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王灿

作品数:8 被引量:5H指数:1
供职机构:北京印刷学院更多>>
发文基金:国家自然科学基金北京市委组织部优秀人才培养资助项目更多>>
相关领域:一般工业技术化学工程艺术更多>>

文献类型

  • 5篇期刊文章
  • 2篇学位论文
  • 1篇会议论文

领域

  • 6篇一般工业技术
  • 2篇化学工程
  • 1篇艺术

主题

  • 3篇有限元
  • 3篇有限元法
  • 2篇弹性模量
  • 2篇应力
  • 2篇力学性能
  • 2篇介电
  • 2篇介电常数
  • 2篇PECVD
  • 2篇力学性
  • 1篇弹性性能
  • 1篇等离子体增强
  • 1篇等离子体增强...
  • 1篇低介电常数
  • 1篇多孔
  • 1篇性能分析
  • 1篇易拉罐
  • 1篇有限元方法
  • 1篇有限元分析
  • 1篇元方法
  • 1篇折射率

机构

  • 8篇北京印刷学院
  • 1篇北京工业大学

作者

  • 8篇王灿
  • 6篇张改梅
  • 6篇宋晓利
  • 3篇王俊程
  • 3篇郑永龙
  • 3篇陈强
  • 1篇何存富

传媒

  • 2篇包装工程
  • 2篇北京印刷学院...
  • 1篇机械工程学报
  • 1篇2015第四...

