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杜影

作品数:51 被引量:24H指数:3
供职机构:北京航天测控技术有限公司更多>>
发文基金:中国人民解放军总装备部预研基金北京市科技新星计划总装备部“十一五”国防预研项目更多>>
相关领域:自动化与计算机技术电子电信电气工程文化科学更多>>

文献类型

  • 28篇专利
  • 15篇期刊文章
  • 5篇会议论文
  • 1篇科技成果

领域

  • 17篇自动化与计算...
  • 8篇电子电信
  • 4篇电气工程
  • 1篇文化科学

主题

  • 11篇扫描测试
  • 11篇边界扫描测试
  • 10篇嵌入式
  • 10篇PXI
  • 8篇嵌入式测试
  • 7篇电路
  • 7篇总线
  • 7篇接口
  • 5篇可测性
  • 5篇测试性
  • 5篇测试性设计
  • 4篇数模
  • 4篇向量
  • 4篇可测试性
  • 4篇可测试性设计
  • 4篇后缀
  • 4篇测试向量
  • 3篇信号
  • 3篇液晶屏
  • 3篇仪器平台

机构

  • 45篇北京航天测控...
  • 4篇北京航空航天...
  • 2篇北京航天长征...
  • 1篇北京系统工程...
  • 1篇中国人民解放...

作者

  • 49篇杜影
  • 30篇王石记
  • 28篇安佰岳
  • 24篇徐鹏程
  • 17篇李洋
  • 9篇殷晔
  • 9篇周庆飞
  • 6篇刘康丽
  • 5篇周志波
  • 4篇毕硕
  • 4篇付旺超
  • 4篇赵文彦
  • 3篇陈海波
  • 3篇吴朝华
  • 3篇周慧
  • 3篇袁海文
  • 2篇王怡
  • 2篇杨立杰
  • 2篇郭新楠
  • 2篇赵砚博

传媒

  • 12篇计算机测量与...
  • 3篇电力电子
  • 2篇第十七届全国...
  • 1篇第十五届全国...

年份

  • 2篇2023
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  • 1篇2020
  • 2篇2019
  • 1篇2018
  • 1篇2017
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  • 5篇2014
  • 7篇2013
  • 3篇2012
  • 8篇2011
  • 2篇2010
  • 1篇2009
  • 3篇2008
  • 2篇2007
  • 3篇2006
  • 1篇2004
  • 1篇2003
51 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
基于VXI总线的多功能边界扫描控制器的研制被引量:3
2006年
根据系统级边界扫描测试技术的需求,研制了基于VXI总线的多功能边界扫描测试控制器,具备三种操作模式:IEEE1149.1 TAP模式、IEEE1149.5主控制器模式和从控制器模式;由上位机控制模件组态到期望的模式,模件上的TAP口控制器产生1149.1测试信号,提供给JTAG口用于通过TDO/TDI扫描链对被测目标板进行边界扫描测试;IEEE1149.5主控制器可完成和从控制器间的通讯以便对机箱或子系统级中可测试性模件进行边界扫描测试,兼容于BSDL和EDIF文件格式的自动测试向量生成软件可实现多种扫描测试功能。
吴明强赵文彦杜影徐凌辉
关键词:边界扫描测试测试向量生成
一种用于PXI智能测试平台设备的集成触发路由装置
本实用新型公开了一种用于PXI智能测试平台设备的集成触发路由装置,其上的FPGA通过三类信号线连接背板上的外设插槽,包括TTL触发总线、星型触发线和差分触发线;其中,差分触发线包括3对差分输出线以及n组差分输入线;FPG...
周庆飞王石记安佰岳李洋杜影
文献传递
一种基于PXI/PXIe总线的平板仪器平台
本实用新型公开了一种基于PXI/PXIe总线的平板仪器平台,其体积小,超薄便携。该平板仪器平台的外壳为平板型,前面板安装带触摸屏的液晶屏,机芯置于外壳内部;机芯包括电源板卡、PXI系统控制器板卡和PXI/PXIe背板;电...
王石记周庆飞安佰岳周慧李洋杜影殷晔陈海波
文献传递
基于FPGA的板级BIST设计和实现策略被引量:7
2008年
为解决复杂电路板的测试问题,边界扫描、内建自测试等可测性设计技术相继发展,针对目前板级可测性设计发展状况,提出了基于FPGA的板级BIST设计策略;通过阐述存储器模块、逻辑模块和模拟模块三大部分的BIST设计,说明了基于FPGA进行板级模块BIST设计的灵活性和优势;最后,给出了在FPGA内构建BIST控制器的方法,并介绍了FPGA自测试的实现以及在板级设计过程中要考虑的问题。
杜影赵文彦安佰岳
关键词:BIST可测性DFTFPGA控制器
PXIe嵌入式系统控制器的电源管理装置
本发明公开了一种PXIe嵌入式系统控制器的电源管理装置,(1)机箱背板输出的PWRBTN_C#信号上拉至常3.3V电源(+3.3Vaux)后连接到嵌入式系统控制器核心处理模块的PWRBTN#信号端,其中+3.3Vaux是...
付旺超王石记殷晔周志波徐鹏程杜影郭新楠安佰岳
文献传递
一种基于嵌入式测试的PXIe背板
本实用新型提供了一种基于嵌入式测试的PXIe背板,该背板上用于测试的部分包括电压监控电路、电流检测电路、边界扫描测试电路和自检测控制器;电压监控电路、电流检测电路、边界扫描测试电路均与采用FPGA的自检测控制器相连;自检...
周志波安佰岳王石记殷晔李洋杜影
文献传递
基于边界扫描和BIST的电路板可测试性设计技术研究
本文主要阐述了两种先进的可测试性设计技术:边界扫描技术和BIST(内建自测试)技术在电路板可测试性设计中的应用.文中分析了两种技术的原理,讨论其可测试性设计方法,详细说明了某电路板的可测性设计过程,最后的测试结果充分证明...
杜影王石记安百岳徐鹏程
关键词:可测试性设计电路板
文献传递
一种用于PXI智能测试平台设备的集成触发路由装置
本发明公开了一种用于PXI智能测试平台设备的集成触发路由装置,其上的FPGA通过三类信号线连接背板上的外设插槽,包括TTL触发总线、星型触发线和差分触发线;其中,差分触发线包括3对差分输出线以及n组差分输入线;FPGA还...
周庆飞王石记安佰岳李洋杜影
文献传递
基于边界扫描的综合测试系统的研制
通过边界扫描各标准的研究,分析了基于边界扫描的综合测试系统结构组成,并完成了基于USB接口的MTM总线(IEEE1149.5)主控制器以及具有TAP接口的MTM总线从控制器设计,开发了包含向量生成.故障诊断等功能的上位机...
赵文彦徐鹏程杜影安佰岳
关键词:主控制器故障诊断电路测试
文献传递
基于边界扫描的BIST技术
近年来,随着信息化武器装备复杂度的增加和现场级快速测试诊断需求的增加,迫切需要基于边界扫描的BIST技术;在这种应用模式中,基于边界扫描的BIST技术能解决现场级快速测试诊断需求,测试结果仅需给出板卡是否有故障而不需要定...
王石记吴晓晔徐鹏程杜影安佰岳
关键词:故障诊断
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