刘萍
- 作品数：9 被引量：12H指数：2
- 供职机构：北京航空航天大学航空科学与工程学院更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家教育部博士点基金北京市教育委员会共建项目更多>>
- 相关领域：理学一般工业技术电气工程电子电信更多>>
- 微连接电致应力的有限元分析方法研究
- 本文以电迁移的控制方程为依据,通过对该方程的离散化和ABAQUS二次开发,实现了电致应力应变的有限元计算。计算结果表明:电致Mises应力为15.4Mpa,剥离应力与切应力可达50MPa。证明电致应力是微连接可靠性评价不...
- 李伟佳刘萍苏飞
- 关键词：电迁移有限元
- 文献传递
- 国内翻译专业或方向硕士研究生课程实施的调查与研究
- 刘萍
- 关键词：课程实施翻译课程
- 微连接电致应力的有限元分析方法研究
- 本文以电迁移的控制方程为依据通过对该方程的离散化和ABAQUS二次开发,实现了电致应力应变的有限元计算.计算结果表明：电致Mises应力为15.4Mpa,剥离应力与切应力可达50MPa.证明电致应力是微连接可靠性评价不可...
- 李伟佳刘萍苏飞
- 关键词：有限元计算
- 文献传递
- 声表面波卷积/相关解调器的设计
- 刘萍邵定容
- 关键词：卷积解调器信息处理数字通信系统
- 有限高狭长压电体中半无限运动裂纹问题解析解
- 通过引入保角变换,利用复变函数法,分析了部分裂纹面上受反平面剪应力和面内电载荷共同作用下有限高狭长压电体中的运动裂纹问题,导出了电不可通边界条件下裂纹尖端场强度因子和机械应变能释放率的解析解。
- 刘萍袁泽帅卢子兴
- 关键词：复变函数法
- 文献传递
- 有限高狭长压电体中共线双半无限裂纹问题的解析解被引量：4
- 2011年
- 通过引入合适的保角变换,利用复变函数法,分析了部分裂纹面上受反平面剪应力和面内电载荷共同作用下有限高狭长压电体中含共线双半无限裂纹问题,导出了电不可通边界条件下两个裂纹尖端场强度因子和机械应变能释放率的解析解.当不考虑电场作用时,所得解可退化到经典弹性材料的情况.而当两裂纹尖端的距离趋于无穷大时,也可退化为狭长压电体中半无限裂纹问题的解.最后,通过数值算例,讨论了受载长度、狭长体高度、机电载荷对机械应变能释放率的影响规律以及两个裂纹之间的相互作用.结果表明,两裂纹尖端的距离越短,材料越容易破坏;且机电载荷对左尖端裂纹的扩展影响更为显著.
- 卢子兴刘萍郭俊宏
- 关键词：复变函数法
- 有限高狭长压电体中半无限反平面裂纹分析被引量：9
- 2011年
- 利用保角变换和复变函数方法,研究了裂纹面上受反平面剪应力和面内电载荷共同作用下的有限高狭长压电体中半无限裂纹的断裂问题,给出了电不可通边界条件下裂纹尖端场强度因子和机械应变能释放率的解析解.当狭长体高度趋于无限大时,可得到无限大压电体中半无限裂纹的解析解.若不考虑电场作用,所得解可退化为纯弹性材料的已知结果.此外,通过数值算例,分析了裂纹面上受载长度、狭长体高度以及机电载荷对机械应变能释放率的影响规律.
- 郭俊宏刘萍卢子兴秦太验
- 关键词：半无限裂纹复变函数方法
- SAWD在CNI中用作相关器时某些问题的探讨
- 刘萍丁子明
- 关键词：表面波计算机模拟同步信号导航相关器卷积器
- 硅通孔中电致应力的有限元分析
- 2014年
- 在三维电子封装中,硅通孔(TSV,Through-Silicon-Via)是实现芯片垂直互连的关键环节,其可靠性至关重要.随着硅通孔中电流密度的增大,电致应力对TSV可靠性的影响也越来越大.基于该耦合方程和有限元的一般原理,详细地推导了弹性材料属性下TSV内部的电致应力、应变的有限元分析模型;利用ABAQUS中的用户自定义单元(user defining element)接口,实现了该模型的有限元计算,并利用解析解对该有限元模型的正确性进行了验证.利用有限元模型对TSV中铜填充的电迁移问题进行了分析计算,描述了铜填充在电迁移过程中电致应力、应变以及空位浓度的演化过程和分布规律,为三维电子封装可靠性的全面评估提供了一定的依据.
- 苏飞卢子兴刘萍王渊
- 关键词：电迁移有限元
