屈新萍 作品数:99 被引量:69 H指数:5 供职机构: 复旦大学 更多>> 发文基金: 国家自然科学基金 “上海-应用材料研究与发展”基金 上海市教育发展基金 更多>> 相关领域: 电子电信 理学 一般工业技术 金属学及工艺 更多>>
基于不同扩散阻挡层的籽晶铜上电镀孪晶铜初步研究 本文采用电镀方法制备具有一定孪晶密度的纯铜样品,并对不同的电镀参数和不同电镀衬底的实验结果进行了初步比较。发现不同的衬底结构对孪晶的产生和密度有很大影响。同时发现 W 基扩散阻挡层的电镀铜有很强的(111)择优晶向。 赵莹 谢琦 屈新萍关键词:电镀 孪晶 文献传递 Co/a-GeSi/Ti/Si多层薄膜固相反应外延生长CoSi_2薄膜 2003年 研究了在 Co/Ti/Si结构中加入非晶 Ge Si层对 Co Si2 /Si异质固相外延的影响 ,用离子束溅射方法在Si衬底上制备 Co/Ge Si/Ti/Si结构多层薄膜 ,通过快速热退火使多层薄膜发生固相反应。采用四探针电阻仪、AES、XRD、RBS等方法进行测试。实验表明 ,利用 Co/Ge Si/Ti/Si固相反应形成的 Co Si2 薄膜具有良好的外延特性和电学特性 ,Ti中间层和非晶 Ge Si中间层具有促进和改善 Co Si2 外延质量 ,减少衬底耗硅量的作用。Ge原子的存在能够改善外延 Co Si2 徐蓓蕾 屈新萍 韩永召 茹国平 李炳宗 W.Y.Cheung S.P.Wong Paul K.Chu关键词:金属硅化物 固相外延 扩散阻挡层 晶格失配 一种工艺优化的金半接触结构的制备方法 本发明属于微电子技术领域,具体为一种工艺优化的金半接触结构的制备方法。本发明利用聚苯乙烯(PS)微球作为掩膜,采用高、低两种不同功函数金属淀积金半接触结构。由于PS微球结构稳定,单层膜易于制备,通过单层密布的PS微球作为... 蒋玉龙 于浩 茹国平 屈新萍 李炳宗 张卫文献传递 镍钬合金全硅化物金属栅的制备和表征 研究了Ni-Ho合金法制备全硅化物金属栅工艺以及Ho合金对栅电极薄层电阻和功函数的影响。随Ho浓度从0%加到10%和30%,形成的全硅化物金属栅的薄层电阻从1.4Ω/□分别增加到1.8Ω/□和3.1Ω/□,平带电压从-0... 王保民 茹国平 蒋玉龙 屈新萍 李炳宗关键词:性能表征 超薄外延CoSi_2/n-Si的肖特基势垒接触特性 被引量:7 2000年 研究了超薄 (~ 1 0 nm) Co Si2 /Si的肖特基势垒接触特性 .Co( 3— 4nm) /Ti( 1 nm)双层金属通过快速热退火在 Si( 1 0 0 )衬底上形成超薄 Co Si2 薄膜 .X射线衍射测试表明该薄膜具有较好的外延特性 .用 I- V、C- V方法在 82— 332 K温度范围内测试了 Co Si2 /Si的肖特基势垒特性 .用弹道电子发射显微术直接测量了微区肖特基势垒高度 .测试表明 ,用 Co/Ti/Si方法形成的超薄Co Si2 /Si接触在室温时具有优良的肖特基势垒特性 ,I- V方法测得的势垒高度为 0 .59e V,其理想因子为 1 .0 1 ;在低温时 ,I- V方法测得的势垒高度随温度降低而降低 ,理想因子则升高 .采用肖特基势垒不均匀性理论 ,并假设势垒高度呈高斯分布 。 屈新萍 茹国平 徐蓓蕾 李炳宗关键词:肖特基势垒 固相外延 超薄 Ta/TaN作为Cu和NiSi接触的阻挡层研究 研究了以Ta/TaN作为阻挡层的Cu在Nisi衬底上的接触的热学及电学稳定性。用四探针方法(FPP)、X射线衍射谱(XRM)、扫描电子显微镜(SEM)、深度俄歇电子能谱(AES)、电流-电压测试(I-V)及肖特基势垒高度... 周觅 赵莹 黄巍 王保民 茹国平 蒋玉龙 李炳宗 屈新萍关键词:互联技术 阻挡层 性能评价 具有尖峰状底电极的有机阻变存储器及其制备方法 本发明属于微电子技术领域,具体涉及一种具有尖峰状底电极、平整顶电极的有机阻变存储器(RRAM)及其制备方法。本发明首先制备尖峰图形的衬底,然后依次淀积底电极、旋涂有机介质层、淀积顶电极,最终形成具备尖峰状底电极的有机RR... 于浩 王井舟 蒋玉龙 茹国平 屈新萍 李炳宗一种压力可控的键合夹具及其使用方法 本发明涉及一种压力可控的键合夹具,包含基板,其两端分别设有第一端盖、第二端盖;夹持组件,设置于第一端盖和第二端盖之间,用于夹持键合物,包含第一压头部、第二压头部,第一压头部与第二压头部相对的表面均可以固定键合物;以及设置... 屈新萍 王鹏 胡春凤一种复制纳米压印模板的方法 本发明属于纳米压印技术领域,具体为一种复制纳米压印模板的方法。其步骤包括:在衬底上旋涂并前烘双层胶,衬底是硅、二氧化硅或者玻璃等,上层为SU8胶,下层为LOR胶,经过压印或者是压印结合曝光处理,原始模板上的图形转移到SU... 万景 屈新萍 谢申奇 陆冰睿 疏珍 刘冉 陈宜方文献传递 LPCVD-SiGe薄膜的物理及电学特性 被引量:4 2007年 采用低压化学气相沉积法(LPCVD),分别在n-Si和SiO2衬底上制备Si1-xGex薄膜。Ge的组分比由俄歇电子谱(AES)测定。对n-Si和SiO2衬底上的Si1-xGex分别进行热扩散和热退火处理,以考察热扩散和退火条件对薄膜物理及电学特性的影响。薄膜的物相由X射线衍射(XRD)确定。其薄层电阻、载流子迁移率及浓度分别由四探针法和霍尔效应法测定。基于XRD图谱,根据Scherer公式,估算出平均晶粒大小。数值拟合得到霍尔迁移率与平均晶粒尺寸为近似的线性关系,从而得出LPCVD-Si1-xGex薄膜的电输运特性基本符合Seto模型的结论。 王光伟 屈新萍 茹国平 郑宏兴 李炳宗关键词:LPCVD 热扩散 热退火