范鲜红
- 作品数：13 被引量：34H指数：4
- 供职机构：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金中国科学院知识创新工程国家重点基础研究发展计划更多>>
- 相关领域：理学机械工程电子电信核科学技术更多>>
- 质子辐照对纯铝薄膜微观结构的影响被引量：11
- 2008年
- 利用透射电子显微镜(TEM)详细分析了不同剂量的质子辐照纯铝薄膜样品的微观结构,质子的能量E=160keV.实验表明,质子辐照能够在Al薄膜中诱发空位位错圈,在实验范围内,位错密度随辐照剂量的增加而增加;质子辐照在1×1011—4×1011/mm2范围内随辐照剂量的增加,位错圈数量密度以及位错圈尺寸都随之增加.在较高剂量6×1011/mm2辐照下,位错圈数量密度减小,但其尺寸显著增加,空位倾向于形成较大的空位簇缺陷,且样品中出现胞状结构,胞壁之间有角度很小的取向差,这种胞状结构与材料力学性能的退化关系密切.
- 范鲜红陈波关庆丰
- 关键词：质子辐照微观结构
- EuC，EuC2和YC分子的结构和稳定性的理论研究
- 本文利用量子力学处理分子问题的基本原理和方法,在相对论有效原子实势模型的基础上,应用量子化学通用的计算程序Gaussian 98 和Gamess 对稀有金属碳化物的结构和稳定性进行理论上的研究。 使用密度泛函方法和多组态...
- 范鲜红
- 关键词：B3LYPMCSCF稳定性
- 文献传递
- 质子和α粒子在铝材料中传输的Monte Carlo模拟被引量：1
- 2008年
- 为了检验应用在极紫外(EUV)波段空间太阳望远镜上Al滤光片在空间辐射环境下透过率的变化情况,我们模拟部分空间太阳望远镜运行轨道的辐射环境,应用MonteCarlo(M-C)方法对Al材料进行低能量的质子和α粒子辐照损伤模拟,计算给出了质子和α粒子辐照对Al材料产生的缺陷、电离以及声子等辐照效应,最后对结果进行了比较和分析,从而预测质子和α粒子辐照对Al滤光片性能和使用寿命的影响.
- 范鲜红陈波潘守甫
- 关键词：辐照效应CARLO方法空位缺陷
- 中心波长为13．9nm的正入射Mo／Si多层膜被引量：2
- 2008年
- 用由铜靶激光等离子体光源等组成的反射率计对自行设计的周期厚度为7.14nm的120层Mo/Si多层膜进行极紫外(EUV)波段反射率测量。由于多层膜层数增加所引起的吸收、膜层界面之间的扩散以及镀膜过程中的膜厚控制误差或表面被氧化(污染)等原因,正入射Mo/Si多层膜在13.9nm处的反射率低于理论计算值73.2%,最后用原子力显微镜(AFM)测量其表面粗糙度为σ=0.401nm。
- 范鲜红陈波尼启良王晓光
- 关键词：MO/SI多层膜反射率
- EuC分子的电子态结构和稳定性理论研究被引量：2
- 2005年
- 本文分别采用Gaussian98程序的密度泛函B3LYP方法和Gamess程序的CAS-MCSCF方法,研究了EuC分子的结构问题。两种方法均得到了12重态是EuC分子的基态的结论。基于B3LYP方法,得到12∑+态的LUMO和HOMO能量差达到3·689eV,明显的高于其他多重度的结果。基于MCSCF方法的结果显示,需要进一步的考虑相对论效应修正以及增大活性空间的尺寸将会得到对高自旋电子态更为可靠的结论。
- 范鲜红王志刚闫冰张存华潘守甫
- 关键词：B3LYPMCSCF相对论有效原子实势
- Mo/Si多层膜在质子辐照下反射率的变化被引量：8
- 2008年
- 为了检验应用在极紫外波段空间太阳望远镜上Mo/Si多层膜反射镜在空间辐射环境下反射率的变化情况,模拟了部分空间太阳望远镜运行轨道的辐射环境,利用不同能量和剂量的质子对Mo/Si多层膜反射镜进行辐照实验.辐照前后反射率测量结果显示,由于带电粒子的辐照损伤,质子辐照会使Mo/Si多层膜反射镜的反射率降低,且质子能量越低、剂量越大,对多层膜的反射率影响越明显.当质子能量E=160 keV,剂量ф=6×1011/mm2时,反射率降低4.1%;能量E=100 keV,剂量ф=6×1011/mm2时,反射率降低5.7%;能量E=50 keV,剂量ф=8×1012/mm2时,反射率降低10.4%.用原子力显微镜测量辐照后Mo/Si多层膜反射镜的表面粗糙度比辐照前明显增加,致使散射光线能量逐渐增大并最终导致反射率的降低.
