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骆建

作品数：6 被引量：6H指数：2
供职机构：清华大学更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：理学更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 2篇会议论文

领域

  • 4篇理学

主题

  • 5篇射线衍射
  • 5篇X射线衍射
  • 3篇多晶
  • 2篇衍射
  • 2篇双层膜
  • 2篇计算机
  • 2篇XRD
  • 2篇XRD分析
  • 2篇X射线
  • 2篇X射线衍射谱
  • 1篇度分布
  • 1篇多晶薄膜
  • 1篇物相
  • 1篇物象
  • 1篇相分析
  • 1篇膜系统
  • 1篇计算机辅助分...
  • 1篇计算机模拟
  • 1篇镍
  • 1篇钼

机构

  • 6篇清华大学

作者

  • 6篇骆建
  • 5篇陶琨
  • 1篇殷宏
  • 1篇徐育敏
  • 1篇李彬
  • 1篇殷宏

传媒

  • 2篇物理学报
  • 2篇’94秋季中...
  • 1篇金属学报
  • 1篇真空科学与技...

年份

  • 1篇1997
  • 3篇1995
  • 2篇1994
共 6 条 记 录，以下是 1-6
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排序方式：
Pd/Ag双层膜系统扩散过程的XRD结构深度分布分析被引量：2
1997年
研究了X射线衍射的结构深度分布分析新方法该方法以不同的入射角入射，测量各物相的衍射谱，进而解出各确定深度处薄层的X射线衍射谱，从而可无损和定量地得到各深度处的衍射线的角度位置、强度和线型等全部结构信息此方法可得到各确定深度处的结构信息，而不是由表面到某深度处的平均结构信息；并且适用于具有择优取向的样品和吸收系数随深度而变化的样品．用此方法研究了Pd／Ag双层膜的退火过程，发现在互扩散的过程中，平行于初始界面的薄层中的结构不是微观均匀的，而是由两种具有不同点阵参数的固溶体构成的．结果证实该方法的可行性和有效性。
陶琨李彬骆建
关键词：X射线衍射双层膜XRD
多晶薄膜及表面层的XRD分析方法讨论
1995年
对多晶薄膜XRD分析的基本问题小角度衍射几何、非对称平行光束法和Seemann－Bohlin法的衍射几何强度计算，以及P－B法、S－B法对常规XRD分析的适应性进行了分析讨论。并对多晶薄膜XRD分析的当前进展、难点及发展作了分析。提出两种薄膜及表面层表征参量沿深度方向变化的情况下进行XRD深度分布分析的新方法，该方法具有真实深度尺度和定量的特点，并可用于界面分析。
陶琨骆建徐育敏
关键词：X射线衍射谱
表层物相探度分布的ＸＲＤ分析
骆建殷宏
关键词：X射线衍射计算机模拟相分析
X射线衍射多晶谱计算机深度层析技术探索
1995年
提出了一种可用于将来自不同真实深度处的X射线衍射谱信息各自分离出来的技术方案,可以得出不同深度处的衍射强度、峰位和线形.该方法是定量和无损的,并且其深度尺度是真实尺度.此外并提出了吸收深度的概念.这一技术可称为直接法X射线衍射计算机深度层析技术,其可行性用Ni/Mo.双层膜样品进行了初步验证.该方法可应用于定量无损地测量峰形、峰位和峰强的深度剖面,并有可能用于界面层分析.
骆建陶琨
关键词：X射线衍射谱CT
连续过渡型多晶物相深度分布的X射线衍射测试方法被引量：5
1995年
提出了以X射线衍射测量连续过渡型多晶物相深度分布的方案.该方案在入射角大于全反射角的常规条件下,实现了严格的真实尺度下的物相定量深度分布测量.以计算谱对方法及程序的正确性进行了验证,并用实际样品对方法的可行性进行了验证.
骆建殷宏陶琨
关键词：多晶物象
Ｎｉ／Ｍｏ双层膜的计算机法ＸＲＤ深度层析
骆建陶琨
关键词：层析X射线衍射计算机辅助分析
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共1页<1>
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