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刘兆枫

作品数:1 被引量:0H指数:0
供职机构:中国电子科技集团公司第四十六研究所更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电性能
  • 1篇介电
  • 1篇介电常数
  • 1篇介电性
  • 1篇介电性能
  • 1篇介质损耗
  • 1篇GHZ

机构

  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 1篇董彦辉
  • 1篇刘兆枫

传媒

  • 1篇印制电路信息

年份

  • 1篇2020
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
20 GHz^40 GHz微波介质基板带状线法介电性能测试研究
2020年
文章对采用20~40 GHz微波介质基板带状线法测试介电常数、介质损耗、介电常数温度系数进行了探究,并将该方法与TE01δ测试腔法和介质谐振器法介电测试结果进行了比较,经研究表明,采用带状线法对于20~40 GHz介电常数结果与TE01δ测试腔法和介质谐振器法一致性较好,由于介电常数温度系数只与介电常数和温度有关系,所以对于20~40 GHz介电常数温度系数也可以采用该方法进行测试。对于介质损耗的测试,采用带状线法测试结果还存在一定的误差,通过提高Q值,优化系统,可能会进一步提高介质损耗测试的准确性。
刘兆枫刘国龙董彦辉
关键词:介电常数介质损耗
共1页<1>
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