圣明刘艳美赵宗彦
- 关键词：衬底温度微结构
- Monte Carlo方法测定反常散射因数的应用
- 1993年
- 用Monte Carlo法求解GaAs中Ga的反常散射因数。
- 韩家骅吴以勤胡余根郑万鎏赵宗彦
- 关键词：反常散射
- 原子吸收限附近完整晶体内的能流方向
- 1997年
- 研究了原子吸收限附近对称劳厄和布拉格情况下完整晶体内的能流方向．发现在对称劳厄情况下，只有当原子散射因子的虚部对衍射的贡献可以与实部的贡献相比较时，晶体内与色散面上某一结点相对应的能流会偏离色散面的实部的法向；而在对称布拉格情况下，即使在原子散射因子的虚部对衍射的贡献可以忽略时，在所谓的“全反射”区内也会偏离．当衍射仅由原子的虚部引起时，这种偏离在对称劳厄情况下最大，而在对称布拉格情况下最小．
- 徐章程郭常霖赵宗彦周圣明深町共荣根岸利一郎
- 关键词：完整晶体晶体
- 混相铁氧体材料的结构分析被引量：1
- 1999年
- 研究几种用不同组分试制的多相混合铁氧体材料,揭示出烧结温度和成分对形成W 型铁氧体材料的作用。
- 李爱侠罗纲赵宗彦胡国光尹萍李文凤
- 关键词：烧结温度相结构铁氧体
- KdV方程的精确解析解被引量：25
- 2002年
- 应用行波法 ,齐次平衡法和Jacobi椭圆函数展开法求解KdV方程 ,不仅获得了该方程的准确周期解及孤波解 ,而且给出了若干新的精确解析解。这些结果说明 ,本文所用的方法可以用来求解一大类非线性方程。
- 韩家骅徐勇陈良刘艳美赵宗彦
- 关键词：KDV方程精确解析解孤波解行波法齐次平衡法JACOBI椭圆函数展开法
- 可用微机运行的晶体结构分析程序系统CSPS
- 1989年
- 本文介绍可用微机运行的晶体结构分析程序系统CSPS的编制原理和特点。该系统由6个主要部分组成:1)衍射数据的处理;2)付里叶合成及帕特逊合成;3)结构因子计算;4)最小二乘精化;5)键长和键角的计算;6)作图。该系统可用于解决X射线晶体结构分析中的几个基本计算。
- 胡余根钱开益刘尔宁赵宗彦
- 关键词：X射线衍射晶体结构分析程序系统
- GaAs中Ga的反常散射因数的测定
- 1993年
- 讨论了利用Bijvoet对积分反射强度(以下略称为反射强度)测定GaAs中Ga原子在其K吸收限附近的反常散射因数的几种方法,并用±(333)及±(555)面的反射强度较好地求得了f’_(Ga)及f"_(Ga).
- 赵宗彦吴以勤韩家骅胡余根郑万鎏深町共荣吉(氵尺)正美江原健治中岛哲夫
- 关键词：反常散射
- MgF_2在变温过程中的结构变化研究
- 2003年
- 采用X射线衍射仪高温附件测定了MgF2粉末从室温至1000℃的温度范围内的XRD谱,用Rietveld全谱拟合方法精化了各个温度下的相关参数。研究发现:置于大气中的纯MgF2高温易氧化,在700℃左右存在一个异常膨胀区,MgF2的两个F原子随温度升高有一种围绕Mg原子转动的趋势。
- 刘艳美赵宗彦李爱侠杨坤堂韩家骅孙兆奇
- 关键词：电子陶瓷MGF2XRD固态相变
- 在Si基底上真空蒸发沉积Ag-MgF_2复合薄膜的内应力研究被引量：2
- 2003年
- 报道了用电子薄膜应力分布测试仪测量了不同温度、不同厚度的Ag MgF2复合薄膜的内应力变化情况,得到了基底温度(退火温度)在300～400℃范围内薄膜平均应力最小,且处于张应力向压应力转变区域。XRD分析表明,在Ag MgF2复合薄膜中Ag对复合薄膜内应力的影响大于MgF2。
- 李爱侠孙大明孙兆奇宋学萍赵宗彦刘艳美
- 关键词：真空蒸发沉积内应力微结构