年份

  • 1篇2023
  • 1篇2018
  • 1篇2017
  • 2篇2015
  • 3篇2014
8 条 记 录,以下是 1-8
排序方式:
基于有限元法易拉罐跌落过程力学性能分析被引量:1
2014年
为了研究在不同跌落高度、不同跌落方式下易拉罐的应力分布及应力-时间曲线变化情况,基于有限元法对易拉罐在跌落过程中的力学性能进行了分析。结果表明:随着跌落高度的增加,易拉罐与地面接触部位的应力逐渐增大,且应力分布区域呈扩大状态。跌落方式不同,易拉罐所受应力、应力分布区域不同,易拉罐所受应力区域的大小与易拉罐跌落角度的大小并不成正比关系。
宋晓利张改梅王灿王俊程郑永龙
关键词:有限元易拉罐力学性能应力
基于UAFM纳米多孔氧化硅薄膜的制备及弹性模量的检测
随着大规模集成电路向高密度、高速方面的发展,器件的特征尺寸已减小至纳米尺寸,这必然要求电子元器件和微型集成电路中有较低介电常数(衡量绝缘体储存电能的性能)的绝缘介质薄膜来降低线间串扰和功耗等。纳米多孔氧化硅具有低介电常数...
王灿
关键词:PECVD介电常数弹性模量
文献传递
基于有限元法的缓冲材料缓冲性能分析被引量:1
2014年
为了研究不同质量、不同厚度条件下,发泡聚乙烯的最大加速度-静应力及缓冲系数变化情况,基于有限元法对EPE的缓冲性能进行了分析。结果表明:随着静应力的增加,即随着质量块质量的增加,最大加速度与静应力并不成正比,而是先减小后增加;随着缓冲材料厚度的增加,最大加速度与厚度也不成正比,厚度的增加并不一定能够改善缓冲材料的缓冲性能。
宋晓利张改梅王灿王俊程郑永龙
关键词:有限元方法
纳米多孔氧化硅薄膜的表征及其基于UAFM弹性性能的检测被引量:1
2018年
纳米级多孔氧化硅薄膜介电常数低,和铝复合后可以大大降低电阻损耗,是最有希望的新一代低介电材料。在纳电子器中低介电薄膜孔隙率及孔尺寸可以控制其机械性能。薄膜的弹性模量是器件设计的必需参数,然而传统方法很难在纳米尺度表征弹性模量。采用等离子体增强化学气相沉积法,以六甲基二硅氧烷为单体,氧气作为反应气体,再加入少量的有机物质在玻璃基材上沉积纳米厚度的氧化硅薄膜,再进行热处理使氧化硅薄膜中的有机成分挥发形成孔隙(以下称纳米多孔氧化硅薄膜),从而降低薄膜介电常数。结果表明氧化硅薄膜的折射率热处理后得到减小,当放电功率为100 W时,氧气与单体的比例为1∶4时,放电时间10 min沉积的薄膜热处理后的纳米多孔氧化硅薄膜的折射率最小,介电常数1.885。首次采用超声原子力显微镜技术对纳米多孔氧化硅薄膜的弹性性能进行无损检测,分别检测纳米氧化硅薄膜和纳米多孔氧化硅薄膜的前两阶接触谐振频率。以纳米氧化硅薄膜为参考试样,利用参考法计算得到纳米多孔氧化硅薄膜的压痕模量为35.24 GPa。相比纳米氧化硅薄膜的压痕模量78.18 GPa,纳米多孔氧化硅薄膜的压痕模量降低了42.94 GPa。
张改梅王灿宋晓利何存富陈强
关键词:等离子体增强化学气相沉积弹性模量
低介电常数纳米多孔氧化硅薄膜的制备及表征
本文采用等离子体增强化学气相沉积法(PECVD)及热处理制备纳米多孔氧化硅薄膜,以六甲基二硅氧烷(HMDSO)为单体,通入O掺杂,同时加入少量醚,通过辉光放电的方式形成等离子体并在玻璃基材表面沉积,从而制备出氧化硅薄膜并...
王灿张改梅宋晓利陈强张敬婷
关键词:PECVD介电常数
文献传递
PECVD法制备纳米多孔SiO_x薄膜被引量:1
2017年
目的研究基于等离子体增强气相化学沉积(PECVD)制备多孔SiO_x薄膜的方法。方法以六甲基二硅氧烷(HMDSO)为单体,并通入氧气、氩气,再加入少量的有机物质,通过辉光放电的方式形成等离子体,从而在玻璃基材表面沉积,制备出氧化硅薄膜,再在高温下进行热处理,使氧化硅薄膜中的碳氢键等有机组分被除去,形成孔隙。研究单体与氧气的比例、沉积时间、沉积功率等实验条件对沉积率、形貌、结构以及折射率的影响。结果当放电时间为10 min,放电功率为50 W,氧气与单体的体积比为1︰6时,薄膜沉积速率达到最优值,为14.6 nm/min。伸缩振动的吸收强度随着氧气含量的增加强度降低。经过热处理后,氧化硅表面的平整度得到提升,热处理后断面的形貌发生了变化,出现了断面层开裂的现象。结论通过PECVD沉积SiO_x薄膜,通过加热形成孔隙制备多孔SiO_x薄膜,能将介电常数降低到1.9以下。
曹玥王灿张改梅宋晓利陈强
关键词:折射率
《红楼梦》主题出版文创设计研究——以“红楼礼趣”中国传统节日文创设计为例
传统出版产业结合文化创意产品,将出版物中的文化元素进行提炼,对书籍内容进行设计,使“出版”和“文创”跨界融合发展。“出版文创”通过打破原本孤立的著作壁垒,对其内容资源进行整合再造,使传统出版物借助文创产品转型发展,进一步...
王灿
关键词:中国传统节日
基于有限元法的缓冲材料力学性能分析被引量:2
2014年
目的基于有限元法对发泡聚乙烯(EPE)缓冲包装材料的力学性能进行分析。方法基于有限元法研究缓冲材料的厚度、压板的施压速度对EPE缓冲包装材料的应力分布及应力应变曲线的变化情况。结果随着缓冲材料厚度的增加,最大应力从1.646 kPa逐渐减小到0.624 kPa,材料屈服点的应力从41.700 Pa逐渐降低到14.727 Pa。随着施压速度的增加,压板与EPE接触边缘的最大应力由1.646 kPa逐渐增大到8.617 kPa,应力上升开始点的应力从23.497 Pa逐渐增大到144.978 Pa。结论应力主要分布在压板与缓冲材料接触边缘。随着缓冲材料厚度的增加,最大应力逐渐减小。随着施压速度的增加,压板与EPE接触边缘最大应力逐渐增大,且EPE缓冲材料内部受力区域逐渐增大。
宋晓利张改梅王灿王俊程郑永龙
关键词:有限元分析力学性能应力
共1页<1>
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