- 范鲜红李敏尼启良刘世界王晓光陈波
- 关键词：质子辐照辐照损伤
- EUV波段Mo/Si多层膜反射镜和Al滤光片辐照特性的研究
- 多层膜反射镜和薄膜滤光片是极紫外(EUV)波段空间太阳望远镜的关键元件，其性能好坏影响望远镜的成像质量。望远镜工作时其反射镜和滤光片几乎是完全暴露在外层空间自然环境下，在低地球轨道条件下主要是遭受质子束的直接辐照。很多光...
- 范鲜红
- 13．9和19．6nm正入射Mo／Si多层膜反射镜的反射率测量被引量：4
- 2008年
- 为了进一步研究13.9 nm类镍银和19.6 nm类氖锗X射线激光,制备了工作在上述两个波长的Mo/Si多层膜反射镜。设计了结构简单、操作方便的小型反射率计,将其安装在Mcpherson247单色仪出射狭缝附近,以铜靶激光等离子体辐射源为极紫外光源,组建了一套适合反射率测量的实验装置,利用此装置测量了实验室制备的多层膜反射镜的反射率。测量之前对单色仪进行了标定并对光源稳定性进行了测量,结果显示,波长准确度是0.08 nm,光源信号抖动范围<5%,光源稳定性好。反射率测量结果显示,实验室能够制备出中心波长分别是13.91和19.60 nm的Mo/Si多层膜反射镜,相应反射率分别为41.9%和22.6%,半宽度为0.56和1.70 nm。同时还用WYKO测量得到13.9和19.6 nmMo/Si多层膜的表面粗糙度分别为0.52和0.55 nm。
- 李敏董宁宁刘震刘世界李旭范鲜红王丽辉马月英陈波
- 关键词：表面粗糙度
- 一种新的C_(32)异构体
- 2005年
- 我们构造出一种新的类笼形C32异构体,不包含五边形和六边形结构,具有D2h对称性。采用密度泛函理论DFT的rb3lyp方法在6 31G(d)基组水平上进行了相关计算。计算结果表明它是一种稳定的构型。
- 张存华闫冰王志刚范鲜红连科研盖志强张秀兰潘守甫
- 关键词：异构体稳定性
- 微通道板在12-40nm波段的量子效率测量被引量：10
- 2008年
- 提出了一种测量微通道板（MCP）量子效率的方法。该方法选用激光等离子体光源作为极紫外辐射源，使用传递标准探测器一硅光电二极管标定光源强度，用标定后的光照射待测MCP，采用直接测量电压来间接测量探测器输出电流，再计算出MCP量子效率。实验结果表明，在12-40nm，MCP量子效率为2％～12．3％，量子效率随波长的增大呈下降趋势。测量与误差分析表明，导致MCP量子效率测量结果变化的主要因素是光源稳定性和机械转动精度。通过与计数方式测量结果比较，进一步验证了本测量方法的正确性。
- 李敏范鲜红尼启良陈波
- 关键词：极紫外微通道板量子效率
