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马铁中

作品数:10 被引量:0H指数:0
供职机构:浙江大学更多>>
相关领域:自动化与计算机技术电子电信更多>>

文献类型

  • 10篇中文专利

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 6篇电路
  • 6篇版图
  • 6篇成品率
  • 4篇有效面积
  • 4篇失效特征
  • 4篇集成电路
  • 4篇记忆体
  • 2篇电路版图
  • 2篇电路制造
  • 2篇电学测量
  • 2篇失效率
  • 2篇数据库
  • 2篇索引
  • 2篇索引表
  • 2篇通孔
  • 2篇逆运算
  • 2篇芯片
  • 2篇芯片设计
  • 2篇矩形网格
  • 2篇集成电路版图

机构

  • 10篇浙江大学

作者

  • 10篇郑勇军
  • 10篇马铁中
  • 10篇史峥
  • 10篇严晓浪
  • 3篇任杰
  • 2篇罗小华
  • 2篇熊建
  • 1篇叶翼

年份

  • 1篇2012
  • 1篇2011
  • 5篇2010
  • 3篇2008
10 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
一种动态估计缺陷所造成记忆体特征失效的方法
本发明公开一种动态估计缺陷所造成记忆体特征失效的方法,包括:(1)建立设计版图图形失效和记忆体特征失效相对应的数据库;(2)判断生产线缺陷所造成的版图图形失效;(3)判断图形失效特征相对应的记忆体特征失效;(4)判断整个...
叶翼马铁中郑勇军史峥严晓浪
文献传递
一种增加标准单元通孔提升芯片成品率的方法
本发明公开的增加标准单元通孔提升芯片成品率的方法,步骤包括:以芯片设计规则的最大公约数λ为基本单位,将标准单元版图均匀划分成矩形网格,设置格点属性构造格点属性矩阵;通过波传播操作、版图格点属性矩阵的与操作运算把通孔分为:...
罗小华严晓浪史峥郑勇军马铁中
文献传递
一种分析和提高半导体生产线的成品率的方法
本发明公开了一种分析和提高半导体生产线的成品率的方法,通过利用测试芯片来精确地确定生产线的各种工艺模块缺率陷曲线和接触孔的失效率以及结合对产品版图的每层断电和漏电的有效面积曲线和接触孔的个数的分析,从而建立成品率模型框架...
马铁中郑勇军史峥严晓浪
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一种利用有效面积来建立记忆体电路的成品率模型的方法
本发明一种利用有效面积来建立记忆体电路成品率模型的方法,包括:(1)建立记忆体原始成品率模型;(2)建立记忆体特征失效成品率的模型;(3)记忆体特征失效的修复计算;(4)记忆体最终成品率的计算;(5)记忆体特征失效和工艺...
郑勇军马铁中史峥严晓浪
文献传递
一种利用有效面积来建立记忆体电路的成品率模型的方法
本发明一种利用有效面积来建立记忆体电路成品率模型的方法,包括:(1)建立记忆体原始成品率模型;(2)建立记忆体特征失效成品率的模型;(3)记忆体特征失效的修复计算;(4)记忆体最终成品率的计算;(5)记忆体特征失效和工艺...
任杰郑勇军马铁中史峥严晓浪
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一种增加标准单元通孔提升芯片成品率的方法
本发明公开的增加标准单元通孔提升芯片成品率的方法,步骤包括:以芯片设计规则的最大公约数λ为基本单位,将标准单元版图均匀划分成矩形网格,设置格点属性构造格点属性矩阵;通过波传播操作、版图格点属性矩阵的与操作运算把通孔分为:...
罗小华严晓浪史峥郑勇军马铁中
一种快速提取版图关键面积的方法
本发明公开了一种快速提取版图关键面积的方法,包括提取版图信息、建立分块有序多级索引表、随机模拟生产工艺缺陷分析统计影响、利用分块有序多级索引表计算关键面积。本发明运用对集成电路版图的基本图形单元进行先分类后分层遍历版图树...
熊建任杰严晓浪史峥马铁中郑勇军
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一种快速提取版图关键面积的方法
本发明公开了一种快速提取版图关键面积的方法,包括提取版图信息、建立分块有序多级索引表、随机模拟生产工艺缺陷分析统计影响、利用分块有序多级索引表计算关键面积。本发明运用对集成电路版图的基本图形单元进行先分类后分层遍历版图树...
熊建任杰严晓浪史峥马铁中郑勇军
一种分析和提高半导体生产线的成品率的方法
本发明公开了一种分析和提高半导体生产线的成品率的方法,通过利用测试芯片来精确地确定生产线的各种工艺模块缺率陷曲线和接触孔的失效率以及结合对产品版图的每层断电和漏电的有效面积曲线和接触孔的个数的分析,从而建立成品率模型框架...
马铁中郑勇军史峥严晓浪
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一种动态估计缺陷所造成记忆体特征失效的方法
本发明公开一种动态估计缺陷所造成记忆体特征失效的方法,包括:(1)建立设计版图图形失效和记忆体特征失效相对应的数据库;(2)判断生产线缺陷所造成的版图图形失效;(3)判断图形失效特征相对应的记忆体特征失效;(4)判断整个...
马铁中郑勇军史峥严晓浪
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共1页<1>
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